Способ измерения толщины гальваническихпокрытий

 

328328

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВКДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 19,Х.19?О (№ 1484786/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 02.11.1972. Бюллетень ¹ 6

Дата опубликования описания 29.III.1972

"1:1. Кл. G 01Ь 7/06

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 531.717.55 (088.8) Автор изобретения

Ю. Г. Тимеев

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ГАЛЬВАНИЧЕСКИХ

ПОКРЫТИЙ

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины и веса осаждаемого металла при электролизе.

Известен способ измерения толщины гальванических покрытий, заключающийся в том, что исследуемую и эталонную детали помещают в раствор электролита и по толщине слоя, осаждаемого на эталонную деталь, судят о толщине покрытия исследуемой детали.

Измерения толшинь; слоя, осаждаемого на эталонную деталь, в известном спосоое осуществляется по изменению сопротивления электрической цепи, одним из участков которой является эталонная деталь. Однако при этом точность измерения невысока вследствие влияния температуры на результат измерения.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, (ITO эталонную деталь, выполненную в виде пласпшы, снабжают датчиком, измеряющим деформацшо пластины, и по его сигналу судят о толщине покрытия эталонной детали.

Это позволяет повысить точность измерения.

Предлагаемый способ поясняется чертежом.

Эталонную деталь 1, выполненную в виде пластины и снабженную датчиком 2, помещают в ванну с электролитом 8 одновременно с исследуемой деталью 4. По мере осаждения металла на деталь 1 увеличиваются внутренние напряжения, которые приводят к деформации пластины и появлению сигнала с датчика 2. Сигнал поступает на электронньш регистрирующий прибор 5, шкала которого

10 предваригельно протарпрована на толщину покрытия и вес осаждаемого металла, исходя из замеров толщины покрытия деталей микрометром и веса осажденного металла при помощи точных аналитических весов.

Предмет изобретения

Способ измерения толщины гальванических покрытий, заключающийся в том, что исследуемую и эталонную детали помещают в раст20 вор электролита и по толщине слоя, осаждаемого на эталонную деталь судят об измеряемой величине, отличающийся TLM, ITO, с целью повышения точности измерения, эталонную деталь, выполненную в виде пластины, снаб25 жают датчиком, измеряющим деформацшо пластины, и по его сигналу судят о толщине покрытия эталонной детали, Редактор О. 10ркова

Составитель P. Старцева

Текред Т. Ускова

1(орректор Е. Я(аворонкова

Заказ 670/5 Изд. K 179 Тнрагк 448 Подписное

Ц1, 1 ЕПИ 1(омитета по делам изобретений и открьггий при Совете Министрэп СССР й1осква, К-35, Раушская наб., д. 4!5

Типография, пр. Сапунова, 2

Способ измерения толщины гальваническихпокрытий Способ измерения толщины гальваническихпокрытий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх