Способ бесконтактного измерения площади поперечного сечения комплексных нитей

 

ОПИСАНИЕ

324478

Союз Советсник

Социалистичесник

Респтблин

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 08.V1,1970 (№ 1447609/25-28) iiI1K G 01Ь 7/06 с присоединением заявки М

Приоритет

Комитет по делам изобретений и отнрытий при Совете Министров

СССР

1 ДК 531 717 11(088 8) Опубликовано 23.Х1!.1971. Бюллетень ¹ 2 за 1972

Дата опубликования опiic Iния 18.Н.1972

Авторы изобретения

Э. В. Кузьмин, М. М. Горбов, В. И. Горшенев, В. И. Якимов

Ю. А. Семакин и П. П. Гришин

Заявитель

СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОЩАДИ

ПОПЕРЕЧНОГО СЕЧЕНИЯ КОМПЛЕКСНЫХ НИТЕЙ

2=a/-1

ЛС—

20

Изобретение относится к области электрических измерений неэлектричсских величин и может быть использовано при разработке приборов для бесконтактного измерения площади поперечного сечения иескрученных комплексных нитей.

Известен способ измерения площади поперечного сечения комплексных нитей, заключающийся в том, что нить помещают между пластинами измерительного конденсатора, подкручивают с помощью устройства, создающего ложную крутку, измеряют приращение емкости, а о площади поперечного сечения судят по изменению емкости.

В регуляриметре системы «Устер» использована приставка «Ротафил», создающая ложную крутку для уменьшения влияния гсремещений волокон друг относительно друга и эффекта формы.

Однако известный способ при помощи приставки «Ротафил» понижает точность измерения вследствие деформации нити и не позволяет производить измерение в технологическом процессе.

Цель изобретения — повышение точности и автоматизации измерения нескрученных комплексных нитей. Для этого по предлагаемому способу комплексные нити перед измерением электризуют до такой величины, при которой кулоиовы силы раздвигают волокна иа расстояние, намного превышающее Iix диаметр, ири этом ширину измерительного конденсатора выбирают большей произведения числа волокон на расстояние между ними.

Предлагаемый способ поясняется чертежом.

Нескрученная комплексная нить с волокнами 1 — 4 помещается в измерительный конденсатор с пласпшами 5 и 6. При таком способе

10 измерения приращение емкости от внесения комп,чекспой ии ги можно определить llo форм 1,. 1 е. где L — длина измерительного конденсатора (перпендикулярно чертежу);

Н вЂ” расстояние между пластинами преобразователя;

Г, R — площадь поперечного сечения и радиус волокна;

d — расстояние между центрами во 1025 кон; е. — относительная диэлектрическая ггроипцаемость; ео — диэлектрическая проницаемость.

Под влиянием электризации волокна QT1 ал30 киваются друг îт друга.

324478

Составители А. Духанин

Техред Е. Борисова

Корректор T. Китаева

Редактор Т. Киселева

Заказ 807,!2 Изд. ¹ 8 Тирани 448 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изооретеиий и открытий при Совете Л!ииистров CCCP

Москва, Ж-35, Раусискаи иао., д. 4 5

Типографии, пр. Сапунова, 2

При R«d влияние перемещения волокон друг относительно друга вызывают незначительное изменение приращения емкости, и, следовательно, малую погрешность измерения.

Электризацию волокон нескручепной комплексной нити можно осуществить, например, с помощью ситалловой палочки.

Предмет изобретения

Способ бесконтактного измерения площади поперечного сечения комплексных нитей, заключающийся в том, что между пластинами измерительного конденсатора помещают комплексную нить, измеряют емкость измерительного конденсатора, а о площади попереч5 ного сечения судят по изменению емкости, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и автоматизации измерения, комплексные нити перед измерением электризуют трением о диэлектрический или металличе10 ский стержень.

Способ бесконтактного измерения площади поперечного сечения комплексных нитей Способ бесконтактного измерения площади поперечного сечения комплексных нитей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх