Оптический дефектоскоп

 

.% 98163

Класс 42h, 35;

СССР

I )

I )

)

° )) ) 7 )

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Д. В. Гаврилов

ОПТИЧЕСКИЙ ДЕФЕКТОСКОП

Заявлено 24 мая 1951 г аа х 059241447688

11редлягаемый оптический дефектоскоп отличается от аналогичных дефектоскопов тем, что он снабжен тороидной линзой и установ,7еппым в ее отверстии коническим отражателем. Линза и отражатель при исследовании прозрачных листовых материалов располагаются между осветителем и листом.

Эти отличия дефектоскопя обеспечивают вход лучей в испьггывяемый лист под углями, большими угля H07tioto внутреннего отрягження.

На фиг. 1 изображена схема прибора в продольном разрезе; на фиг. 2 — схема отражения и пре,Томления лучей в дефсктоскопе, Осветит(!I h (электрол (!ми(! ) 1 помещен в;(утри сферического мета. (. I I!I(cêoÃÎ кож ) х(1 2, BH) тРС!1:(Я(1 3(Рк(1. 11):(ЯЯ (IQB(. P (HocTh 1(отОР ОГО ) служит рефлектором. В середину тороидной конденсаторной линзь: ) вклеен конический стеклянный отражатель 1. Линза «отражателем укрсплены в кожухе винтами 5. Держатель 6, B котором крспнт«я патрон с элct Tðo;IHìf(OA 1, может с помо цью гайки 7 опускаться и пОд! Iимяться Г10 ня(1ряв 1>(юше(1 Втулкс (). Таких(Образо;,1 реГу,)1)руетв ы с о Т е В 1 ж и м н О е H 0 7 h U 0 7 «, 1 X >f(H для кр(плсния втулки с держателем лампы HB кожухе

1 IpH испытЯ(! Ии матери((ля тороиднЯЯ, (инзя дефектоскОПЯ «1 !1 вl!1— ся ня смоченную водой полированную повсрхность обработанно!о с

)двмх cTopoH llpoBp (!ч ((ОГО, Iист(1 10, JI> IH светл QT электролампы 1, отраженные коническим отряжяГслсм 4 и про(ведшие тороиднуlo линзу 3, падают внутрь ли«TH под х глямп, большими чем угî7 полногÎ внутреннег0 отряжсllHII. HH фиг. 2 B К I)t(«TBC примера показан ход четырех лучей (а, о, (), я), пдуп(и) 0 (св(Tft fl((!lest точки H Отр (же((ных оТ кож).х<1 2 H oT Отр;1;к(lт(.ля -1 Лучи пе выходят пз листа 10 за исключением мест, где имеются какl((э —.1 И 00 Внутре пни(. П01>окп или дефекты Обр я бОтк!! ПО В(р хиос l H.

1)лягодаря )Toìó «!Heò кажется не осве(ненн(!м и только дефек)пыс

>f(("(;I выделяются в виде пятен рассеянного света. № 98163

Предмет изобретения

Оптический дефектоскоп для просмотра дефектов обработки и внутренних пороков прозрачного листового материала, имеюший освепитель, устанавливаемый над контролируемым листом, о т л и ч а ющийся тем, что, с целью обеспечения входа лучей от осветителя в испытываемый материал .под углами, большими чем угол полного внутреннего отражения, он снабжен тороидной конденсаторной линзой и установленным в ее отверстии коническим отражателем. Комитет по делам изобретений и открытий прн Совете Министров СССР

Редактор Л. М. Струве

Информационно-издательский отдел. Поди. к печ. 26/VI-1959 r.

Объем 0,34 и. л. Заказ 4412. Тираж 360. Цена 50 коп.

Гор. Алатырь, типография № 2 Министерства культуры Чувашской АССР»

Оптический дефектоскоп Оптический дефектоскоп Оптический дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, таких как топливные таблетки атомных электростанций

Изобретение относится к контролю качества поверхности оптическими методами и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали

Изобретение относится к устройствам для контроля геометрических размеров и дефектов типа посечек, сколов, трещин стеклоизделий

Изобретение относится к телевизионной микроскопии и может быть использовано в промышленности при автоматизации контроля качества и, особенно, криминалистике для проведения баллистических экспертиз пуль стрелкового оружия, а также создания и хранения банка данных пулетек для последующей идентификации оружия по следам на пулях

Изобретение относится к контролю качества поверхностей твердых тел оптическими методами, а именно к обнаружению дефектов и микрообъектов на плоских поверхностях проводящих и полупроводящих изделий путем регистрации эффективности возбуждения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), и может найти применение в оптическом приборостроении, экологическом мониторинге, в физических, химических, медико-биологических и других исследованиях

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения

Изобретение относится к исследованию и анализу физического состояния объектов сложной формы с помощью оптических средств, в частности к определению рельефа таких объектов, как стреляные пули и гильзы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики усталостного износа металлоконструкций (МК) и прогнозирования остаточного ресурса
Наверх