Устройство для бесконтактного измерения деформации стеклянных образцов
О П И СА Н И Е
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
299788
Союз Соввтских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства .чо
Заявлено 07.Х.1968 (№ 1279350/29-33) с присоединением заявки Х
Приоритет
Опуоликовано 26.111,1971. Бюллетень М 12
Дата опубликования описания 23.1Ъ .1971
МПК G 01п 21!58
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
УДК 6 20.1.173(088.8) ! г- ъ Л . IJ Л Я
1г г " т
Г. С. Пугачев н Л. Д. Воловец ltd °
I t . .:
Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффт*—
Авторы изобретения
Заявитель
УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ
ДЕФОРМАЦИИ СТЕКЛЯННЫХ ОБРАЗЦОВ
Изобретение может быть использовано для измерения деформаций образцов при испытании на изгиб, растяжение или сжатие.
Известные устройства содержат рабочую камеру с нагружающим органом, проектор и измерительный механизм.
Цель изобретения — повысить точность измерения.
Это достигается тем, что |нагружающий орган жестко связан с объектом, а измерительный механизм выполнен с фотоэлектрическими преобразователями, включенным в мостовую схему с нуль-индикатором.
1Ia фиг. 1 изображено предлагаемое устройство; на фиг. 2 — фотоэлектрические преобразователи.
Предлагаемое устройство содержит осветитель 1 с лампой 2, нагружающий орган 8, который через осветитель 1 с помощью стоек
4 и гаек 5 жестко связан с кольцом 6 и объективом 7, рабочую камеру 8 с опорой 9, на которой испытывается образец 10, переходное кольцо 11 основания 12 и зеркало 18.
В нагружающем органе и рабочей камере предусмотрены герметичные иллюминаторы
14 и 15, снабженные уплотнительными прокладками 16 и 17. Поджимающие гайки 18 и
19 обеспечивают герметизацию иллюминаторов. Нагружающий орга|н соединен с крышкой
20 камеры 8 при помощи мембраны 21.
Герметизация камеры 8 позволяет создать в ней разрежение порядка 10- - тор.
В крышке камеры имеется направляющий стакан, по которому перемещается осветитель 1. Направляющий стакан создает строго осевое перемещение нагружающего органа, например, пуансона.
Образец с контрольными метками размещается на опоре таким образом, чтобы,в иллюминатор пуансона были видны контрольные мегки. Затем в рабочей камере создается ва. куум, после чего, пуансон нагружается по заданной программе.
Проектируемое теневое изоб ражсние контро lI III Ix меток на правляется |срез об ьектив с увеличением в 150 раз на измерительные фотоэлектрические преобразователи 22.
Фотоэлектрические преобразователи 22 ориентируются относительно изображения меток таким образом, что B мостовой схеме устанавливается баланс токоэ, который регистрируется индикатором нуль-баланса. Преобразователи укреплены на двух не связанных микрометрических винтах 28, установленных с возможностью перемещения,по направляю щпм 24 вдоль измерительной линейки 25.
Перемещая преобразователи 22 относительно проекций контрольных точек и добиваясь при этом установления в измерительных цебо пях балансов тока, фиксируют 4 — расстоя299788 ние между ои стемами фотопреобразователей.
При последующем нагружении в результате деформации образца прои сходит перемещение контрольных точек, что вызывает разбала нсировку схемы, Вращая ми крометрические винты, возвращают схему к балансу.
При этом перемещение преобразователей 22 пропорционально измеряемой деформации Л/, разности показаний на 2-х мищрометри веских винтах до и после нагружения.
Относительная деформация образца определяется ка к е= 100 .
Л(О è
Общая ошибка в измерении относительной деформации (при в=0,02) составляет около 4%.
5 Предмет изобретения
Устройспво для бесконтактного измерения деформации стеклянных образцов, содержащее рабочую камеру с .нагружающим органом, проектор и измерительный механизм, от10 личающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, нагружающий орган жестко связан с объективом, а измерительный механизм .выполнен с фотоэлектрическими преобразователями, включенными в мост-схему
15 с нуль-индикатором.
299788
Фиг. 2
Составитель Ю. Калланова
Текред А. А. Камышникова Корректор Л. А. Царькова
Редактор С. Ежкова
Типография, пр. Сапунова, 2
Заказ 962/2 Изд. Хе 421 1ираж 473 Подписное
1 НИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров (. ССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4,5


