Датчик для определения концентрации взвешенныхнаносов
ОПИСАН ИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
2979I5
Союз Соеетсиик
Социалистическнл
Республик
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 04.VIII.1967 (№ 1177801 26-25) МПК С Oln 27/22 с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 111II.1971. Бюллетень № 10
Дата опубликования описания 13Х.1971
Комитет по делам иаобретеииИ и открытиИ при Совете Мииистрое
СССР
УДК 543 722(088.8) Автор изобретения
Ю. М, Романенко
Заявитель
ДАТЧИК ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ВЗВЕШЕННЫХ
НАНОСОВ
Известные датчики для определения концентрации наносов, содержащие автономные и общую обкладки, включаемые в системы резонансных контуров автогенераторов, в условиях зависимости электрических параметров контролируемой среды от частоты и температуры при изменении последней в широком диапазоне не обеспечивают достаточной точности измерений.
Целью изобретения является создание такой конструкции датчика, которая позволила бы повысить точность измерений в условиях зависимости контролируемых характеристик вещества от частоты и температуры. Достигается это тем, что общая обкладка предложенного датчика выполнена с углублениями на ее внешней поверхности, в которых размещены электроды автономных обкладок, причем каждая из этих обкладок расположена на различных сторонах общей обкладки. Кроме того, общая обкладка имеет заполненную эталонным веществом полость, в которой зафиксирована дополнительная обкладка, причем характеристики эталонного вещества выбираются из условий оптимальной компенсации температурной погрешности измерений.
При такой конструкции датчика исключается автосинхронный .захват частот автогенераторов, в системы автоколебательных контуров которых включен датчик. Это позволяет возбуждать поляризующие контролируемую среду электромагнитные поля на близких частотах и тем самым снижать частотную погрешность измерений, а также существенно уменьшать тем5 пературную погрешность при комплексной зависимости электрических параметров среды от температуры и частоты.
На чертеже изображен описываемый дат10 чик.
Общая обкладка 1 датчика имеет углубления 2, заполненные диэлектриком, в котором зафиксированы электроды 8 автономных обкладок. Общая обкладка 1 имеет полость 4, 15 заполненную эталонным веществом, в котором зафиксирована дополнительная обкладка 5.
В простейшем случае каждая из обкладок может состоять из одного электрода. Полость 6 предназначена для размещения в ней выводов
20 (на чертеже не показаны), а также входных элементов вторичной аппаратуры в случае конструктивного совмещения их с датчиком. Штуцер 7 предназначен для крепления кабеля, соединяющего датчик с измерительной аппа25 ратурой.
jI,àò÷èê может быть использован для определения не только концентрации взвешенных наносов, но и благодаря возможности разделения составляющих полной проводимости контро30 лируемой среды их содержания.
297915
Предмет изобретения
Составители М. В, Пантелеева
Редактор Е. С. Братчнкова Техред Е. Борисова Корректор Т. А. Абрамова
Заказ 1158/3 Изд. М 485 Тираж 473 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская паб., д. 4/5
Типограф>ия, пр. Сапунова, 2
При помощи описываемого датчика можно определить и другие характеристики вещества, зависящие от его диэлектрических параметров, например влажность сыпучих материалов, соотношение компонентов растворов и т. д.
1. Датчик для определения концентрации взвешенных наносов, содержащий одну общую и две автономные обкладки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений в условиях частотной зависимости диэлектрических параметров контролируемого вещества, его общая обкладка имеет углубления на противолежащих сторонах, в которых расположены электроды автономных обкладок, причем на каждой из имеющих углубления сторон
5 общей обкладки размещены электроды одной из автономных обкладок.
2. Датчик по п. 1, отличающийся тем, что, с целью уменьшения температурной погрешности в условиях комплексной зависимости элек1о трических параметров контролируемого вещества от температуры и частоты, общая обкладка имеет заполненную эталонным веществом полость, в которой расположена дополнительная обкладка,
