Источник питания измерителя надежности диодов

Авторы патента:

G01R31/26 - испытание отдельных полупроводниковых приборов (измерение содержания примесей G01N)

ОП ИСАН ИЕ

И ЗОБ РЕТЕ Н И Я

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

28600I

Зазиспмос от а вт. саи детелыст ва ¹â€”

Заявлено 16.Ч1.1969 (№ 1337291/26-9) с присоединением заявки №вЂ”

ПриоритетвЂ”

Опуоликовано 10.Х1.1970, Бюллетень ¹ 34

Дата опубликования описания 1.VI.1971

Кл. 21а, 71

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

МПК G 01r 31/26

УДК 621.317.614 (088.8) и" -совзнаки ! .1; ° ..т1 i йч ° 1 (.т.ll 1 1,".

Б1 1 ЬЛ 1 ОТ Е КА

Авторы изобретения

М. 3. Белинский, И. 3. Гуревич, Ф. Н. Окунев и Г. Н. Смирнов

Заявитель

ИСТОЧНИК ПИТАНИЯ ИЗМЕРИТЕЛЯ НАДЕЖНОСТИ ДИОДОВ

Изобретение относится к области радиотехники, а именно к источникам питания.

Известны источники питания, применяемые в установках надежности для получения режима испытания, состоящие:из генераторов 5 постоянного тока вЂ”,прямого тока и обратного нап,ряжения.

Известные установки не позволяют испытывать импульсные, диоды в режиме электрической импульсной нагрузки, так как,не имеют 10 соответствующих;исто гников питания.

Цель изобретения вЂ” повышение достоверности данных по надежности испытуемых диодов.

Для этого предлагаемый источник снабжен 15 двумя генераторами прямоугольных импульсов, где оба генератора ра ботают от общего задающего автоколебательного блокинг-генератора совместно на один из:испытуемых диодов и содержат ждущие блокинг-генераторы, 20 соединенные через катодные повторители с им-, пульсными усилителями.

На чертеже представлена блок-схема, предлагаемого источника питания.

Источник содержит задающий блокинг-ге- 25 нератор 1, соединенный со ждущим блокинггенератором 2, работающим на цепь генератора тока, состоящую из катодного повторителя

3, усилителя-формирователя 4, катодного повторителя 5, токозадающего элемента б. За- Зо дающий блокинг-генератор 1 подключен также к ждущему блокинг-генератору 7 через линию задержки 8.

Блокинг-генератор 7 работает на цепь генератора напряжения, состоящую из катодного повторителя 9, усилителя-формирователя 10, катодного повторителя 11, инверсного каскада 12.

Выходы токозадающего элемента б и инверсного каскада 12 подключены к коммутирующему устройству l8 и к,схеме сигнализации. Коммутирующее устройство 13 соеди|непо с измерителем и испытуемым .диодом 14.

Источник питания работает следующим оор азом.

Блокинг-генератор 1 вырабатывает короткие (0,1 мксек,) прямоугольные положительные импульсы с частотой следования 1 кгтт.

Этими импульсами запускаются блокинг-генератор 2, в котором задается длительность импульса прямого тока, и,с задержкой блокинггенератор 7, где задается длительность имгульса обратного напряжения. Таким образом, имеются два канала, импульсы которых следуют во времени один за другим.

Далее импульс токового канала блокинг-генератор 2 проходит через катодный повторитель 3, работающий,на усилитель-формирователь 4, улучшающий прямоугольность импульса.

286001 л )

Составитель В. Бровкнн

Редактор А. В. Корнеев Текред А. А. Камышникова Корректор Л. A. Царькова

Заказ 8109 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Мигиистров СССР

Москва, Я(-35, Раушская наб., д, 4/5

Областная типография Костромского управления по пецати

Число последующих повторителей б определяется числом испытуемых диодов. Канал импульса обратного напряжения идентичен токовому каналу; добавлен только инверсный .каскад 12. 5

Таким образом, испытуемый диод l4 подвергается воздействию прямого;импульсного тока и обратного импульсного напряжения.

Предмет изобретения 10

Источник питания измерителя надежности диодов, содержащий усилители, генераторы и катодны е и о втор ител и, отличающийся тем, что, с .целью повышения достоверности дан- 15 ных по .надежности испытываемых диодов, в источнике использован задающий генератор, подключенный к генератору тока, выполненному из последовательно соединенных катодных повторителей, усил ителя-фор|м ирователя и токозадающего элемента,,через ждущий генератор, а к генератору напряжения, выполненному из последовательно соединенных катодных,повторителей, усилителя-формирователя и инверсного каскада, через линию задержки и другой ждущий генератор, при этом упомянутые токозадающий элемент и .инверсный каскад соединены с общим коммутирующим устройством.

Устройство для разбраковки изделий // 285122

Полуавтомат для разбраковки изделий // 285121

Устройство для измерения коэффициента усиления // 285099

Способ измерения тока закрытого коллекторного перехода транзистора // 283417

Способ измерения электрических параметров тупнельных диодов // 280681

Устройство для визуального наблюдения вольтамперных характеристик л—л-перехода // 280679

Устройство для проверки полупроводниковыхдиодов // 277954

Устройство для измерения знакопеременности обратного тока полупроводниковых приборов // 276258

Патентно- •: -^xxim'^i'^-"лл »"' vuw tt.xim'51'^--- ^биииотека // 275233

Способ измерения падения напряжения на полупроводнике в мдпдм-структуре и устройство для его осуществления // 2101720

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Устройство для определения электрофизических параметров полупроводниковых пластин // 2101721

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Способ контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления элементов с вольтамперной характеристикой s-типа и устройство для его осуществления // 2105989

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Устройство для определения качества изготовления тиристоров // 2112989

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Установка для испытаний на радиационную стойкость // 2112990

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Способ определения поверхностного изгиба зон полупроводника s в мдп-структуре // 2117956

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Устройство и способ измерения поверхностного сопротивления полупроводниковых пластин // 2121732

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Установка для испытаний на радиационную стойкость // 2128349

Устройство для контроля светодиодов // 2130617

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Устройство диагностирования тиристорного преобразователя // 2133042

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим