Патентно- •: -^xxim'^i'^-"лл »"' vuw tt.xim'51'^--- ^биииотека

Авторы патента:

G01R31/26 - испытание отдельных полупроводниковых приборов (измерение содержания примесей G01N)

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

275233

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 15ЛЧ.1969 (№ 1324766!26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано ОЗ.VII.1970. Бюллетень № 22

Дата опубликования описания 13.Х.1970

Кл. 21д, 11/02

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

МПК Н 011

УДК 621.382.333.34 (088.8) УСТРОЙСТВО ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОЙ КЛАССИФИКАЦИИ

ТИРИСТОРОВ ПО НАПРЯЖЕНИЮ ВКЛЮЧЕНИЯ

Изобретение относится к полупроводниковой автоматике.

Известны классификаторы тиристоров по напряжению включения, в которых импульсы увеличивающейся амплитуды, устанавливаемой вручную, поступают на испытуемый тиристор до момента включения тиристора.

Амплитуда напряжения включения, измеренная вольтметром, определяет тип тиристора.

В известном устройстве установка пределов классификации затруднена, а уточнение ее приводит к усложнению схемы и снижению надежности.

11ель изобретения вЂ” автоматизация классификации тиристоров по напряжению включения и повышение точности измерений.

Для этого параллельно испытуемому тиристору подключена цепочка из последовательно соединенных полупроводникового диода и конденсатора, общая точка которых подсоединена к выходу усилителя. Выходы счетчика импульсов через логическую схему «И» подключены к усилителю напряжения. Сигнал с выхода усилителя задает уровень напряжения соответствующей группы классификации.

На чертеже показана принципиальная схема устройства, содержащая генератор импульсов 1, счетчик 2 импульсов, усилитель 8, диод 4, логические схемы «И» б, б, переменные сопротивления 7, 8, испытуемый тиристор

9, конденсатор 10.

В исходном состоянии счетчик 2 показывает «О». Импульсы с генератора 1, ограничен5 ные диодом 4 на уровне 1„поступают на испытуемый тиристор 9 и на вход счетчика 2 выполненного. например, на коммутаторном декатроне. Напряжение, пропорциональное напряжениям классификационных групп, сни10 мается с сопротивлений 7, 8 счетчика и через линейный усилитель 8 заряжает конденсатор 10.

Если при некотором напряжении U, на конденсаторе, соответствующем напряжению

1S включения данной группы, испытуемый тиристор не включится, то показания счетчика 2 увеличатся на единицу и конденсатор зарядится до напряжения, соответствующего следующей группе классификации. Если испыту2о емый тиристор 9 включится, то поступление импульсов на вход счетчика прекратится, и счетчик зафиксирует тип тиристора, соответствующий данной группе классификации.

Световая индикация типа тиристора осу25 ществляется с помощью декатрона или цифровой лампы.

Описываемое устройство позволит повысить производительность классификации при серийных измерениях в производственных условиях.

275233

Предмет изобретения

Составитель 3. С, Челнокова

Редактор Т, 3. Орловская Техред А. А. Камышникова Корректор А. И. Зимина

Заказ 288777 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открыгий при Совете Министров СССР

Москва, К-35, Раушская наб., д, 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Устройство для автоматической классификации тпристоров по напряжению включения, содержащее генератор, счетчик импульсов, усилитель, отлича ошееся тем, что, с целью уточнения пределов классификации, параллельно испытуемому тирис ropy подключена цепочка последовательно соединенных диода и конденсатора, общая точка которых подсоединена к выходу усилителя.

Патентно- •: -^xxim^i^-лл » vuw tt.xim51^--- ^биииотека

Способ определения максимальной л1гновенной // 274234

Способ измерения теплового сопротивления полупроводниковых приборов // 274233

Полуавтомат для разбраковки транзисторов по величине и стабильности обратных токов при повышенной температуре // 273004

Устройство для установки диодов в гнезда // 270844

Способ испытаний на циклостойкость силовых полупроводниковых приборов // 270079

Устройство для подключения диодов таблеточного типа к блоку измерений // 266872

Устройство для измерения среднего значения // 262276

Устройство для измерения параметров полупроводниковых приборов // 258466

Способ определения резонансных частот // 258462

Способ измерения падения напряжения на полупроводнике в мдпдм-структуре и устройство для его осуществления // 2101720

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Устройство для определения электрофизических параметров полупроводниковых пластин // 2101721

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Способ контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления элементов с вольтамперной характеристикой s-типа и устройство для его осуществления // 2105989

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Устройство для определения качества изготовления тиристоров // 2112989

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Установка для испытаний на радиационную стойкость // 2112990

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Способ определения поверхностного изгиба зон полупроводника s в мдп-структуре // 2117956

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Устройство и способ измерения поверхностного сопротивления полупроводниковых пластин // 2121732

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Установка для испытаний на радиационную стойкость // 2128349

Устройство для контроля светодиодов // 2130617

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Устройство диагностирования тиристорного преобразователя // 2133042

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим