Абсорбционный анализатор

 

28QO5I

Gaea Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено ОЗЛ.1967 (№ 1207403/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 26Х!11.1970. Бюллетень № 27

Дата опубликования описания 29.1.1971

Кл. 42l, 4/13

42l, 3 08."! (ПК G 01п 21/20

УДК 543.27.543,432 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Автор изобретения

А. О. Салль

Заявитель Специальное конструкторское бюро аналитического приборостроения

АН СССР

АБСОРБЦИОННЫЙ АНАЛИЗАТОР

Известны абсорбционные анализаторы, содержащие анал((тическу(о ячейку и вторичные приборы. Voìïåíñnðó(oùåå устройство в них выполнено в виде диафрагмы (заслонки), экранпрующей часть потока излучения. При измспешп! состава смеси подбирспот такое положение диафрагмы, чтооы регистрируемая с помощью приемника (приемппков) излучения разность сравниваемых потокоз поддер кивалась равной нулю. Каждому значенщо концентрации определяемого компонента в анализируемой смеси соответствует определенное положение диафрагмы в оптическом канале.

При использовании в осесимметричных (в частности, цилиндрических) оптических каналах источников излучения с размерами, меньшими диаметра окна, освещенность в пределах поперечного сечения потока трудно сделать одинаковой. При этом распределение освещенности в пределах потока хотя и обладает обычно осевой симметрией, но зависит от расстояния от оптической оси канала.

Поэтому применяемая в настоящее время в таких абсорбционных анализаторах диафрагма с прямолинейным перемещением обусловливает нелинейную зависимость изменения потока от величины перемещения. Подбор конфигурации диафрагмы с целью хотя бы частичного выпрямления шкалы приводит к резкому усложнению EIBcTpoHKH и эксплуатации прибора, а также и невоспропзводпмост(: показаний прп сз(епе элез(с((тов оптп-(ескоп схемы.

Для упрощения конструкции и повышеш(я надежности в предлагаемом анализаторе компенсирующее устройство имеет форму кругоВого сектора и i станов Ipno тт!кпз! Оор азов(, чтобы оптическая ось прибора проходила через пересечение рад;(усов сектора.

Компенсирующее устройство может быть выполнено в виде камеры, имеющей форму сектора и заполненной поглощающим рабочее излучеппе веществом.

Толщина камеры компепс",òîðà пеод шакова в различных местах сектора, что позволяет получить;щпсйпую зависимость угла поворота диафрагмы от концентрации газа.

На фпг. 1, 2 и 3 представлены paa;(nvn((e варианты выполнения предлагаемого анализатора.

Компепсатор (диафрагма) представляет собой пластину! (фиг. 1), имеющую форму кругового сектора (2 и 8 — рабочая и сравнптелы(ые камеры) . Точка пересечения радпуов ограп(! п(ва(ощп этот сектор находится на оси оптического потока, являющейся геометрической осью вращения диафрагмы.

Диафрагма мо.кет быть полностью непрозрачной и частично прозрачной. 1-1еобходпмые

30 спектральные характеристики пропускаппя, 280051

Предмет изобретения

Фиг 3 ?иг >

Составитель М. Пантелеев

Техрсд Т. П. Курилко

Корректор А. П. Васильева

Редактор Н. Громов

Изд. М 26 Заказ 17/1 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 излучения обеспечиваются подбором материала, из которого выполнена диафрагма. Для сведения погрешности абсорбционного анализа к минимуму спектральная характеристика диафрагмы должна максимально приближаться к спектральной характеристике определяемого компонента в рабочей камере.

С этой целью диафрагму можно заменить компенсирующим устройством другого типа— секторной камерой (фиг. 2), полость 4 которой заполнена смесью с известным постоянным содер калием определяемого компонента, а окна 5 выполнены и виде прозрачных секторов.

Однако такой анализатор згожет в некоторых случаях дать заметную нелинейность в зависимости от изменения потока от угла поворота компенсирующего устройства. Для устранения этого в однопоточпом приборе необходимо изменять только сравнительную 2О часть потока (в двухпоточном приборе— сравнительный поток) без изменения излучения, пропускаемого черсз анализируемую смесь. Это можно осуществить, используя два секторных устройства б и 7 (фиг. 3): две 25 диафрагмы или секторную камеру с диафрагмой. По крайней мере одно из этих устройств должно иметь возможность поворота вокруг оптической оси. Степень диафрагмпрования (экрапированпя) части потока (одного из по- 30 токов в двухпоточном приборе) прп повороте изменяется. Минимальное дпафрагмированпе части потока (сравнительного потока в двухпоточном приборе) имеет место при пало кении секторных устройств б и 7. При повороте 35 одного из секторных устройств пли обоих поток уменьшается. Если при этозг коэффициент пропускания излучения секторными устройствамп одинаков в пределах освещаемой излучением поверхности, то изменение потока или его части происходит практически пропорционалbIIO углу поворота, так как освещенность по сечению потока обы шо имеет осевую симметрию.

Для болсе полного выпрямленпя шкалы анализатора целесообразно, чтобы пропускание излучения секторным компенсирующим устройством зависело от угла в соответствии с нелинейпостью закона поглощения излучения определяемым компонентом. Этого мо.кпо достигнуть, подбирая соответствующим образом толщину в разпых частях сектора.

1. Лбсорбционный анализатор, содержащий аналитическую ячейку с компенсирующим устройством и вторичные приборы, отличаюгггггйся тем, что, с целью упрощения конструкции анализатора и повышения его надежности, компенсирующее устройство имеет форму кругового сектора и установлено таким образом, чтобы оптическая ось прибора проходила через пересечение радиусов сектора. -:,44

2. АHàëIIçàòîð по и. 1, отличагошггйгся тем, что компенсирующее устройство выполнено в виде камеры, имеющей форму сектора и заполненной поглощающим рабочее излучение веществом.

3. Анализатор по п. 2, отличагощггггся тем, что, с целью получения линейной зависимости угла поворота диафрагмы от концентрации газа, камера компенсатора имеет неодинаковую толщину в различных частях сектора.

Абсорбционный анализатор Абсорбционный анализатор 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх