Способ бесконтактного измерения толщины листового металла

 

ОП ИСАНИ Е ((()gygg4)

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистииеских

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свнд-ву (22) Заявлено15.01,68 (21) 1287014/25 28 (51) М. Кл.

G 01 В 7/06 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 25„06,76Дюллетень _#_e 23

Гасударственный комитет

Соаата Иинистроа СССР по делам иэаорвтений и открытий.1 (е(8) с

{45) Дата опубликования опнсання05.07.76 о ,( (72) Авторы изобретения ф. И. Коломойцев, Н. П. Быстряков и Е. М. (71) Заявитель

Днепропетровский государственный университет им, 300летия воссоединения Украины с Россией (54) СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ

ТОЛШИНЫ ЛИСТОВОГО МЕТАЛЛА

Известные способы бесконтактного измерения толщины листового металла при помощи бег „и:; электромагнитных волн

СВЧ-диапазона, которыми облучают контролируемый металл, имеют низкую точность из-за влияния на результаты измерений поперечных перемещений контролируемых листов, В описываемом способе это устранено за счет того, что отраженную от поверхности листового металла волну с помощью пиркулятора направляют на его противоположную поверхность, измеряют параметры этой вторично отраженной волны, по которым судят об измеряемой толщине..На чертеже изображена схема устройства, для реализации описываемого сйособа.

Устройство содержит источник 1 бегущих электромагнитных волн СВЧ-диапазо. на линию передачи 2, фззовыйдетектор 3..

Сущность способа заключается в следующем.

Электромагнитная волна от источника

1 электромагнитных волн последователь но облучает с обеих сторон через линию передачи 2 измеряемый лист 4, Отражен ная от второй (по пути следования волны, который на чертеже указан стрелками)., поверхности листа 4 волна поступает на фазовый детектор 3, куда также поступа ет опорная волна от источника 1, Разщ l ность фаа между атнма волнами, намеоен ная фаэовым детектором 3, зависит от соотношения проходимых ими расстояний, т.е. от толщины измеряемого листа, и не завпсит от перемещения самого лис та 4, так.как при перемещении листа от . носительно облучающих антенн (на чертеже не показаны) общая электрическая длина пути электромагнитных волы не меняется.

Формула изобретения

Способ бесконтактного, измерения толщины листового металле, заклк чающийся в том, что металл облучают бегуСоставитель В. Мазина

Гехред Г. Родак Корректор И. Гоксич

Редактор Н. Коган

Заказ 1797/259 Тираж 864 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент", r. Ужгород, ул, Проектная, 4

273941 3 щей электромагнитной волной СВЧ-диапазона, отличающийс» тем, что, с целью повышения точности измерений и увеличения диапазона измеряемых толщин, отраженную от поверхности листового металла волну с помощью циркулятора направляют íà его противоположную поверхность, измеряют параметры этой вторично отраженной волны, по которым судят об измеряемой толщине.

Способ бесконтактного измерения толщины листового металла Способ бесконтактного измерения толщины листового металла 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх