Способ контроля толщины изделий из

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

270258

Союз Соеетскнк

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 31.ХН1964 (№ 936064/25-28) Кл. 42b, 12/03 с присоединением заявки №

Комитет по делам изобретений н открытий ори Сосете Министров

СССР

МПК G 01b

УДК 531.717.55.082 (088.8) Приоритет

Опубликовано 08.Ч.1970. Бюллетень № 16

Дата опубликования описания 18.Ч111.1970

Авторы изобре1ения

И. Г. Матис и Э. Э. Клотиньш

Институт механики полимеров АН Латвийской ССР

Заявитель

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ИЗДЕЛИЙ ИЗ

ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ

15 дС, дС. где и — чувствительность к измедя д= нению диэлектрической проницаемости материала;

Си„С., — начальные значения емкостей при среднем значении диэлектрической проницаемости и среднем значении толщины контролируемого объекта, отношение сигналов (емкостей) обоих преобразователей зависит исключительно о т контролируемого параметра— толщины.

Таким образом, при измерении толщины диэлектрически. материалов применение преобразователей, обеспечивающих в определен30 ном диапазоне.параметров равенство относиИзвестны способы контроля толщины изделий из немагнитных нетокопроводящих изделий, заключающиеся в том, что контролируемый объект приводят в соприкосновение с накладными емкостными преобразователями, обладающими различной глубиной проникновения поля.

Предложенный способ отличается от известных тем, что применяют преобразователи, обеспечивающие равенство относительных изменений емкости от изменения диэлектрической проницаемости д . С д . С д- да о толщине изделия судят по отношению сигналов (емкостей) преобразователей С,/С,.

Такой способ позволяет устранить погрешность, вызванную изменением диэлектрической проницаемости материала.

Способ контроля толщины изделий из диэлектрических материалов заключается в следующем.

Контролируемый объект приводят в соприкосновение с двумя емкостными преобразователями, обладающими различной глубиной проникновения электрического поля. Поле одного преобразователя проникает через весь контролируемый объект, и его емкость зависит от толщины объекта и диэлектрической проницаемости. Поле второго преобразователя проникает на небольшую глубину поверхностного слоя контролируемого объекта, и поэтому емкость второго преобразователя практически зависит только от диэлектрической проницаемости.

Математический анализ покззываег, что при равенстве относительньгх изменений емкостей преобразователей от изменения диэлектрической проницаемости д . С д . С д= д=

270258

Предмет изобретения

Составитель В. Иванова

Редактор Л. В. Калашникова Тсхред А. А. Камышникова Коррсктор Л. С. Веденеева

Заказ 2217/2 Тираж 480 Подписное

111!ИИП11 Комитста но аслам изобретсни!! и открьггий нрн Совете Министров СССР

Москва, )К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, нр. Сапун ва, 2 тельных изменений емкости от пзмецсш!я диэлектрической проницаемости

С вЂ” С-. С и1— а отношение сигналов преобразователей С,/C однозначно определястся толщиной контролируемого объекта и свободно от его диэлектрической проницаемости.

Способ контроля толщины изделий из диэлектрических материалов, заключающийся в том, что контролируемый объект приводят в соприкосновение с двумя обладающими различной глубиной проникновения поля накладнымп емкостпымп преооразователямп с текущими емкостями С и С, начальными емкостями С„„и C,„, и чувствительностями к измедС, нению диэлектрической проницаемости д= с. и, отличаюи1иися тем, что, с целью устдя ранения погрешности. вызванной изменением диэлектрической проницаемости материала, применяют преобразователи, обеспечивающие равенство относительных изменений емкости от изменения диэлектрической проницаемости с . С С . С м — М I

15 дь да о толщине изделия судят по отношению сигналов (емкостей) преобразователей C,/C,