Илтпнтно- -jft«^ l;xhh*fj-cl'a8

Авторы патента:

G01R31/28 - испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала (испытание на короткое замыкание, обрыв, утечку или неправильное соединение G01R 31/02; контрольные вычислительные устройства G06F 11/00; статические запоминающие устройства для контроля работы накопителей G11C 29/00)

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Со!сз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 21е, 36/10

Заявлено 16.XII.1965 (№ 1044216/18-10) с присоединением заявки J¹

МПК G 01г

УДК 681 2 083 8(088 8) Приоритет

Опубликовано 17.Х.1969. Бюллетень ¹ 32

Дата опубликования описания 25.III.1970

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОШИБКИ, ВОЗНИКАЮЩЕЙ

ИЗ-ЗА ВЛИЯНИЯ ДАТЧИКА НА КОНТРОЛИРУЕМЫЙ ПАРАМЕТР

Изобретение относится к области электроизмеритсльной техники.

Известен способ измерения ошибки, возникающей из-за влияния датчика на контролируемый параметр, путем введения дополнитсльног0 датчика в исследуемый объект.

Однако известные датчики, преобразующие неэлектричсскую величину в электрическую, оказываюг влияние на значение параметров самого кги1тролируемого объекта. Это влияние тем больше, чем меньше энергетический объем объекта.

Предлагаемый способ отличается тем, что снимают показания с одного датчика, фиксируют его значение. оставляют датчик в поле действия параметра, вводят второй датчик и разность между фиксированным значением параметра и показанием введенного датчика определяет ошибку, вносимую датчиком.

Такие отличия позволяют повысить точность измерения величины параметра благодаря исключению ошибки, вносимой присутствием датчика в исследуемом объекте.

Измерение, согласно изобретению. производят слсдукщим образом.

В исследуемый объект, параметр Л которого необходимо определить, помещают датчик.

С дат!!!ка снимают значение Л! параметра, которое фиксируют. После этого в исследуемый обьскт вводят второй датчик, причем ttepвый датчик оставляют в исследуемом объекте.

Второй датчик измеряет значение Л, пар!!метра объекта.

5 В зна !ение Л. в.;.одит и величина ошибки, возникшей из-за влияния первого датчика на объект измерс1шя.

Разность между фиксированным значением первого датчика Л, и показанием второго дат10 чика Л показывас3 степень ошибки ЛЛ1, вносимой датчиком, т. е.. I4 = Л вЂ” Л, Для того чтобы повысить измерения ошно15 ки. применяемые датчики должны быть идент11ЧНЬ! ItO i!3011 I P300 11131 ХаРаКТСР1!СТИ К<1 3!.

Предмст !1зобретенпя (!1особ Iзх11 !3< l I II H он111бк!1. вознllксl lоц!ей !1з

20 за влияния датчика на контролируемый параметр, путем введения дополнительного датчика в исследуемый обьект, от.1атаю!цийся тем, что, с целью повышения точности измерения величнны параметра, снимают показания с од25 ного датчика, фиксируют его значение, оставляют датчик в поле действия параметра, вводят второй датчик н разность между фиксирова1шым значением параметра и показанием введенного дат !ика определяет ошибку, вноси30 мую дат !иком.

Патент 251668 // 251668

Многоканальный измернтель параметров аппаратов для магнитной записи // 250310

Способ измерения и регистрации электрическихвеличин // 250303

Устройство для проведения локальных климатических испытаний радиоаппаратуры // 246611

Устройство для анализа логики работы релейно-контактных схем // 244715

Устройство для контроля параметров комплексных электрических цепей // 243732

Устройство для настройки резонаторов электромеханических фильтров // 243062

Способ измерения нестабильности работы усилителя на туннельном диоде // 242976

Способ измерения импульсных магнитных параметров ферритоеых плат // 238667

Устройство контроля импульсов управления тиристорами преобразователя // 2111500

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники

Устройство диагностирования тиристорного преобразователя // 2133042

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим

Способ диагностирования тиристорного преобразователя // 2133043

Изобретение относится к области диагностирования силовой электротехники, в частности тиристорных преобразователей, и предназначено для поддержания надежности тиристорного преобразователя на требуемом уровне и своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода последних в специальный контрольный режим

Логический тестер // 2133475

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в качестве устройства диагностики при проведении пусконаладочных работ, эксплуатации и ремонте устройств автоматики и вычислительной техники на микросхемах эмиттерно-связанной логики (ЭСЛ)

Способ экспресс-диагностики многоканальных цифровых блоков // 2133479

Способ многоканальной экспресс-диагностики // 2133970

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике для диагностики состояния объекта по результатам преобразования детерминированных и случайных сигналов и может быть использовано в телеметрических системах с эвакуируемыми накопителями информации ("черный ящик") и радиоканалом для передачи катастрофических отказов

Устройство для проверки электронных схем // 2137148

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей

Способ отбраковочных испытаний подложки из диэлектрика или полупроводника с топологией, изделий электронной техники на стойкость к внешним воздействующим факторам // 2138830

Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов, многослойных трехмерных структур, пленок с различным типом электрической проводимости, жидкокристаллических панелей и др

Устройство для контроля цифровых электронных схем // 2139565

Изобретение относится к автоматике и контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей в цифровых электронных устройствах

Комплекс экспресс-диагностики многоканальных цифровых блоков // 2141686

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации