Фотоэлектронное устройство для исследования пористости образцов материалов
СПИ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
24I08I
Союз Советских
Социалистических
Республик .+ ъ
Зависимое от аьт. свидетельства ¹
K,ë. 42k, 49/02
Заявлено 27.XI.1967 (№ 1199275/29-33) с присоединением заявки ¹
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
МПК G 01п
УД К 539.217.1.002.56 (088.8) Приоритет
Опубликовано 01.IV.1969. Бюллетень № 13
Дата опубликования описания 21 VIII.1969
Авторы изобретения
К. И. Бахтияров, В. В. Зверлов, А. А. Лисов, А. H. Поляков и А. О. Накропин
Заявитель
ФОТОЭЛЕКТРОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ
ПОРИСТОСТИ ОБРАЗЦОВ МАТЕРИАЛОВ
Предмет изобретения
Изобретение относится к устройствам для оценки качества структуры пористых материалов по негативам фотографий их плоских сечений.
Известно устройство для исследования пористости образцов материалов, вкпючающее осветитель с конденсором и диафрагмой, фотоэлемент и записывающее приспособление. Однако такое устройство не позволяет непосредственно оценить качество структуры материалов.
Особенность предлагаемого устройства состоит в том, что оно выполнено с двумя кассетами, имеющими негативы-копии изображений пористой структуры исследуемого образца, Выполненными с возможностью сдвига одна относительно другой по параллельным направляющим с помощью электродвигателя с червячной передачей.
Целью настоящего изобретения является непосредственная оценка качества пористой структуры по корреляционным функциям.
На чертеже изображена схема описываемого устройства.
Устройство включает две кассеты 1 с последующими негативами, установленные в параллельных направляющих 2, автоматически перемещающихся от электродвигателя 8 с помощью червячной передачи 4, осветитель 5, два конденсора б п 7, фотоэлемент 8, усилитель 9 и самописец 10.
Устройство работает следующим образом.
Две копии негатива с изображением структуры исследуемого пористого материала закладываются в кассеты 1. Луч света от осветителя 5, пройдя через конденсор б, падает параллельным пучком на негативы. Ослабленньш изображением на негативах и рассеян1О ный световой поток собирается конденсором 7 и падает на фотоэлемент 8.
Перед началом измерений кассеты с негатпвамп неподвпж (ы, поэтому световой поток постоянен. Для определения корреляционной
15 функции кассеты с негатпвамп автоматически перемещаются одна относительно другой по параллельным направляющим 2 с помощью электродвигателя 8 с червячной передачей, Получаемая прп этом переменная величина
20 светового потока измеряется фотоэлементом 8 и после усилителя 9 регистрируется самописцем 10 и представляет корреляционную функцию.
Фотоэлектронное устройство для исследования порпстости образцов материалов, включающее осветитель с конденсором и диа30 фрагмой, фотоэлемент и записывающее прн241081
Составитель Ю. Макарова
Техред Т, П. Курилко Корректор Л. Г. Корогод
Редактор В. Борисова
Заказ 1859/18 Тираж 480 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытии при Совете Министров СССР
Москва, Центр, пр. Серова, д. 4
Типография, пр. Сапунова, 2 способление, отгичающгеся тем, что, с целью непосредственной оценки качества пористой структуры по корреляционным функциям, устройство выполнено с двумя кассетами, имеющими негативы-копии изображений пористой структуры исследуемого образца, выполненными с возможностью сдвига относительно друг друга по параллельным направляющим с помощью электродвигателя с червячной пере5 дачей.
