Способ контроля качества контактирования потенциометров

 

О П И С А Н И "-Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

235I44

Саоз Советсниз

Социалистически

Республии

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 06Х11.1967 (№ 1170500/24-7) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 16.1.1969. Бюллетень ¹ 5

Дата опубликования описания 29Х.1969

Кл. 21с, 54/03

21е, 36 10

МПК Н 01с

G 01г

УДК 621.317.33:537.311.4:

:621.316.824 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете йтинистрое

СССР

Л вторы изобретения Р. Н Билялов, Ю. И. Заянчковский, М. А. Карамышев и Г. М. Степанов

Заявитель

СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА КОНТАКТИРОВАНИЯ

ПОТЕН ЦИОМЕТРОВ

Известны способы контроля качества контактирования потенциометров, заключающиеся в подсчете полных потерь контакта между резистивным элементом и ползунком потенциометра путем включения проверяемого потец- 5 циометра последовательно в электрическую цепь регистрирующего устройства. При это» проверяемый потенциометр представляет собой один из элементов регистрирующей схе»ы, и потеря контакта ведет к разрыву электриче- 10 ской цепи, в которую включен потенциометр, а так;ке и к срабатыванию регистрирующей одностабильной схемы. Число ее срабатываний за цикл проверки, соответствующее числу полных потерь контакта, подсчитывается счетчп- 15 ком и определяет качество контактированпя.

Однако эти способы ввиду инертности и »алой чувствительности одностабильных регистрирующих схем не позволяют регистрировать потерю контакта при перемещении ползунка с 20 постоянной скоростью на время менее 10 з сек, не обладают разрешающей способностью при интервале между моментами потери контакта менее 10 з сек и, фиксируя лишь полные потери контактов, не дают возможности регистри- 25 ровать кратковременное увеличение переходного сопротивления контакта. Кро»e того, эти способы не позволяют оцени контакта по величине и длит

Цель изобретения — создание способа контроля качества контактирования потенциометров, позволяющих регистрировать любые изменения переходного сопротивления контакта на время порядка 10 < сек и более при минимальном интервале между моментами изменения около 10 < сек н оценивать эти изменения по величине и длительности с одновременным подсчетом числа изменений за цикл проверки и определением суммарного времени нарушения контакта.

В основу пведлагаемого способа положено преобразование изменений переходного сопротивления в импульсы напряжения с параметрами, пропорциональными этим изменениям, с последующей оценкой амплнтуды импульсов амплитудным анализатором и подсчетом числа соответственно отселектированных импульсов.

Получение полной характеристики контактирования по таким параметрам как длительность каждого отдельного изменения переходного сопротивления и суммарное время всех изменений за цикл проверки, достигается путем подачи импульсов, помимо амплитудного анализатора для оценки их по амплиту е, на временной селектор с последу ющим подсчетом

2ЗЯ44

15

20 5

З0

35 повременном подсчете суммарного времени всех изменений.

На фиг. 1 показана принципиальная схема включения проверяемого потенциометра; на фиг. 2 — исследуемые импульсы и на фиг. 3 показана блок-схема устройства для осуществления предлагаемого способа.

Проверяемый потенциометр R подключен к источнику напряжения постоянного тока E (фиг. 1) и не является составным элементоя схемы контроля. При резком увеличении переходного контакта падение напряжения на нем также скачкообразно меняется, и, таким образом, HB плавно меняющееся напряжение, снимаемое с зажимов А и Б при перемещении ползунка потенциометра, накладываются импульсы напряжения (фиг. 2) с амплитудой, пропорциональной величине изменения переходного сопротивления контакта и длительностью, равной времени этого изменения. Регистрация и оценка качества контактирования 0c) ществляются путем обработки информации, которую несут эти импульсы.

Устройство (фиг. 3) работает следующим образом.

Импульсы напряжения с помощью емкостной цепочки 1 выделяются из плавно меняющегося напряжения, усиливаются усилителем

2 и поступают на амплитудный селектор 8, оценивающий амплитуду импульсов или величину изменения переходного сопротивления контакта. Отселектированные импульсы проходят на амплитудный формирователь 4, на выходе которого получаются импульсы одной определенной амплитуды, но с длительностью, соответствующей времени изменения контакта. С формирователя 4 импульсы поступают на схему 5 определения суммарного времени нарушения контакта за цикл проверки и на временной селектор 6, который оценивает длительность импульсов. С выхода временного селектора б импульсы идут на формирователь 7, выдающий импульсы одной определенной амплитуды и длительности, подсчитываемые затем быстродействующим электронным счетчиком 8.

Таким образом, обеспечивается возможность пслучения исчерпывающей характеристики качества контактирования потенциометров.

Предмет изобретения

Способ контроля качества контактирования потенциометров путем преобразования изменений переходного сопротивления в импульсы напряжения с параметрами, пропорциональными этим изменениям, и с последующей оценкой амплитуды импульсов амплитудным ана",è3àòoðoì, а также подсчетом чисел соответственно отселектированных импульсов, отличаюи1ийся тем, что, с целью получения полной характеристики контактирования по таким параметрам, как длительность каждого отдельного изменения переходного сопротивления и суммарное время всех изменений за цикл проверки, импульсы подают на временной селектор и подсчитывают число соответственно отселектированных по амплитуде и длительности импульсов при одновременном подсчете суммарного времени всех изменений.

235344

Ус г. 2

Составитель Л. Сольц

Текред Т. П. Курилко

Корректор Л. В. Наделяева

Редактор П. А. Вербова

Заказ 732!8 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Т> пография, пр. Сапунова,

Способ контроля качества контактирования потенциометров Способ контроля качества контактирования потенциометров Способ контроля качества контактирования потенциометров 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, индуктивных или резистивных датчиков
Наверх