Способ измерения шероховатости поверхности
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки. Способ заключается в том, что между поверхностью детали, являющейся анодом, и катодом прикладывают высокое напряжение. Измеряют ширину частотного спектра переменной составляющей тока разрядов по уровню 0,2 ... 0,5 рабочего напряжения. Шероховатость поверхности определяют по формуле Ra= kf+Ro, где Ra - шероховатость поверхности, k - коэффициент пропорциональности, f - измеренная ширина спектра, Ro - эмпирический параметр. Величины k и Ro вычисляют по тарировочной кривой зависимости шероховатости от ширины спектра. Способ позволяет определять шероховатость поверхности детали непосредственно в процессе ее обработки. 1 ил., 1 табл.
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности нержавеющих сталей в процессе электролитно-плазменной обработке.
Известен способ измерения шероховатости электропроводящей поверхности, заключающийся в том, что на ней размещают слой диэлектрика, преимущественно дистиллированную воду, налагают электрод емкостного датчика, который доводят до электрического контакта с контролируемой поверхностью, замораживают воду и измеряют величину электроемкости между электродом и контролируемой поверхностью [1]. Известен способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих изделий, заключающийся в том, что контролируемое изделие и измерительный электрод помещают в диэлектрическую жидкость, прикладывают высоковольтное напряжение и измеряют ток между ними, по величине которого определяют степень шероховатости [2]. Недостатком аналогов является невозможность использования данных способов для определения шероховатости поверхности в ходе электролитно-плазменной обработки в связи с необходимостью прерывания процесса. Наиболее близким по технической сущности является способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих изделий, заключающийся в том, что прикладывают высоковольтное напряжение постоянного тока между поверхностью изделия и измерительным электродом и измеряют ток разряда между ними, по величине которого определяют шероховатость. До приложения высоковольтного напряжения кратковременно подают низковольтный потенциал на поверхность изделия и воздействуют на нее аэрозолью, содержащей масло [3]. Благодаря локализации наэлектризованных капель масла около микровыступов увеличивается напряженность электрического поля в воздушном зазоре на этих участках, вследствие чего увеличивается плотность инициирующих электронов с концов микровыступов, что приводит к увеличению тока в разрядной цепи, а следовательно, и к повышению разрешающей способности и точности данного способа измерения шероховатости. Недостатком прототипа является использование аэрозоли, содержащей масло, что недопустимо при проведении электролитно-плазменной обработки деталей. Задачей, решаемой заявляемым изобретением, является упрощение процесса измерения шероховатости путем использования переменной составляющей тока, позволяющей определять шероховатость поверхности в ходе процесса обработки. Поставленная задача решается таким образом, что в способе измерения шероховатости поверхности электропроводящих деталей в процессе электролитно-плазменной обработки прикладывают высоковольтное напряжение между обрабатываемой деталью, являющейся анодом, и катодом и измеряют ширину нормированного частотного спектра переменной составляющей тока разрядов по уровню среза, выбираемого из диапазона 0,2...0,5 в зависимости от рабочего напряжения. Определение шероховатости производят по формуле Rа=k

Формула изобретения
Ra = k

где Rа - шероховатость поверхности, мкм;
k - коэффициент пропорциональности, зависящий от материала детали, природы и концентрации электролита;
f - измеренная ширина спектра при определенном уровне среза, Гц;
Rо - эмпирический параметр,
при этом значения k и Rо вычисляют по тарировочной кривой зависимости шероховатости от ширина спектра.
РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2