Пылеударный масс-спектрометр
Назначение: масс-спектрометрия преимущественно для космических исследований. Сущность изобретения: пылеударный масс-спектрометр снабжен электростатическим циллиндрическим отражателем, содержащим внешнюю и внутреннюю сетки, охватывающие мишень с выполненными в ней отверстиями, источником ионов, установленным в центре мишени и содержащим нагреватель, отражатель электронов, управляющую, ускоряющую и выходную сетки, приемниками ионов в виде вторично-электронных умножителей с соответствующими фокусирующими электродами полусферической формы, установленными с противоположной к ударному воздействию стороны мишени, симметрично каждому из ее отверстий на фиксированном расстоянии от нее, причем их выходы соединены с блоком обработки ионного спектра, управляющая сетка, отражатель электронов и нагреватель источника ионов соединены с соответствующими источниками напряжения и тока, мишень и ускоряющая сетка источника ионов соединены с источником изменяемого во времени импульсного напряжения, внешняя сетка электростатического цилиндрического отражателя соединена с плоским отражателем и источником напряжения, а выталкивающая сетка соединена с внутренней сеткой цилиндрического отражателя. 10 ил.
Изобретение относится к приборостроению, средствам автоматизации и системам управления, а именно к области космических исследований. Известны времяпролетный масс-спектрометр, содержащий мишень, ускоряющие сетки выталкивающего промежутка, электростатический отражатель, приемник ионов (статьи: I "Первые результаты измерений элементного состава пылевых частиц кометы Галлея, полученные приборами ПУМА в проекте "Вега", Письма в АЖ, т. 12, N 8, 1986. /Сагдеев Р.З., Киссель И. и др).
Недостатком является низкая разрешающая способность в области тяжелых масс ионов, зависимость разрешающей способности, сбора ионов от координаты удара, низкое качество эксперимента в связи с влиянием факторов космической среды на чистоту чувствительной поверхности мишени масс-спектрометра в процессе эксплуатации. Наиболее близким по технической сущности к заявляемому масс-спектрометру является выбранный в качестве прототипа времяпролетный масс-спектрометр, содержащий мишень, выталкивающую сетку, электростатический отражатель с нелинейным осевым распределением потенциала, приемники ионов, расположенные в области крайнего сетчатого электрода отражателя (статья: Новиков Л.С., Семкин Н. Д., Куликаускас В.С. "Масс-спектрометрия ионов, эмиттируемых при соударении микрометеорных частиц с материалами". Физика и химия обработки материалов, N 6, 1989). Недостатком прототипа является малая площадь мишени, низкая разрешающая способность в диапазоне тяжелых масс ионов, низкое качество эксперимента, зависимость выходных характеристик от места соударения. В космическом эксперименте необходима большая площадь мишени (400 см2), информация об элементном составе мишени и окружающего газа для выделения элементного состава исследуемой частицы. Поставлена задача разработать пылеударный масс-спектрометр с высокой разрешающей способностью по массе, с высоким качеством эксперимента, слабой зависимостью выходных характеристик от места соударения, высокой чувствительностью за счет динамической компенсации начального разброса ионов источника по координате и времени вылета путем введения источника изменяемого во времени импульсного напряжения, выполнения отверстий в мишени и электростатического цилиндрического отражателя, а также установки источника ионов в виде сетчатой трехэлектродной симметричной системы, нагреваемого отражателя. Техническим результатом является расширение функциональных возможностей, позволяющих повысить чистоту и достоверность экспериментальных данных и возможность разрешения массовых пиков тяжелых масс элементов, находящихся в исследуемых пылевых частицах. Поставленная задача достигается тем, что масс-спектрометр снабжен электростатическим цилиндрическим отражателем, содержащем внешнюю и внутреннюю сетки, охватывающем мишень с выполненными в ней отверстиями, источником ионов, установленным в центре мишени и содержащем нагреватель, отражатель электронов, управляющую, ускоряющую и выходную сетки, приемниками ионов в виде вторично-электронных умножителей с соответствующими электродами полусферической формы, установленными с противоположной к ударному воздействию стороны мишени, симметрично каждому из ее отверстий на фиксированном расстоянии от нее, причем их выходы соединены с блоком обработки ионного спектра, управляющая сетка, отражатель электронов и нагреватель источника ионов соединены с соответствующими источниками напряжения и тока, мишень и ускоряющая сетка источника ионов соединены с источником измеряемого во времени импульсного напряжения, а внешняя сетка электростатического цилиндрического отражателя соединена с плоским отражателем и источником напряжения, а выталкивающая сетка соединена с внутренней сеткой цилиндрического отражателя. На фиг. 1 представлена схема конструкции пылеударного масс-спектрометра, на фиг. 2 - схема анализатора масс-спектрометра, на фиг. 3 - схема движения ионов в полевом и бесполевом пространстве анализатора масс-спектрометра, на фиг. 4 - зависимость разрешающей способности от базовой массы, на фиг. 5 - зависимость разрешающей способности от длительности (интервала) дискретизации, на фиг. 6 - закон распределения ускорения ионов от времени (расчетный график), на фиг. 7 - схема устройства реализации функции a(t), на фиг. 8, 9 - соответственно зависимости разрешающей способности и коэффициента сбора (Kсб) от координаты (радиуса мишени), на фиг. 10 - схема источника ионов и диаграмма потенциалов на его электродах. Пылеударный масс-спектрометр содержит мишень 1 с выполненными в ней отверстиями (фиг. 1), плоский электростатический отражатель 2, приемник ионов 3 в виде вторично-электронного умножителя, электростатический цилиндрический отражатель, состоящий из внешней 4 и внутренней 5 сеток, охватывающий мишень 1, фокусирующие электроды полусферической формы 6, блок обработки ионного спектра 7, источник ионов 8, установленный в центре мишени и содержащий управляющую сетку 9, ускоряющую сетку 10, выходную сетку 11, нагреватель 12, отражатель 13, источник тока нагревателя 14, источник тока и напряжения отражателя 15, источник напряжения управляющей сетки 16, источник изменяемого во времени импульсного напряжения 17, выталкивающую сетку 18, источник напряжения 19. Приемники ионов 3 с соответствующими фокусирующими электродами полусферической формы 6 установлены с противоположной к ударному воздействию стороны мишени 1, симметрично каждому из ее отверстий на фиксированном расстоянии от ее оси. Мишень 1 соединена с источником изменяемого во времени импульсного напряжения 17, плоский отражатель 2 соединен с источником напряжения 19, приемник ионов 3 соединен с блоком обработки ионного спектра 7, внешняя сетка 4 цилиндрического отражателя соединена с источником напряжения 19, внутренняя сетка 5 цилиндрического отражателя соединена с выталкивающей сеткой 18 и заземлена, фокусирующие электроды полусферической формы 6 заземлены, управляющая сетка 9, ускоряющая сетка 10 источника ионов 8 соединены с источником напряжения 16 и изменяемым во времени импульсным источником 17, выходная сетка 11 соединена с выталкивающей сеткой 18, нагреватель 12 соединен с источником тока 14, нагреваемый отражатель электронов 13 соединен с источником напряжения и тока 15. Устройство работает в 3-х режимах. Первый режим характеризуется регистрацией и обработкой спектра ионов, инициируемых в результате высокоскоростного соударения исследуемой частицы с поверхностью мишени 1 (фиг. 1). В момент соударения частицы с мишенью 1 блоком 17 вырабатывается импульс изменяемого во времени импульсного напряжения, уменьшающего величину ускорения ионов a(t). Образованные ионы выталкиваются из промежутка "мишень 1 - выталкивающая сетка 18" под действием напряжения, вырабатываемого блоком 17, и попадают в тормозящее поле промежутка "выталкивающая сетка 18 - отражатель 2". Ионы, рассеянные под большими углами разлета относительно нормали, попадают в промежуток сеток цилиндрического отражателя 4 - 5 и, отражаясь в нем, вторично попадают в тормозящее поле промежутка сеток 2 - 18, соответствующая часть ионов пролетают через четыре отверстия в мишени (диаметр их - d0), попадают в область электрического поля промежутка "фокусирующий электрод 6 - ускоряющая сетка вторично-электронного умножителя 3", и далее ускоряясь в этом поле, попадают в окно умножителя (ВЭУ-6). Таким образом, сфокусированные пакеты ионов с выхода ВЭУ-6 обрабатываются в блоке 7. Более детально пояснение сущности предлагаемого способа фокусирования приводится ниже. Режим второй реализуется после окончания приема и обработки спектра ионов в блоке 7, инициируемого соударением частицы с мишенью 1, и включает измерения элементного состава газов в окрестности мишени 1, при этом в качестве источника ионов используется источник ионов 8 (фиг. 1). Источник ионов 8 совместно с тормозящим участком D (фиг. 1), бесполевым участком d, приемником ионов 3 образуют времяпролетный газовый масс-спектрометр, отличающийся от известных конструкцией источника ионов 8, а также законом формирования выталкивающего импульса в промежутке сеток 10 - 11, генерируемого блоком 17. Спектр ионов, полученный в процессе реализации второго режима, характеризует элементный состав собственной внешней атмосферы космического аппарата (СВА КА), является ценной информацией, однако при анализе спектра ионов, полученного в результате соударения частицы, является помехой, которую необходимо учитывать при проведении обработки. Третий режим предназначен для регистрации элементного состава мишени 1 и необходим также для повышения качества эксперимента при анализе элементного состава пылевых частиц (например, микрометеороидов), хотя информация о загрязнении мишени 1 дает полезную информацию о процессах газовыделения элементов конструкций КА в процессе натурных экспериментов. Третий режим реализуется по времени после второго режима. От источника тока 15 нагревается отражатель электронов 13 до температуры испарения вещества, образованного на поверхности его (а также и мишени 1) в виде тонкой пленки. В результате в области источника ионов 8 образуется поток атомов, испаренных с отражателя 13, которые ионизируются электронами аналогично второму режиму. Полученный спектр ионов с выхода приемника ионов 3 учитывается при обработке ударных спектров (спектров, полученных от частиц). Таким образом, повышается качество эксперимента за счет совмещения пылеударного масс-спектрометра с газовым при сохранении высоких показателей каждого из них. Повышение чувствительности масс-спектрометра достигается за счет использования цилиндрического отражателя 4 - 5. Ионы, попадая в него, отражаются обратно в тормозящий промежуток D. Повышение разрешающей способности пылеударного (и газового) масс-спектрометра достигается за счет использования переменного во времени ускоряющего поля в промежутке мишень-сетка. То-есть суть метода повышения разрешающей способности заключается в том, что для компенсации энергетического разброса ионов используется переменное во времени ускоряющее поле. Траектория движения иона в полевом и бесполевом пространстве показана на фиг. 2. Запишем основные соотношения для времени пролета иона в приемник и его скорости




При t1 = 0 формула (2) имеет вид

Определим момент времени вылета из управляющего промежутка иона, который подвергается фокусировке

Таким образом, управляющее напряжение должно в момент t = t1кр (фиг. 3) отключаться (т. е. a(t1кр) = 0) (фиг. 6). Переменное во времени ускорение a(t) в интервале [o,l] запишем в следующем виде:

где


ak - неизвестные величины, которые находятся, с одной стороны, из условия, что в момент t1= K



С другой стороны, величины ak должны быть такими, чтобы ион, стартовавший в момент t (неизвестный заранее), достиг границы X= l в момент времени t1= K


В этой системе две неизвестные величины: t и a(t). Двойной интеграл в системе (5) можно представить в виде:

Неизвестные величины a0, a1 ... an находятся последовательно (фиг. 6). Сначала определяются значения t0 и a0 по заданному значению

из уравнений

Затем из условия, что в момент t1=




Представим a(t),t




Тогда из формулы (7) имеем:

Для


Учитывая (9), (10), получим выражения для ak:

Результаты моделирования процесса фокусировки ионов с помощью динамического компенсатора при





где
Uип - напряжение источника питания ионной пушки;
X - глубина проникновения электрона в ускоряющее поле. Эффективное сечение ионизации электронным ударом

Координата, на которой вероятность ионизации становится равной нулю, получается из уравнения (12) при



Таким образом, полная ширина зоны ионизации равна Xгр. Из (13) видно, что необходимую Xгр легко получить подбором Uуск, L1 и Uип. Это является одним из преимуществ данного источника ионов, тогда как известные источники традиционного типа для получения тонкого электронного листа должны быть изготовлены с прецизионной точностью, а также необходимо использование фокусирующих систем. Вторым преимуществом является совместимость ускоряющего промежутка с электронным пучком, что упрощает электронную схему источника и позволяет получить более высокое разрешение анализатора спектра. Возможно получение ионного пучка со строго заданным распределением по энергии. Кроме того, при этом принципе поучения ионов попадание электронов в объем анализатора спектра затруднено, что значительно уменьшает уровень шумов на входе приемника (3-4 иона в секунду). Теоретические и экспериментальные исследования показали на целесообразность использования заявляемого устройства в натурных условиях, получения более детальной и достоверной информации о физико-химических свойствах высокоскоростных частиц, а также химическом составе и влиянии СВА КА на характеристики элементов конструкций КА. Следует отметить, что на основе такого источника ионов выполнен обычный газовый масс-спектрометр времяпролетного типа в традиционном конструктивном исполнении, отличающийся от известных более высокими показателями. Например, при общих габаритах


Формула изобретения
РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6, Рисунок 7, Рисунок 8, Рисунок 9, Рисунок 10