Отражательная дифракционная решетка
Использование: изобретение относится к области спектрального приборостроения. Сущность изобретения: в отражательной дифракционной решетке со штрихами ступенчатого профиля, каждый штрих имеет расположенные под разными углами относительно нормали к поверхности решетки две (или более) рабочие поверхности дифракции (грани). 3 ил.
Изобретение относится к области спектрального приборостроения. Оно найдет применение при создании спектральных приборов различного назначения с расширенной областью дисперсии, имеющих регулируемое положение спектральных максимумов, например спектрофотометров, полихроматоров, спектрофлуориметров и т.п.
Известны отражательные дифракционные решетки, представляющие собой совокупность узких параллельных зеркальных полосок, разделенных малыми промежутками с одной рабочей гранью [1]. Большинство известных решеток имеют штрихи ступенчатого профиля, оптимальные с точки зрения получения наивысшей концентрации в одной заданной спектральной области. Технически до сих пор удавалось получать достаточно правильную форму только одной грани штриха. Амплитудные прозрачные решетки, концентрирующие излучение вблизи нулевого порядка, применяются редко, в основном в измерительных целях, в вакуумной УФ- и рентгеновской областях спектра. У голографических решеток штрихи, как правило, имеют симметричный профиль, приблизительно описываемый синусоидой. Для обычных отражательных решеток рабочей гранью является пологая (у решеток типа "эшелле" - крутая [1]). При падении излучения на решетку часть энергии отражается от нее, как от зеркала, без спектрального разложения, создавая так называемый нулевой порядок. Остальная часть энергии распределяется между спектрами различных порядков. Распределение зависит от формы канавок, образуемых резцом на поверхности заготовки решетки. Решетка - эшелле, имеющая треугольный профиль штрихов, состоит из одинаковых зеркальных площадок шириной b, плоскости которых параллельны друг другу и образуют угол с общей касательной плоскостью всех зеркальных элементов [1]. При падении на эшелле параллельного пучка на каждой зеркальной площадке происходит дифракция, как на узкой щели, и пучки, дифрагировавшие на всех площадках, интерферируют. Распределение интенсивности в спектре решетки - эшелле определяется выражением [1]: I =![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/934.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/977.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/img_pat/2/24313.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/977.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/960.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/981.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/981.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/697.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/981.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/177.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/981.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/697.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/177.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/177.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/948.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/177.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/920.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/966.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/966.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/697.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/981.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/981.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/981.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/966.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/img_pat/2/24314.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/img_pat/2/24315.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
![](https://img.poleznayamodel.ru/chr/955.gif)
регулируемое соотношение энергии в спектральном рабочем диапазоне, достигаемое изменением соотношения площадей рабочих граней решетки,
расширение получаемого спектрального диапазона решетки,
сохранение дисперсии прибора в расширенном спектральном диапазоне,
возможность изменения дисперсии в рабочих спектральных интервалах выбором соответствующих порядков дифракции от разных граней,
увеличение энергетической эффективности решетки за счет использования тех порядков дифракции, которые в решетке с одной рабочей гранью приводят к потере излучения, так как не являются рабочими,
снижение влияния переналожения нерабочих порядков дифракции за счет выбора спектрального диапазона каждой грани. Список литературы
1. И. В. Пейсахсон. Оптика спектральных приборов. Л.: Машиностроение, 1988, с. 52. 2. Ф.М.Герасимов, Э.А.Яковлев. Дифракционные решетки. В сб. "Современные тенденции спектроскопии". Наука, Новосибирск, 1982, с. 30. 3. В.П.Шестопалов и др. Дифракционные решетки, ч.1. Киев: Наукова думка. 1989, с. 194.
Формула изобретения
РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3
Похожие патенты:
Узкополосный фильтр излучения // 2085976
Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к изготовлению дифракционных оптических элементов (ДОЭ), преимущественно голографических дифракционных решеток, и может быть использовано для контроля параметров микрорельефа ДОЭ непосредственно в процессе их изготовления
Изобретение относится к способам защиты изделий, представляющих собой художественную, историческую или материальную ценность, от подделки и может быть использовано для предотвращения фальсификации на рынке торговли изделиями из благородных металлов
Изобретение относится к технологии изготовления оптических деталей и может быть использовано при изготовлении вогнутых поверхностей оптических деталей, в частности вогнутых подложек дифракционных решеток с заданными радиусами кривизны
Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к изготовлению дифракционных оптических элементов методом копирования нарезных и голограммных дифракционных решеток, синтезированных голограммных оптических элементов
Декоративное стекло // 1834868
Изобретение относится к оптическому приборостроению, более конкретно к способам создания голографических дифракционных решеток, предназначенных для использования в метрологии
Спектральное устройство // 2094758
Изобретение относится к спектральным приборам и может найти широкое применение в фотометрии и голографии
Изобретение относится к измерительному датчику для портативного анализатора, использующего оптическое излучение, в котором оптическое излучение разлагают на спектр за счет применения решеточных спектрографов
Спектроскоп // 2069323
Изобретение относится к технической физике, а именно к оптическим спектральным приборам и может быть использовано для спектрального анализа различных материалов
Широкополосный спектрозональный анализатор // 2068175
Изобретение относится к устройствам для определения спектрального состава излученного или рассеянного света преимущественно пространственно неоднородных объектов
Полихроматор // 2054638
Изобретение относится к технике ИК-спектроскопии, а именно к устройствам для измерения характеристик собственного излучателя в инфракрасной области
Афокальный бесщелевой спектрограф // 2018791
Изобретение относится к оптическому приборостроению, может быть использовано в телескопах различного назначения и позволяет проводить регистрацию спектров астрономических объектов с повышенной чувствительностью и большей оперативностью
Спектрофотометр // 2109255
Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано в физике, химии, биологии и медицине, а также в экологии и промышленности