Способ измерения объемных уделбнб1х сопротивлении диэлектрических материалов

 

2I89t96

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик о(ы гсю нл у патент, :о-т = ., =-,я б иблиотеиа ... .- т

Зависимое от авт, свидетельства №

Кл. 21е, 29/01

Заявлено 10.IV.1967 (№ 1148971i26-10) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано ЗО.Ч.1968. Бюллетень № 18

Дата опубликования описания 30.VIII.1968

Комитет по делам кзвбретеиий и открытий ори Совете Министров

СССР

МПК G Оlг

УДК 621.317.332.1 (088.8) Авторы изобретения

В. А. Курилов и В. В. Веселов

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОБЪЕМНЫХ УДЕЛЬНЫХ

СОПРОТИВЛЕНИЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ вакуума, е — относительная проницаемость диэл ект ри ка.

Очевидно, что потенциал статического поля, определяемый на некотором расстоянии от образца, будет изменяться по тому же экспотенциальному закону, что и заряд на диэлектрике, т. е. р, =q„e т

Измерив время t, в течение которого потенциал поля изменяется от сд, до р,, определив отношение потенциалов и зная е испытуемого материала, можно найти удельное объемное сопротивление по формуле

Р .о Гл —

Vs

Если определять время т, в течение которого потенциал статического заряда на диэлектрике уменьшается в а раз, то формулу можно упростить:

Q=Q,е т, где Т=р.„е, заряда, е, = ская проница сопротивлени .10 г- зф/м—

Осуществление известных способов измерения объемных удельных сопротивлений диэлектрических материалов, размещенных на заземленной подложке, требует обязательного контакта электроизмерительного прибора с испытуемым образцом, что влечет за собой искажение морфологической структуры последнего.

Предлагаемый способ отличается от из вестного тем, что образец помещают в вакуумированный объем, наносят на него электростатический заряд и по времени стекания заряда определяют искомую величину. Это позволяет предотвратить искажения морфологической структуры образца.

Если на заземленной металлической пластине расположить образец диэлектрического материала, на котором имеется заряд Q„ то при определенных внешних условиях (температуре влажности) нейтрализация статического заряда будет происходить по закону

P- = о ла удобна при измерении р., мамеющих т порядка нескольких чтобы исключить влияние внешв (температуры, влажности, за218996

Предмет из об ретения

Составитель Ю. В. Шевколович

Техред Л. Я. Левина

Редактор Н. Громов

Корректор A. и. васильева

Заказ 2351/11 Тираж 530 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открыт -" ри Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр рсва д

Типогрз ьия, пр. Сапунова, 2 пыленности окружающего воздуха и т. д.), целесообразно измерять р, в вакуумированных объемах.

Способ измерения объемных удельных сопротивлений диэлектрических материалов, размещенных на заземленной подложке, отличаюи ийся тем, что, с целью исключения электрического контакта с испытываемым образцом и искажения его морфологической структуры, образец помещают в вакуумированный объем, наносят на него электростатический заряд и по времени стекания заряда определяют искомую величину.

Способ измерения объемных уделбнб1х сопротивлении диэлектрических материалов Способ измерения объемных уделбнб1х сопротивлении диэлектрических материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике электрических измерений и предназначено для профилактических испытаний изоляции крупных электрических машин и аппаратов, имеющих большую постоянную времени

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для измерения резисторов, сосредоточенных сопротивлений и сопротивления изоляции в электрических цепях
Изобретение относится к исследованию и анализу материалов с помощью электрических средств и предназначено для контроля неоднородности электропроводного изделия по толщине материала, например, при проверки возможной подделки изделия в форме слитка из драгоценного или редкого металла

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров индуктивных элементов, а также исследования и оценки свойств ферромагнитных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборостроении для построения параметрических измерительных преобразователей, инвариантных к изменениям параметров источников питания и другим влияющим величинам

Изобретение относится к электроизмерительной технике, а именно к способам определения сопротивлений, и может быть использовано при экспериментальных измерениях

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано в качестве частотно-независимой меры активного сопротивления в диапазоне 1 - 100 кОм

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборостроении для построения параметрических измерительных преобразователей, инвариантных к изменениям параметров источника питания

Изобретение относится к электроизмерительной технике и предназначено для контроля параметров конденсаторов, катушек индуктивностей и резисторов в процессе их производства

Изобретение относится к бесконтактным неразрушающим способам измерения удельной электропроводности плоских изделий с использованием накладных вихретоковых датчиков
Наверх