Способ определения частотно-контрастных характеристик фотографических систем

Авторы патента:

G03C5/02 - сенситометрия, например определение светочувствительности, цветочувствительности, градации, зернистости, плотности светочувствительных материалов; изготовление сенситометрических клиньев

2I866I

ОП ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик!

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 57с, 4

Заявлено 13.XI I.1966 (№ 1119571/26-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 17.V.1968. Бюллетень № 17

Дата опубликования описания 2.IX.1968

МПК G 03(1

УДК 771.537.44:621.391 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Автор изобретения

Заявитель

Б. В. Титков

Ленинградская военная инженерная Краснознаменная академия им. А. Ф. Можайского

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЧАСТОТНО-КОНТРАСТНЫХ

ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОГРАФИЧЕСКИХ СИСТЕМ

Предмет изобретения

Изобретение относится к технике определения характеристик фотографических систем, в частности частотно-контрастных характеристик.

Известен способ определения частотно-контрастных характеристик, согласно которому фотографируют мирру в виде резкой границы света и тени, проявленное изображение фотометрируют и находят характеристику, используя известные выражения, связывающие между собой импульсные и частотные характеристики.

Предложенный способ упрощает технологию определения частотно-контрастных характеристик фотографических систем. Это достигается тем, что производную видеосигнала перемножают со ступенчато изменяющимся косинусоидальным напряжением, циклично меняя на каждой частоте его фазу, полученные произведения интегрируют и определяют максимум напряжений, соответствующих точкам искомой характеристики.

Сущность способа поясняется блок-схемой устройства, изображенной на чертеже.

С помощью микрофотометра 1 фотометрируют изображение мирры, полученной на фотоматериале в виде резкой границы света и тени, например, от лезвия ножа. Видеосигнал подается в блок 2 дифференцирования, а его производную в блоке 3 умножают с косинусоидальным напряжением генератора 4. Полученный результат поступает в интегратор,5, При данной частоте генератора изменяют фазу напряжения и фиксируют индикатором

6 максимум напряжения, соответствующий точке частотно-контрастной характеристики.

Это значение напряжения отмечается регистратором 7, например самописцем. Для получения последующих точек задают новые зна1О чения частоты генератора и вновь изменяют фазу напряжения. Полученная серия точек характеризует искомую частотно-контрастную характеристику.

Способ определения частотно-контрастных характеристик фотографических систем путем

20 фотометрирования изображения мирры, полученной на фотоматериале в виде резкой границы света и тени, и обработки полученного видеосигнала, от.т и чаюитий ся. тем, что, с целью упрощения технологии, производную

25 видеосигнала перемножают со ступенчато изменяющимся косинусоидальным напряжением, циклично меняя на каждой частоте его фазу, полученные произведения интегрируют и определяют максимум напряжений, соответствую30 щих точкам искомой характеристики.

218661

Составитель И. М. Невский

Редактор И. С. Грузова Техред Т. П. Курилко Корректор Л. В. Наделяева

Заказ 2143/9 Тираж 530 Подписное

ЦБИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2

Способ определения частотно-контрастных характеристик фотографических систем

Интерференционный резольвометр // 207018

Денситометр // 204134

Всесоюзная : 1|| яашгшо- ,«|' тпхкйчгс'ая ^^ iе^{:>& л}!07т!г;,iк. а. короташ // 198134

Способ изготовления откорректированных // 198132

Патент 193302 // 193302

Фотоэлектрический денситометр // 187517

Способ определения энергетического порога чувствительности ядерной эмульсиипри известных способах оценки значения энергетического порога чувствительности фотоэмульсий по средней плотности проявленных зерен на следе частицы с определенной ионизирующей снособиостью онираются на 5 произвольные предложения о величине флюктуации в передаче энергии частицей мнкро- 'кристаллу agbr. это не дает возможности быть уверенным в достоверности способов.по предлагаемому способу можно прямо 10 'получить кривую распределения лппфокрнсталлов agbr ядерной эмульсии по их чувствительности.способ основан на изучении фотографической эффективности результата попадания в 15 микрокристалл отдельного электрона известной энергии, тормозяи1.егося внутри мнкрокристалла до остановки. при этом миниг^итльная энергия электро]1а, которая сообщает микрокристаллу способность к проявлению может 20 быть отождествлена с чувствительностью микрокристалла.заключается способ в том, что на однослойном препарате исследуемой эмульсии экспонируют под электронным пучком последова- 25 тельность полей, отличающихся энергией электронов, но при постоянстве экспозиций. после нроявления препарата определяют плотность проявленных зерен в полях облучения и строят зависимость выхода нроявлен- 30 ных зерен от энергии электронов.нов выбирают такими, чтобы можно было пренебречь вероятностью кратных попаданий электронов в микрокристалл и выходом электронов за пределы микрокристаллов. этим условиям соответствуют экспозиции 0,1—0,2 электрона на микрокристалл и эпергия электронов при экспозиции, не превыщающая 2000 эв (максимальиый пробег в agbr~ -^10^0 см).тогда нолучеииая зависимость выхода проявленных зерен от энергии электронного пучка будет показывать долю микрокристаллов с норого>&.! чувствнтельности не выще заданного значення энергии, а дифференцированная кривая — распределенне микрокристаллов по чувствительности.предмет изобретенияспособ онределення энергетического порога чувствительности ядерной эмульсни по плотности проявленных зерен, находящихся в ноле облучення, отличающийся тем, что, с целью нолучення сведеннй о распределепи'и мнкрокрнсталлов agbr по чувствительности, изучают выход проявленных зерен на последовательности полей однослойного препарата, экспонированных npii постоянной экспозиции электронами с различной энергней в условнях эксноннровання, когда вероятность кратных попаданнй электронов в микрокристалл и выход электронов за нределы микрокристалла нренебрежимо малы. // 172407

Устройство для измерения оптических плотностей // 170838

Патент 160948 // 160948

Способ получения резольвограмм с помощью спекл-структуры и резольвометр для его осуществления // 2147764

Изобретение относится к испытаниям светочувствительных материалов

Перестраиваемый спекл-интерферометрический резольвометр // 2184989

Изобретение относится к области испытания светочувствительных материалов, в частности к средствам резольвометрии с использованием когерентных источников света, и обеспечивает повышение производительности получения резольвограмм, возможность автоматизации и расширение перечня тестируемых светочувствительных материалов

Способ расшифровки спекл-резольвограмм // 2223524

Изобретение относится к области испытания светочувствительных материалов, а именно к методам и средствам резольвометрии с использованием когерентных источников света, и может быть использовано в автоматизированных системах тестирования фоторегистрирующих материалов и сред

Способ определения экспозиций при аддитивной фотопечати // 2082214

Изобретение относится к области цветной фотографии и может использоваться преимущественно при аддитивной фотопечати в профессиональной и любительской сфере

// 221485

Фотометрическое устройство // 235353

Сенситометр // 258029

// 265716

// 274751

Способ контроля действия света на светокопировальные слои // 307386