Полупроводниковый детектор заряженных частиц на основе арсенида галлия
Использование: полупроводниковое и ядерное приборостроение. Сущность изобретения в полупроводниковом детекторе заряженных частиц на основе арсенида галлия, содержащем подложку из арсенида галлия, на противоположных сторонах которой выполнены слои из материалов n+ и p+ типов проводимости и металлические электроды, ориентация кристалла арсенида галлия выбрана (100), поверх слоя из материала n+ типа проводимости сформирован дополнительный слой из материала с относительным изменением параметров решетки da/a большим, чем у подложки, а слой из материала p+ проводимости выполнен из материала с относительным изменением параметров решетки меньшим, чем у подложки, причем толщины и состав дополнительного слоя и слоя из материала p+ типа проводимости выбраны таким образом, чтобы механические напряжения в подложке не превышали критического значения, выше которого образуются дислокации несоответствия. В качестве материала дополнительного слоя поверх слоя из материала n+ типа проводимости может быть использован материал с относительным изменением параметров решетки dа/а = +(1-5)10-4. В качестве материала дополнительного слоя поверх слоя из материала n+ типа проводимости использован твердый раствор InxGa1-xAs с 0<x<1. В слое из материала p+ типа проводимости использован углерод в качестве акцепторной примеси с концентрацией NA = 1019см-3. В слое из материала n+ типа проводимости в качестве донорной смеси использован германий с концентрацией Nd = 1018см-3. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.
Изобретение относится к области полупроводникового и ядерного приборостроения и, в частности к области изготовления детекторов заряженных частиц с прецизионным пространственным разрешением и может быть использовано в ядерной технике на мощных ускорителях для сверхточных измерений координат заряженных частиц в условиях повышенного радиационного излучения.
Известны полупроводниковые стриповые детекторы на основе кремния [1] для прецизионной пространственной регистрации заряженных частиц. Недостатками таких детекторов являются их невысокие эффективность регистрации и радиационная стойкость, при которой они выходят из строя уже при поглощенной дозе 5 Мрад. Наиболее близким к изобретению является полупроводниковый детектор [2] заряженных частиц на основе арсенида галлия, содержащий подложку из арсенида галлия, на противоположных сторонах которой выполнены слои из материала n+ и p+ типов проводимости и металлические электроды. Недостатками такого устройства также являются невысокие эффективность регистрации и радиационная стойкость. Задачей изобретения является повышение эффективности регистрации заряженных частиц за счет увеличения числа собранных носителей заряда и улучшения отношения сигнал/шум. Задача решается тем, что ориентация кристалла арсенида галлия выбрана <100>, поверх слоя из материала n+ типа проводимости сформирован дополнительный слой из материала с относительным изменением параметров решетки da/a большим, чем у подложки, а слой из материала p+ проводимости выполнен из материала с относительным изменением параметров решетки меньшим, чем у подложки, причем толщины и состав дополнительного слоя и слоя из материала p+ типа проводимости выбраны таким образом, чтобы механические напряжения в подложке не превышали критического значения, выше которого образуются дислокации несоответствия. При этом в качестве материала дополнительного слоя поверх слоя из материала n+ типа проводимости использован материал с относительным изменением параметров решетки dа/а +(1-5)


Формула изобретения
1. Полупроводниковый детектор заряженных частиц на основе арсенида галлия, содержащий подложку из арсенида галлия, на противоположных сторонах которой выполнены слои из материалов n+- и p+-типов проводимости и металлические электроды, отличающийся тем, что ориентация кристалла арсенида галлия выбрана < 100 >, поверх слоя из материала n+-типа проводимости сформирован дополнительный слой из материала с относительным изменением параметров решетки da/a большим, чем у подложки, а слой из материала p+-типа проводимости выполнен из материала с относительным изменением параметров решетки меньшим, чем у подложки, причем толщина и состав дополнительного слоя и слоя из материала p+-типа проводимости выбраны таким образом, чтобы механические напряжения в подложке не превышали критического значения, выше которого образуются дислокации несоответствия. 2. Детектор по п.1, отличающийся тем, что в качестве материала дополнительного слоя поверх слоя из материала n+-типа проводимости использован материал с относительным изменением параметров решетки da/a +(1 5)
РИСУНКИ
Рисунок 1