Способ определения смещения и угла рассогласования между осью вращения платформы и осью перемещения измерительной головки
Использование: в измерительной технике для определения смещения между измерительными осями. Сущность изобретения: в способе определения смещения и угла рассогласования между осью вращения платформы и осью перемещения измерительной головки, заключающемся в том, что осуществляют вращение платформы с установленной на ней деталью, перемещают измерительную головку, измеряют расстояние от оси измерительной головки до точек поверхности детали и само перемещение измерительной головки, в качестве детали используют эталон в виде двух соосно расположенных цилиндров разных диаметров, оси симметрии которых совмещают с осью вращения платформы, при повороте платформы последовательно фиксируют значения перемещений измерительной головки Hi(i= 1,2) и соответствующие этим перемещениям расстояния Ri(i= 1,2) от оси измерительной головки до боковой поверхности цилиндра одного диаметра, угол рассогласования между осью вращения платформы и осью перемещения измерительной головки определяют по зафиксированным значениям Hi и Ri, формируют сигнал Ki в виде зависимости Ki=Ricos
+ Hisin
(i=1,2) для соответствующих измеренных значений перемещений измерительной головки Hi(i=1,2) и расстояний Ri(i=1,2) от оси измерительной головки до боковых поверхностей цилиндров разных диаметров, а смещение между осью вращения платформы и осью перемещения измерительной головки определяют по измеренным значениям Hi, расстояний Ri и сигналам Ki. 2 ил.
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к технике определения смещения между измерительными осями.
Известен способ [1] определения смещения и угла рассогласования между осью вращения платформы и осью перемещения измерительной головки, включающий измерение координат перемещения измерительной головки относительно базовой поверхности с помощью специальных (дополнительных) инструментов и определение смещения и угла рассогласования по результатам измерения. Недостаток этого способа состоит в сложности определения (дополнительного конструирования) базовой поверхности, однозначно характеризующей с заданной точностью положение измерительной головки относительно этой поверхности, а также в необходимости использования дополнительного измерительного оборудования. Наиболее близким к предлагаемому является способ [2] определения смещения и угла рассогласования, заключающийся в том, что осуществляют вращение платформы с установленной на ней деталью, перемещают измерительную головку, измеряют расстояние от измерительной головки до точек поверхности детали и по полученным данным определяют смещение и угол рассогласования. Недостаток этого способа состоит в том, что точность определения смещения и угла рассогласования зависит от конструктивных параметров измерительной установки и регулировочных приспособлений, позволяющих уменьшать величину смещения и угла рассогласования. Точность установки и определения этих величин низка. Цель изобретения упрощение реализации способа за счет отсутствия необходимости регулировки и повышение точности измерения. Цель достигается тем, что способ определения смещения и угла рассогласования между осью вращения платформы и осью перемещения измерительной головки, заключающийся в том, что осуществляют вращение платформы с установленной на ней деталью, перемещают измерительную головку, измеряют расстояние от измерительной головки до точек поверхности детали, и само перемещение измерительной головки предполагает в качестве детали использование эталона в виде соосно расположенных цилиндров разных диаметров, ось симметрии которых совмещают с осью вращения платформы, при повороте платформы последовательно фиксируют значения перемещений измерительной головки Hi (i 1, 2) и соответствующие этим перемещениям расстояния Ri (i 1, 2) от оси измерительной головки до боковой поверхности цилиндра одного диаметра, угол рассогласования






























откуда

где




где R*j, Hj (j=1,2,3) координаты точек поверхности эталона. Как следует из /5/ и /6/, значение сигнала Ki для одного и того же диаметра измеряемой поверхности неизменно и может быть определено для любой точки поверхности с координатами R*j, H*j. Процесс определения смещения




реализуется следующим образом. На поверхности эталона радиусом R1 измеряются и фиксируются координаты точки R*1, H*1, а на поверхности эталона радиусом R2 измеряются и фиксируются координаты второй точки R*2, H*2. Затем формируются сигналы:

Определение смещения


находятся значения




В способе определение смещения


Формула изобретения



РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2