Устройство для измерения импеданса двухполюсника на свч
Использование: в измерительной технике для измерения параметров активных и пассивных приборов на СВЧ. Изобретение позволит увеличить точность измерения при сохранении возможности автоматизации процесса измерения, что достигается тем, что в устройство введен дополнительный отрезок линии, один конец которого разомкнут, а другой подсоединен через p-i-n-диод к центральному проводнику. 3 ил.
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к измерителям параметров активных и пассивных приборов на СВЧ.
Известно измерительное устройство, в котором используется метод определения импеданса двухполюсника на СВЧ по измеренным на частоте fo модулям коэффициентов отражения /Г/ и передачи Kp. Исследуемый двухполюсник включается как четырехполюсник в измерительное устройство, на входе и выходе которого располагаются стандартные нагрузки. Величины активной G и реактивной B составляющих двухполюсника рассчитываются из формулы (1)









и квадрата реактивной составляющей

Поскольку B2+B1+Bn, то из формул (3) и (6) находим выражение для B1

где G1 и G2 определяются из (2) и (5), а Bn из формулы (4). Видно, что в результате измерения четырех характеристик удается исключить неопределенность в знаке реактивной составляющей импеданса двухполюсника и тем самым существенно повысить точность измерения импеданса. Автоматизация процесса измерения достигается путем переключения p-i-n-диода. Полученный импеданс Y1= G1+jB1 пересчитывается в плоскость включения двухполюсника с помощью выражения:

где y1, V1, l1 волновая проводимость, скорость распространения волны и длина шлейфа соответственно. Пример. В качестве примера рассмотрим конструкцию микрополоскового устройства для измерения двухполюсника на СВЧ, выполненную на диэлектрической подложке толщиной h=0,5 мм с диэлектрической проницаемостью





Формула изобретения


РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3
Похожие патенты:
Изобретение относится к радиотехническим измерительным средствам
Изобретение относится к технике изложений на СВЧ и может быть использовано при определении S-параметров СВЧ-устройств
Изобретение относится к технике СВЧ-влагометрии и может быть использовано для измерения влажности различных материалов (бумага, ткани, нитки, сахарный песок и т.п.) как в лабораторных, так и в производственных условиях при технологическом контроле влажности диэлектрических материалов
Устройство для контроля заданного погонного сопротивления микропровода в стеклянной изоляции // 2042954
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в технологическом оборудовании при производстве микропровода в стеклянной изоляции
Изобретение относится к контрольно - измерительной технике и может быть использовано для оценки эффективности экранирования кабелей связи
Изобретение относится к технике измерений в диапазоне миллиметровых и, субмиллиметровых волн и может быть использовано для измерения действительной части диэлектрической проницаемости материалов образцов, имеющих прямой двугранный угол
Изобретение относится к системе и процессу для определения композиционного состава многокомпонентных смесей, которые являются либо неподвижными, либо текущими в трубах или трубопроводах, где компоненты имеют различные свойства полного электрического сопротивления и могут, или не могут, присутствовать в различных состояниях
Изобретение относится к электроизмерительной технике, а конкретно к мостовым методам измерения на переменном токе параметров трехэлементных двухполюсников
Способ расчета переходных процессов в сложных электрических цепях с распределенными параметрами // 2159938
Изобретение относится к расчету переходных процессов, в сложных электрических цепях с распределенными параметрами
Изобретение относится к способам измерения диэлектрической проницаемости и удельной проводимости жидких дисперсных систем и может быть использовано для контроля и регулирования величин диэлектрической проницаемости и удельной проводимости преимущественно пожаро-взрывоопасных и агрессивных жидких сред в процессе производства в химической и других областях промышленности
Способ определения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости импедансных материалов // 2194285
Изобретение относится к радиоизмерениям параметров поглощающих диэлектрических материалов на СВЧ, в частности к измерению комплексной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь композиционных материалов типа углепластиков
Изобретение относится к измерению электрических величин и может быть использовано в производстве существующих и новых поглощающих материалов типа углепластиков, применяется в СВЧ диапазоне, а также для контроля электрических параметров диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь
Изобретение относится к электронной технике
Изобретение относится к измерительной технике - к области измерения и контроля электрофизических свойств жидких технологических сред
Изобретение относится к области радиоизмерений параметров поглощающих диэлектрических материалов на СВЧ, в частности к измерению комплексной относительной диэлектрической проницаемости композиционных материалов типа углепластиков, характеризующихся большими значениями комплексной относительной диэлектрической проницаемости, имеющих шероховатую поверхность
Изобретение относится к области систем обработки информации и может быть использовано при управлении линией электропередачи (ЛЭП), на основе ее Г-образной адаптивной модели, перестраиваемой по текущей информации о параметрах электрического режима ЛЭП