Реактор для плазменного осаждения
Использование: изобретение относится к плазменной технике и может быть использовано для плазменного осаждения материалов в микроэлектронике. Сущность изобретения: редактор содержит корпус в виде трубы, на одном конце которого размещен патрубок для откачки реактора, а на другом - герметизирующая крышка. ВЧ-электроды размещены с внешней стороны корпуса, экранирующий элемент в виде диска из осаждаемого материала размещен внутри корпуса перед патрубком для откачки реактора. 1 ил. , 2 табл.
Изобретение относится к плазменной технике и может быть использовано при конструировании установок для плазменного осаждения материалов в микроэлектронике, в частности при формировании антиадгезионных покрытий на фотошаблонах.
Известны реакторы объемного типа с корпусом в виде трубы, выполненным из диэлектрического материала. Они широко применяются в установках, используемых для плазменных обработок подложек, причем как для проведения процессов травления материалов или удаления фоторезиста, так и для осаждения слоев материалов (Плазменная технология в производстве СБИС. Под ред. Н. Айнсбрука и Д. Брауна. Пер. с анг. , М. : Мир. 1987, с. 170). Преимуществом этого типа реактора является простота их конструкции и высокая производительность реализуемых с их помощью плазменных обработок. Недостатком этих реакторов является неравномерность осаждаемых пленок. Известно устройство планарного реактора для процессов плазменного осаждения (заявка Японии N 60-123033, кл. Н 01 L 21/301, опубл. 1985), содержащее размещенные внутри заземленного корпуса плоскопараллельные ВЧ-электрод-подложкодержатель и заземленный электрод, выполненный в виде конуса из осаждаемого материала и размещенный над обрабатываемой подложкой. Преимущество данного реактора заключается в высокой равномерности осаждаемых пленок, но подобные системы отличаются низкой производительностью из-за малого количества одновременно обрабатываемых подложек. Наиболее близким техническим решением к заявляемому устройству является известное устройство реактора объемного типа для плазменных обработок (Новейшая полупроводниковая технология. Плазменные методы формирования конфигураций элементов полупроводниковых приборов и интегральных схем. М. , ОНТИ, 1979, с. 42-52), содержащее корпус в виде трубы из диэлектрического материала, на одном конце которого выполнен патрубок для откачки реактора, герметизирующую крышку на втором конце трубы. ВЧ-электроды, размещенные с внешней стороны корпуса, патрубки для ввода рабочих газов, размещенные внутри корпуса, и кассеты для обрабатываемых подложек. Это наиболее простой по конструкции и традиционный реактор, используемый в полупроводниковом производстве для плазменных обработок (главным образом для удаления фоторезиста с полупроводниковых подложек после проведения фотолитографических процессов). Он позволяет получить наиболее высокую производительность плазменных обработок. Однако он непригоден для реализации процессов плазменного осаждения материалов из-за высокой неравномерности формируемых пленок и существенной зависимости скорости осаждения от количества одновременно обрабатываемых подложек (так называемый загрузочный эффект), что приводит к низкой воспроизводимости плазменных обработок. Цель изобретения - повышение равномерности осаждаемых пленок и воспроизводимости процессов плазменного осаждения. Цель достигается тем, что реактор для плазменного осаждения, включающий корпус в виде трубы, на одном конце которой выполнен патрубок для откачки реактора, герметизирующую крышку на втором конце корпуса, патрубки для ввода рабочих газов, размещенные с внешней стороны корпуса ВЧ-электроды, дополнительно содержит экранирующий элемент, выполненный в виде диска из осаждаемого материала и размещенный внутри корпуса перед патрубком для откачки реактора, при этом диаметр экранирующего элемента составляет 0,66-0,98 внутреннего диаметра корпуса. Сущность изобретения поясняется чертежом. Реактор содержит корпус 1 в виде цилиндрической трубы. На одном конце корпуса выполнен патрубок 2 для откачки реактора. Герметизирующая крышка 3 размещена на другом конце трубы. ВЧ-электроды 4 размещены с внешней стороны корпуса, патрубки 5 для ввода газовых реагентов - внутри корпуса перед герметизирующей крышкой, кассета 6 для обрабатываемых подложек во время обработок расположена внутри трубы. Экранирующий элемент 7 в виде диска из осаждаемого материала размещен перед патрубком 2 для откачки реактора. Устройство работает следующим образом. В кассету 6 загружают обрабатываемые подложки (это могут быть кремниевые пластины или фотошаблоны), затем кассету 6 загружают в корпус 1 реактора, закрывают реактор герметизирующей крышкой 3. Через патрубок 2 для откачки реактора производят вакуумную откачку. Вводят газовые реагенты в реактор через патрубки 5, подают ВЧ-напряжение на ВЧ-электроды 4, и в реакторе зажигается плазма тлеющего разряда. В результате химических взаимодействий активных частиц плазмы в разряде, на стенках корпуса реактора 1, кассете 6, экранирующем элементе 7 и на поверхности обрабатываемых подложек происходит осаждение пленки. Наличие экранирующего элемента 7 перед патрубком 2 откачки резко повышает равномерность и воспроизводимость процесса осаждения. Очень важно, чтобы экранирующий элемент был выполнен из того же материала, что и формируемая пленка. В табл. 1 представлены сравнительные данные о зависимости результатов проведения процессов осаждения антиадгезионных пленок фторуглеродных соединений (толщиной
Формула изобретения
РЕАКТОР ДЛЯ ПЛАЗМЕННОГО ОСАЖДЕНИЯ, включающий корпус в виде трубы с патрубком для откачки реактора на одном конце и герметизирующей крышкой на другом, патрубки ввода рабочих газов, ВЧ-электроды, размещенные с внешней стороны корпуса, отличающийся тем, что он дополнительно содержит экранирующий элемент, выполненный в виде диска из осаждаемого материала и размещенный в корпусе перед патрубком для откачки реактора, при этом диаметр экранирующего элемента составляет 0,66 - 0,98 внутреннего диаметра корпуса.РИСУНКИ
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3
Похожие патенты:
Способ изготовления полупроводниковых слоев // 1839713
Изобретение относится к электронной технике и направлено на улучшение качества слоев за счет повышения концентрации носителей в них и повышения воспроизводимости их параметров, что достигается тем, что в способе получения эпитаксильных слоев арсенида галлия p-типа проводимости методом пиролиза металлорганических соединений галлия в среде водорода эпитаксиальное наращивание проводят в присутствии избытка арсина при соотношении концентраций мышьяка и галлия в газовой фазе 5 35
Способ формирования пленок двуокиси кремния // 1820782
Изобретение относится к микроэлектронике, в частности к технологии осаждения пленок двуокиси кремния из газовой фазы, и может быть использовано при производстве сверхбольших интегральных схем
Способ формирования пленок двуокиси кремния // 1820781
Изобретение относится к технологии изготовления электронной техники, в частности к технологии осаждения пленки двуокиси кремния из газовой фазы, и может быть использовано для создания диэлектрических слоев при производстве сверхбольших интегральных схем
Изобретение относится к микроэлектронике, а более конкретно - к технологии осаждения пленок кремния из газовой фазы, и может быть использовано при создании обкладок накопительных конденсаторов и формировании рельефного рисунка в технологических слоях
Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано при получении методом пиролитического синтеза эпитаксиальных структур для изготовления интегральных схем и приборов СВЧ - электроники
Изобретение относится к полупроводниковой технологии, в частности к изготовлению источников света с излучением в фиолетовой области спектра
Способ получения пленок оксида кадмия // 1649956
Изобретение относится к электронной технике, а именно к технологии получения пленок оксида кадмия на инородных подложках, и может быть использовано при формировании структур, содержащих тонкие слои полупроводниковых материалов с широкой запрещенной зоной в оптоэлектронике
Способ изготовления мдп-транзисторов // 1597018
Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых приборов, в частности МДП - транзисторов на подложке арсенида галлия
Изобретение относится к технологическому оборудованию для автоматизированного производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем, в частности к устройствам газофазного наращивания слоев при быстром термическом воздействии
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых тонких пленок многокомпонентных твердых растворов и может использоваться при выращивании тонких пленок контролируемого состава, в том числе эпитаксиальных, из паровой фазы на разнообразных подложках
Изобретение относится к технологии получения пленок аморфного кремния
Тонкие пленки гидрогенизированного поликристаллического кремния и технология их получения // 2227343
Изобретение относится к новым материалам электроннной техники и технологии его получения