Способ получения пленки аморфного гидрогенизированного кремния
Использование: в твердотельной электронике. Сущность изобретения: способ включает разложение моносилана в плазме тлеющего разряда с образованием продуктов реакции и осаждение из них пленки в плазме тлеющего разряда на подложку. Новым является то, что при разложении и осаждении используют плазму тлеющего разряда с частотой 45-65 кГц. Техническим результатом изобретения является повышение скорости роста осаждаемой пленки. 1 табл.
Изобретение касается области получения пленок аморфного гидрогенизированного кремния путем разложения кремнийсодержащей газовой смеси и может быть использовано в твердотельной электронике.
Известен способ получения пленок аморфного гидрогенизированного кремния, который заключается в разложении газовой смеси моносилан - гелий (до 60 об. %) в высокочастотном (13,56 мГц) тлеющем разряде при температурах подложки 250 - 350oC (J. P. Kleider, C. Longeaud. R. Roca i Cabarrocas J. of Non - Cryst. Solids, 1993, V. 164-166, p. 403-406). Способ позволяет получать пленки приборного качества при повышенных скоростях роста. Однако это достигается только при высоких температурах осаждения (до 350oC). Кроме того, необходимость использования гелия в газовой смеси усложняет и удорожает процесс получения пленок. Наиболее близким по совокупности признаков к заявляемому является способ получения пленки аморфного гидрогенизированного кремния путем разложения моносилана в атмосфере гелия (2 об.%) в плазме высокочастотного (13,56 мГц) тлеющего разряда с образованием продуктов реакции и осаждения из них пленки в плазме тлеющего разряда на подложку (R. Roca i Cabarrocas, A. Lloret Applied Physics, 1994, V. A58, p. 365 - 369). Указанным способом удается получать пленки приборного качества только при низких скоростях роста (0,7 - 1,25


Формула изобретения
Способ получения пленки аморфного гидрогенизированного кремния путем разложения моносилана в плазме тлеющего разряда с образованием продуктов реакции и осаждения из них пленки в плазме тлеющего разряда на подложку, отличающийся тем, что при разложении и осаждении используют плазму тлеющего разряда с частотой 45 - 65 кГц.РИСУНКИ
Рисунок 1
Похожие патенты:
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых тонких пленок многокомпонентных твердых растворов и может использоваться при выращивании тонких пленок контролируемого состава, в том числе эпитаксиальных, из паровой фазы на разнообразных подложках
Изобретение относится к технологическому оборудованию для автоматизированного производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем, в частности к устройствам газофазного наращивания слоев при быстром термическом воздействии
Подложкодержатель // 2092930
Изобретение относится к области получения пленок на подложках, конкретнее к способам осаждения из газовой фазы, особенно к плазмохимическим методам осаждения полупроводниковых, диэлектрических или проводящих пленок различной кристаллической структуры (моно-, поли-, микрокристаллических или аморфных) и может быть использовано для оптимизации параметров технологического процесса
Способ получения слоев аморфного германия // 2062524
Изобретение относится к технологии получения пленок аморфного кремния
Тонкие пленки гидрогенизированного поликристаллического кремния и технология их получения // 2227343
Изобретение относится к новым материалам электроннной техники и технологии его получения
Изобретение относится к полупроводниковой электронике, а именно к получению многослойных эпитаксиальных структур кремния со сверхтонкими слоями газофазным методом
Способ получения алмазоподобных пленок для инкапсуляции солнечных фотоэлектрических элементов // 2244983
Изобретение относится к материаловедению, к защите материалов от внешних и агрессивных воздействий, в частности к покрытию рабочей поверхности солнечного фотоэлектрического элемента (СФЭ) для защиты от химического, радиационного и механического разрушения
Способ получения тетрафторсилана, метод анализа примесей в тетрафторсилане и газ на его основе // 2274603
Изобретение относится к химической технологии, а именно к способу получения тетрафторсилана и газу на его основе
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых материалов и может быть использовано при создании полупроводниковых приборов
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых материалов и может быть использовано при создании полупроводниковых приборов