Индикатор магнитных полей для магнитной дефектоскопии

 

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества ферромагнитных изделий на наличие дефектов сплошности. Целью изобетения является расширение области использования Это достигается тем, что в индикаторе магнитных полей для магнитной дефектоскопии, представляющем собой частицы магнитного порошка, частицы порошка равномерно распределены в немагнитной основе по всему ее объему или покрывают ее поверхность, материал основы выбран из условия р «р , где оси п р - удельная плотность материала основы; р оснп удельная плотность материала магнитного порошка 1ил

(19) ЕЦ (11) 2 (51) 002 N27 85

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ

К ПАТЕНТУ

Комитет Российской Федерации по патентам и товарнт тм знакам (21) 4921881!28 (22) 26.0391 (46) 30.10.93 Бюл Ма 39-40 (71) Могилевский машиностроительный институт

P2) Новиков ВА; Романов 8А

{73) Могилевский машиностроительный институт (54) ИНДИКАТОР МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ ДЛЯ

МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ (57) Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества ферромагнитных изделий на наличие дефектов сплошности Целью изобетения является расширение области использования. Это достигается тем, что в индикаторе магнитных полей дпя магнитной дефектоскопии. представляющем собой частицы магнитного порошка, частицы порошка равномерно распределены в немагнитной основе по всему ее объему или покрывают ее поверхность, материал основы выбран из условия р <ср, где осн и р — удельная плотность материала основы р оск и удельная плотность материала магнитного порошка

1 ил, 2002250

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества ферромагнитных иэделий на наличие дефектов сплошности.

П реимуществен но изобретение и реднаэначено для контроля изделий с грубой поверхностью, например, поврежденных коррозией.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к изобретению является индикатор магнитных полей для магнитной дефектоскопии, и редставляющий собой монолитные частицы магнитного порошка. диаметром до 1...2 мм, предназначенные для обнаружения дефектов в иэделиях из ферромагнитных материалов (1).

Недостатком известного индикатора является узкая область использования, в частности из-эа низкой чувствительности контроля изделий с грубой поверхностью, а также объектов, находящихся под слоем жидкости, Укаэанный недостаток обусловлен тем, что грубейшие неровности поверхности контролируемого иэделия будут создавать препятствия скоплению частиц порошка на поверхности изделия в местах дефекта. Толстый слой жидкости над поверхностью контролируемого объекта препятствует наблюдению скоплений порошка, особенно в том случае, когда жидкость имеет малую прозрачность.

Изобретение направлено на расширение области использования индикаторов за счет обеспечения возможности контроля изделий с грубой поверхностью, а также изделий, находящихся под слоем жидкости.

При контроле изделий с грубой поверхностью, например, сильно поврежденных коррозией, имеющих чешуйчатость валика шва, или поверхностей, подвергнутых наплавке, без предварительной ее механической обработки магнигопорошковые метод кОнтроля с использованием монолитных частиц порошка неэффективен. так как скопление частиц порошка затруднено. Если изделие находится под слоем жидкости, особенно в том случае, когда жидкость имеет малую прозрачность, то это препятствует наблюдению скоплений порошка в местах дефектов сплошности, Решение поставленной задачи позволит расширить область использования индикаторов магнитных полей за счет появления возможности контроля изделий с грубой поверхностью, а также изделий, находящихся под слоем жидкости.

Сущность изобретения состоит в том, что в индикаторе магнитных полей для магнитной дефектоскопии, представляющем собой частицы магнитного порошка, в нем дополнительно частицы порошка равномерно распределены в немагнитной основе по всем ее объему или покрывают ее поверхность, материал основы выбран из условия ро,«рп, где рос — удельная плотность материала основы; рп — удельная плотность материала магнитного порошка.

Данный индикатор магнитных полей наиболее эффективен, если поверхность контролируемого объекта покрыта слоем жидкости. Воэможность контроля изделий с грубой поверхностью объясняется значительным снижением сил трения плавающего индикатора по сравнению с лежащим на объекте контроля с грубой поверхностью.

Индикатор магнитных полей в виде легковесных частиц можно испольэовать также для обнаружения находящихся под слоем жидкости и намагниченных полем Земли массивных ферромагнитных объектов.

Сущность изобретения поясняется чертежом, где изображен вид частиц для индикации магнитных полей.

Частицы могут иметь следующий вид.

Немагнитная основа, например, зернистый пенопласт, покрыта "растворенным" в лаке ферромагнитным порошком (фиг. 1,а). Частицы порошка равномерно распределены по всему объекту частицы (фиг. 1,б).

Индикатор работает следующим- образом, Индикатор будет плавать на поверхности жидкости ОИ<рж), где ри и рж — соответственно плотность частицы индикатора и плотность жидкости. Под действием сил притяжения, обусловленных полями дефектов, легковесные частицы начнут скапливаться в местах несплошностей, повторяя их очертания, Для таких индикаторов не будут создавать препятствий грубейшие по-. верхностные неровности.

Применение изобретения позволит расширить область использования индикаторов, (56) 1. Неразрушающий контроль металлов и изделий. Справочник. Под ред. Самойловича Г.С., M. Машиностроение, 1976, с. t57.

2002250

Составитель В. Новиков

Редактор Л. Народная Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор i C, Патрушева

Заказ 3171

Тираж Подписное

НПО "Поиск" Роспатента

113035. Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, l01

Формула изобретения

ИНДИКАТОР МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ

ДЛЯ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ, и редставляющий собой частицы магнитного порошка, отличающийся тем, что, с целью 5 расширения области использования. частицы. порошка равномерно распределены в немагнитной основе по всему ее объему или покрывают ее поверхность, материал основы выбран из условия р «рп, где р - удельная AhoTHQcfb материала основы. рл - удельная плотность материала магнитного порошка.