Способ измерепия собственного

Авторы патента:

H01J40/16 - имеющие фотоэмиссионный катод, например щелочные фотоэлементы (работающие с использованием вторичной эмиссии H01J 43/00)

200036

Составитель И. Н, Еремина

Редактор П. И. Шлайи Техред Л. Я. Бриккер Корректоры: С. А. Башлыкова и Е. Н. Гудзова

Заказ 2913/15 Тираж 535 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 точности и стандартизации измерений, фотокатод фотоэлектронного умножителя облучают световой вспышкой с известными числом квантов и спектральной характеристикой от стандартного источника света с цветовой темпер атурой 2548 К.

ОПИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

2ООО36

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Кл. 21д, 29/40

Заявлено 07.Х.1966 (№ 1106069/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 29Х11.1967. Бюллетень № 16

Дата опубликования описания 14.IX.1967

МПК H 011

УДК 621.383.292 (088,8) Комитет пс делам изобретеиий и открытий ори Совете Министров

СССР!

Авторы изобретения

А. М. Потапов и А. E. Меламид

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СОБСТВЕННОГО

СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО РАЗРЕШЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРОННОГ

УМНОЖИТЕЛЯ

Предмет изобретения

Известный способ измерения собственного разрешения фотоэлектронных умножителей (ФЭУ) основан на использовании в качестве эквивалентного источника света, облучающего фотокатод исследуемого ФЭУ, тиратрона, работающего в режиме принудительного зажигания и гашения. При этом получают импульсы, близкие по форме и интенсивности световым импульсам, излучаемым кристаллом

NaITI при облучении его у-источником. В качестве у-источника обычно используют Cs<».

Однако получаемые результаты измерений не однозначны из-за необходимости калибровать источник света по интенсивности относительно кристалла NalTI, облучаемого у-источником, так как практически нельзя определить количество квантов в эквивалентных световых вспышках. То есть, на измерения накладывается погрешность, вызванная неоднородностью кристалла NaITI и несовпадением спектрального состава вспышки от эквивалентного источника света и сцинтилляций кристалла. Это приводит к невозможности оценки собственно амплитудного разрешения

ФЭУ без учета влияния кристалла.

Предложенный способ отличается от известного тем, что фотокатод фотоэлектронного умножителя облучают световой вспышкой с известными числом квантов и спектральной характеристикой, В качестве источника вспышек используется стандартный источник света с цветовой температурой 2548 К, для которого можно выделить любой заранее заданный участок спектра и точно установить количество квантов в этом спектральном интервале.

Управляя интенсивностью и спектральным составом излучения с помощью обычных средств световой оптики, можно получить стандартную вспышку, по интенсивности и

10 спектральному составу полностью эквивалентную сцинтилляционной вспышке от у-источника в идеальном кристалле.

Достоинство предложенного способа заключается в том, что он позволяет определить

15 собствеппос спектрометрпческое разрешение

ФЭУ и собственное разрешение различных выпускаемых сцинтилляционных кристаллов путем сравнения величины собственного амплитудного разрешения ФЗУ с амплитудным

20 разрешением, полученным при помощи сцинтилляционпого кристалла и у-источника.

25 Способ измерения собственного спектрометрического разрешения фотоэлектронного умножителя путем амплитудного анализа выходных импульсов при облучении фотоэлектронного умножителя световыми вспышками, от30 личающий ся тем, что, с целью повышения