Устройство для контроля параметров интегральных схем
Использование: изобретение относится к измерительной технике, и может быть использовано для автоматического контроля и сортировки интегральных схем и позволяет расширить технологические возможности за счет контроля при повышенной и пониженной температуре. Сущность изобретения: устройство для контроля параметров интегральных-схем содержит магазин 1 с пеналами 2 для интегральных схем 3, приводом 4, датчиком 5 и направляющими 6 для интегральных схем 3, под ним имеется отсекатель 7, выполненный в виде скобы 8 и заслонками 9 с приводом 10 и направляющими 11, под ним находится камера тепла, состоящая из теплоизолирующего корпуса 12,на котором укреплены направляющие 13,датчик 14 переполнения ИС в бараба не 15, термодатчик 16, барабан 15, измерительный блок 17 и блок термонагревания 18, далее имеется приспособление 19 для сортировки и приема ИС 3. 2 ил.
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК. ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ
ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАЙИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
4 О
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
1 (21) 4898492/12 (22) 03.01;91 (46) 15;12.92. 6ion, N. 46 . (71) Опытно-конструкторское бюро Производственного объединения "Протон" (72) Н. П, Афанасьев (56) Авторское свидетельство СССР
М 1682286, кл. В 65 Н 3/24„ 27;04.90, (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ. СХЕМ (57) Использование: изобретение относится к измерительной технике, и может быть использовано для автоматического контроля и сортировки интегральйых схем и позволяет расширить технологические возможности за счет контроля при повышенной и пони„„ Ж„„1780869 А1 (51)5 В 07 С 5/28, В 65, 3 4, »
2 женной температуре. Сущность изобретения: устройство для контроля параметров интегральйых-схем содержит магазин 1 с пеналами 2 для интегральных схем 3, приводом 4, датчиком 5 и направляющими 6 для интегральных схем 3, под ним имеется отсекатель 7, выполненный в виде скобы 8 и заслонками 9 с приводом 10 и направляющими 11, под- ним находится камера тепла, состоящая из теплоизолирующего корпуса
12, на котором укреплены направляющие
13, датчик 14 переполнения ИС в барабане
15, термодатчик 16, барабан 15, измерительный блок 17 и блок термонагревания 18, далее имеется приспособление 19 для сортировки и приема ИС 3. 2 ил.
1780869
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автоматического контроля и сортировки интеграл ьных схем.
Целью изобретения является расшире- 5 ние технологических возможностей за счет контроля при повышенной температуре.
На фиг..1 изображен общий вид устройства;:на фиг. 2 — барабан для термовыдержки интегральных схем.: . 10
Устройство для контроля параметров интегральных схем содержит магазин 1 с пеналами 2 для интегральных схем 3, приводом 4, датчиком 5 и направляющими 6 для .интегральных схем 3, под ним имеется отсе- 15 катель 7, выполненный s виде скобы 8 и заслонками 9 с приводом 10 и направляющими 11, под ним находится тейловая камера, со ст оящая из термоизолирующего корпуса 12, на котором укреплены направ- 20 ляющие 13, датчик 14 переполненйя интегральных:схем 3 в барабане 15, термодатчик
16, барабан 15; измерительный бок 17 и .. блок термонагревания 18, далее" ймеется приспособление 19 для сортировки и при- 25 ема интегральных схем 3.
Устройство работает следующим образом .
В пейалы 2 загружаются йнтегральнь1е схемы 3. Пеналы устанавливаются в ячейку 30 магазина 1, Магазин подводит при помощи привода 4 на загрузочную позицию, которую:определяет датчик 5, ячейку"с заполненным пеналом, По направляющим 6, 11 интегральная схема 3 подается на нижнюю 35 заслонку 9 отсекателя 7. При помощи привода 10 отсекатель 7 совершает прямой ход, 8 результате нижняя заслонка 9 открывается, а верхняя заслонка 9 прижимает следующую интегральную схему 3 к 40 направляющей 11. Нижняя интегральная схема 3 освобождается и попадает в канал барабана 15, при заполнении канала интегральная схема перекрывает датчик 14. Ба45 рабан поворачивается, К загрузочной позиции походит следующий канал, Рядом с загрузочной позицией противоположно направлению вращения находится выгрузочная позиция. В результате этого, когда барабан. подводит интегральную схему 3 к выгруэочной позиции, они успевают прогреться до заданной температуры. Затем . интегральные схемы 3 через отсекатель попадают по одной в измерительный блок 17 и в приемно- .сортировочное устройство 19.
Нагрев камеры осуществляется при помощи нагревателя 18, охлаждение — при помощи впрыска жидкого азота, Регулировка осуще-. ствляется при помощи термодатчика 16.Преимущество данного устройства заключается в том, что оно позволяет прове» рять ийтегральные схемы при повышенной и пониженной температуре.:
Формула изобретения
Устройство для контроля параметров интегральных схем, содержащее магазин с направляющими, отсекатель, содержащий скобу с двумя заслонками, имеющую привод поступательного движения, измерительное прйспособление и средство для сортировки и приема проверенных интегральных схем, выполненное в виде набора модулей для групп контролируемых схем, каждый из которых содержит каретку с пе-. налами, имеющую шаговый привод, датчики положения и эаполнения пенала, и сортиро-. вочную стрелку для брака и годных ийтегральных схем, имеющую привод поступательного движения, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью расширения технологических возможностей, между отсекателем и приемником установлена введенная в устройство тепловая камера, которая снабжена барабаном с направляющими для интегральных схем, подвергаемых термовыдержке. и отсекателем для поштучной подачи интегральных схем.
1780869
Составитель И.Афанасьев
Техред M,Ìîðãåíòàë Корректор А.Мотыль
Редактор
Производственно-издательский комбинат "Патент", r, Ужгород, ул,Гагарина, 101
Заказ 4235 - Тираж - Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„4/5


