Монохроматор рентгеновского излучения

 

Изобретение относится к рентгеновской спектроскопии и может применяться при исследовании степени совершенства кристаллов и пленок. Цель изобретения - повышение светосилы монохроматора. Предлагаемый малогабаритный двукристальный монохроматор рентгеновского излучения не требует взаимной настройки двух кристаллов 2 и 3, Последние находятся в постоянном оптическом контакте с призмой 1 треугольного сечения(из того же материала, что и кристаллы преломляющий угол которой равен 180° - 26 , где в - угол Брэгга. Монохроматор может обеспечить получение практически параллельного с расходимостью несколько угловых секунд пучка монохроматического ( ДА А) рентгеновского излучения,использование которого в рентгеноструктурном анализе дает большой выигрыш в разрешающей силе дифрактометром. 1 ил. И с

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)5 G 01 N 23/20

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

) а (21) 4748839/25. (22) 08.08.89 (46) 07.03.92. Бюл. М 9 (71) Ростовский-на-Дону институт сельскохозяйстввнного машиностроения (72) И.Я.Никифоров (53) 621.386 (088.8) (56) Herststeln F.Н. Methods of oftainlng

monochromatIc х-гауз and neutrons.

Internatlon Union of Grystalography. 1967.

Wllllamson R.S. et а!.0ооЫе crystal x-гау

monochromator colllmator. Rev. Sci. Instr., 1959, ч.30, 908-910.

Drahokoupll J. Monochromator unit with

high resolving power. Crech.J.. Phls., 1962, ч,12. 752-763.

Matsushlta Т.А. Method of Obtatnlng a

HIghly Parallel and Monochromatic х — ray

8eam by Successive Dlffractton. J. Appl.

Cryst. 1974, v.7, 254-259.

„„5Ц „„1718067A1. (54) MOHOXPOMATOP РЕНТГЕНОВСКОГО,, ИЗЛУЧЕНИЯ (57) Изобретение относится к рентгеновской спектроскопии и может применяться при исследовании степени совершенства кристаллов и пленок. Цель изобретения— повышение светосилы монохроматора. Ilредлагаемый малогабаритный двукристальный монохроматор рентгеновского излучения не требует взаимной настройки двух кристаллов 2 и 3. Последние находятся в постоянном оптическом контакте с призмой 1 треугольного сечения(из того же материала, что и кристаллы),преломляющий угол которой равен 180 — 20, где 0 — угол Брэгга.

Монохроматор может обеспечить получение практически параллельного с расходимостью несколько угловых секунд пучка монохроматического (ЛХ 10 А) рентгеновского излучения, использование которого в рентгеноструктурном анализе дает большой выигрыш в разрешающей силе дифрак. тометром. 1 ил, 1718067

Составитель В, Инякина

Техред М.Моргентал Корректор О. Ципле

Редактор О, Хрипта

Заказ 875 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент",.r. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Изобретение относится к рентгеновской спектроскопии и может применяться при исследовании степени совершенства кристаллов и пленок.

Известны трехкристальные спектрометры, в которых первые два плоских кристалла служат монохроматором рентгеновского излучения, а третий кристалл является исследуемым образцом. .Каждый из кристаллов крепится в отдельном кристаллодержателе, который позволяет поворачивать кристалл вокруг горизонтальной оси для установки в отражающее положение под углом Брзгга к пучку рентгеновских лучей, а также поворачивать кристалл вокруг горизонтальной оси для настройки прибора. Кроме того, должно быть три устройства; позволяющие устанавливать кристаллы так, чтобы отражающие плоскости кристаллов были параллельны осям вращения кристаллодержателей. В результате получается прибор со многими степенями свободы, что делает его настройку крайне трудоемкой, а прибор неустойчивым к случайным механическим воздействиям. Поэтому такие приборы не применяются на производстве (на заводах и мастерских), а используются только в исследовательских лабораториях.

Наиболее близким по технической сути к предлагаемому является монохроматор, в котором использованы две отражающие плоскости одного и того же кристалла, который один заменил первых два кристалламонохроматора. Этот кристалл вырезается так, что две его части соединены перемычкой, приклеивается на специальное устройство, которое позволяет кристалл немного согнуть так, что кристаллографические пло. скости (620) и (333) кристалла кремния оказываются в последовательном отражающем положении, . Недостаток такого монохроматора состоит в том, что подобранные кристаллографические плоскости кристалла кремния не являются оптимальными с точки зрения интенсивности отраженного луча, что приводит к низкой светосиле монохроматора в целом.

5 В предлагаемом монохроматоре два одинаковых монокристалла вырезаются параллельно интенсивной отражающей кристаллографической плоскости и устанавливаются на оптический контакт с

10 призмой, преломляющий угол, который определяет и фиксирует угол между кристаллзми. Монохроматор изготавливается на один определенный тип рентгеновского излучения, фиксированную длину волны. Сте15 пень монохроматизации излучения определяется родом (кварц, кремний и т.д.) и качеством используемых кристаллов и может достигать ЬА 10 A и меньше.

На чертеже представлена принципи20 альная схема монохроматора..

Монохро. -атор состоит из призмы 1, к которой прижаты отражающие кристаллы 2 и 3. и коллиматора 4. Верхняя поверхность призмы 1 расположена ниже плоскости хо25 да рентгеновских лучей.

Монохроматор работает следующим образом.

Рентгеновское излучение последовательно отражается от кристаллов 2 и 3, а

30 затем проходит через коллиматор 4, ограничивающий вертикальную расходимость рентгеновских лучей.

Формула изобретения

35 Монохроматор рентгеновского излучения, включающий два диспергирующих элемента жестко соединенных друг с другом, отличающийся тем, что, с целью повышения светосилы монохроматора, в ка40 честве диспергирующих элементов использованы две монокристаллические пластинки,.установленные на призме с углом 180 — Щ, где 8j; — брзгговский угол, при этом пластинки прижаты к граням угла

45 приамы 180О-Щ и выступают над ней.

Монохроматор рентгеновского излучения Монохроматор рентгеновского излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области исследований поверхности твердого тела посредством дифракции рентгеновских лучей и может быть использовано при создании и контроле акустоэлектронных приборов, использующих поверхностные акустические волны

Изобретение относится к области исследований кристаллических веществ посредством дифракции рентгеновских лучей и может быть использовано при создании пьезорезонаторов

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу и может применяться для неразрушающего определения напряженного состояния в крупногабаритных конструкциях

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа, а именно к средствам для исследования физических ихимических свойств веществ с помощью рентгеновского излучения, и может быть использовано при конструировании рентгеновских спектрометров, дифрактометров и пр

Изобретение относится к рентгено- Структурному анализу материалов с кристаллической и частично кристаллической структурой и .может использоваться для определения первой инвариантной величины тензора деформации с целью оценки деформационного состояния образца

Изобретение относится к электроннозондовым методам определения кристаллографических параметров материалов и структур с использованием структурного контраста при каналировании электронов

Изобретение относится к рентгеновскому приборостроению, в частности к устройствам с приспособлениями для автоматической смеси, установки и перемещения образцов

Изобретение относится к области технической Физики и может быть использовано в аппараг/ре для анализа тонких приповерхностных слоев монокристаллов методом регистрации вторичной эмиссии

Изобретение относится к физическому материаловедению, конкретно к средствам экспрессного контроля продуктов технологического процесса магниевого производства

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа, а именно к способам рентгенографического определения угла отражения для недеформированного межплоскостного расстояния образцов из материалов с кристаллической или частично-кристаллической структурой, на поверхности которых может иметь место плоско-напряженное состояние

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов
Наверх