Способ измерения длительности наносекундных импульсов известной ал1плитуды
ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт, свидетельства ¹
Заявлено 30. т>11.1964 (№ 914392>26-9) Кл. 21ат, 71 с присоединением заявки ¹
МПК С 01г
УДК 621.317.326(088.8) Приоритет
Опубликовано 18.Х11.1965. Бюллетень М 1
Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
Дата опубликования описания 8.11.1966
Автор изобретения
Ю. A. Чурин
Заявитель
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИТЕЛЬНОСТИ НАНОСЕКУНДНЫХ
ИМПУЛЬСОВ ИЗВЕСТКОЙ АМПЛИТУДЪ|
Известные способы измерения коротких импульсов трудоемки, не дают необходимой точности и обычно не рассчитаны на импульсы небольшой амплитуды. Кроме того, они не позволяют измерять длительность одиночных импульсов.
Описываемый способ, при котором используются свойства триггерной схемы на туннельном диоде, срабатывающей от входных импульсов тока с длительностью, большей определенной величины и зависящей как от тока смещения диода, так и от его параметров и амплитуды сигнала, позволяет устранить указанные недостатки.
На фиг. 1 изобра>кена схема устройства, осуществляющего описываемый способ; фиг. 2 приведен калибровочный график определения длительности импульса.
Схема состоит из миллиамперметра 1, шунтирующей емкости 2, туннельного диода 8, кнопки сброса 4 и индуктивности 5. Она работает следующим образом.
Миллиамперметром 1 определяется величина порогового тока смещения, при котором триггер сбрасывает от входного сигнала (о срабатывании схемы можно судить по уменьшению тока смещения) и последующего определения длительности импульса по калибровочному графику. Величина шунтирующей емкости 2 подбирается таким образом, чтобы
3 / крутизна — - на участке измерения была с г.к в 1 одной стороны достаточно малой для обеспечения точности измерения. а с другой — достаточно большой, что позволяет расширить диапазон измсряемых длительностей.
Калибровочный график мо>кет быть построен либо зкспер и мента tbH1 1х1 Il)Tell Ilptt Itctlo lbзовании генератора импульсов точной амплитуды с достаточно крутыми фронтами, либо путем теоретического расчета.
Описываемый способ позволяет измерять редко повторяющиеся и непериодические импульсы с автоматизацией процесса измерения, например при массовой разбраковке по временным характеристикам высокочастотных полупроводниковых приборов.
20 Предмет изобретения
Способ измерения длительности наносекундных импульсов известной амплитуды при помощи подачи напряжения измеряемого импульса на триггерную схему, от,т»кг»ощ>>й>ся тем, что, с целью увеличения точности и упрощения процесса измерения, длительность импульса определяют по величине тока смещения диода и тока входного импульса по калибровочному графику, 177477
Nue 1
ЧЬг Г
Заказ 7, 5 Тираж 1100 Формат бум. 80+90 /8 Объем 0,13 изд. л. Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прн Совете Министров СССР
Москва, Центр, пр. Серова, д, 4
Типография, пр, Сапунова, 2
Составитель М. Сухарев
Редактор H. Джарагетти Техред T. П. Курилко
Корректоры; Т. H. Костикова и Л. В. Тюняева
