Способ обнаружения дефектов в керамических конденсаторах
Изобретение позволяет повысить производительность труда, достоверность обнаружения дефектов и упростить способ. Для этого измерение электропроводности производят непрерывно и одновременно с абразивной обработкой. Путь сошлифовывания материала образца в плоскости, перпендикулярной плоскостям обкладок конденсатора. Сопротивление изоляции образца практически не изменяется, если стачиваемые объемы не содержат дефектов изоляции. При вскрытии в процессе шлифования дефекта сопротивление изоляции образца увеличивается, что фиксируется прибором, к которому при помощи электродов подключен исследуемый конденсатор. После этого абразивную обработку конденсатора прекращают.
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК
ГО У ПО И ПР К ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (2 1) 4 (22) 0 (46) 2 (72) (53) 5 (56) чес с. 2 479340/25-25 5.09.88 3.11.90. Бюл. N 43 И.П. Томилов и В.Д, Шабунин 43.247(088.8) Вайнберг Ф. Приборы и методы физиого металловедения. — М.: Мир, 1973, 8 — 226.. вторское свидетельство СССР 86981, кл. G 01 N 27/02, 1987. СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ PAM VlЧ Е СКИХ КОНДЕ Н CATOPAX Изобретение позволяет повысить продительность труда, достоверность обжения дефектов и упростить способ. N 1 (54) В К (57) изв нар нару наст дефе конд ние ност рако рах. риал ной одно прот ляци изме мые ции. дефе скачк гистр ДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ГКНТ СССР зобретение относится к способам обения дефектов локализации неоднородй образцов, в частности обнаружения тов типа раковин и пор в керамических нсаторах, елью изобретения является повышероизводительности труда и достоверрезультатов поиска дефектов типа ин и пор в керамических конденсатор и м е р. При сошлифовывании матеобразца в плоскости, перпендикулярлоскостям обкладок конденсатора, ременно контролируется величина совления изоляции. Сопротивление изои конденсатора практически не яется при шлифовке, если стачиваебъемы не содержат дефектов изоляри вскрытии в процессе шлифования та сопротивление изоляции образца м увеличивается, что фиксируется рерующим прибором. После этого абра„„5U „„1608547 А1 Для этого измерение электропроводности производят непрерывно и одновременно с абразивной обработкой путем сошлифовывания материала образца в плоскости, перпендикулярной плоскостям обкладок конденсатора. Сопротивление изоляции образца практически не изменяется, если стачиваемые объемы не содержат дефектов изоляции. При вскрытии в процессе шлифования дефекта сопротивление изоляции образца увеличивается, что фиксируется прибором, к которому при помощи электродов подключен исследуемый конденсатор. После этого абразивную обработку конденсатора прекращают. зивная обработка исследуемого конденсатора прекращается и образец передается для визуального осмотра обнаруженного дефекта под микроскопом и для физико-х«мических исследований. Формула изобретения Способ обнаружения дефектов в керамических конденсаторах, заключающийся в том, что подключают к испытуемому образцу токопроводящие электроды, измеряют электропроводность, по величине которой судят о наличии дефектов типа раковин и пор, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности труда, достоверности обнаружения дефектов и упрощения способа, измерение электроп роводности производят непрерывно и одновременно с абразивной обработкой испытуемого конденсатора. а о наличии дефекта судят по скачкообразному изменению величины электропроводности.
