Способ определения перемещения
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении плоских перемещений диффузно отражающих объектов. Целью изобретения является повышение точности за счет увеличения контраста интерференционной картины. На поверхность объекта наносят дифракционное зеркальное покрытие в виде двух зонных решеток Френеля, соответствующих интерференционным картинам от наложения плоской волны и сферических волн, центры которых совпадают с центрами апертур двухапертурного спекл-интерферометра. Освещают объект плоской волной когерентного излучения, регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерферометра на фотопластинке спекл-фотографию объекта, после перемещения объекта снова регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерферометра на той же фотопластинке вторую спекл-фотографию объекта, освещают полученную двухэкспозиционную спекл-фотографию плоской волной когерентного излучения и путем пространственной фильтрации получают интерференционную картину, по которой определяют перемещение объекта.
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК (19) (11) ($1)5 С 01 В 9/021
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ
ПРИ П1НТ СССР
Н А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
1 (21) 4485953j 24-28 (22) 29.06.88 (46) 23.05.90. Бюл. М 19 (71) Челябинский политехнический институт им. Ленинского,крмсомола (72) С.Б. Артеменко, В.Г. Бахтин, С.А.Плохов и В.Г.Речкалов (53) 531 .7) 5 .1 (088.8) (56) Власов Н.Г. и др. Выделение отдельных компонентов вектора деформаций в интерференционных измерениях.— ЖТФ, 1973, N- 5, с ° 1104-1106. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЕРЕРЕЕ1ЕНИЯ .(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении плоских перемещений диффузно отражающих. объектов.
Целью изобретения является повышение точности за счет увеличения контраста интерференционной картины. На поверхность объекта наносят дифракВ
Изобретение относится к измери-. тельной технике и может быть исполь . зовано при определении плоских перемещений диффузно отражающих объектов, Целью изобретения является повышение точности за счет увеличения контраста интерференционной картины.
Способ осуществляется следующим образом, Вначале на поверхность объекта на" носят дифракционное зеркальное покрытие в виде двух зонных решеток Френеля, соответствующих интерференционным картинам от наложения плоской
2 ционное зеркальное покрытие в виде двух зонных решеток Френеля, соответствующих интерференционным картинам от наложения плоской волны и сферических волн, центры которых совпадают с центрами апертур двухапертурного спекл-интерферометра. Освещают объект плоской волной когерентного излучения, регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерферометра на фотопластинке спекл-Фотографию объекта, после перемещения объекта снова регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерферометра на той же фотопластинке вторую спеклфотографию объекта, освещают полученную двухэкспозиционную спекл-Фотографию плоской волной когерентного излучения и путем пространственной
Фильтрации получают интерференционную картину, по которой определяют перемещение объекта.
I волны и сферических волн, центры которых совпадают с центрами апертур двухапертурного снекл-интерферометра.
Для этого предварительно изготавливают наносимое на объект дифракционное покрытие. При этом используют двухапертурный спекл-интерферометр.
На место, предназначенное для разме- щения объекта, помещают фотопластину и поочередно записывают на нее две зонные решетки, образованные наложением плоской опорной волны и сфери ческой волны, исходящей сначала иэ одного, а затем из другого апертурного отверстия пространственного
1 566201
Составитель В. Костюченко
Техред N.ÄHäûõ Корректор С,Шевченко
Редактор Н.Бобкова
Заказ 1214 Тираж 489 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Производственно-издательский комбинат "Патент", r.Óæãîpîä, ул. Гагарина,101 фильтра в спекл-интерферометре. Дважды эк спониров анную Фотоплас тину подвергают химико-фотографической обработке для получения плоской голо5 граммы с рельефной поверхностью. С помощью полученной таким образом фазовой голограммы изготавливают зеркальную реплику, которую наносят на поверхность исследуемого объекта. 1р
Объект помещают в оптическук схему двухапертурного спекл-интерферометра и закрепляют в держателе таким образом, что его поверхность с нанесенным покрытием находится в плоскости, где на первом этапе устанавливают фотопластинку. Освещают объект плоской волной, восстанавливая этим исходные сферические волны. При этом нанесенное на поверхность объекта зеркаЛьное дифракционное покрытие фокусирует падающее на него излучение в центры апертурных отверстий пространственного Фильтра, причем нулевой порядок дифракции задержи- 25 вается непрозрачным экраном Фильтра.
Фотопластину помещают в плоскости резкого изображения объектива, который образует изображение поверхности объекта. Регистрируют с помощью двух- 30 апертурного спекл-интерферометра на фотопластине спекл-Фотографию объекта, после перемещения объекта снова регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерферометра на той же
35 фотопластине вторую спекл-Фотогра Фию объекта, освещают полученную двухэкспозиционную спекл-фотограФию плоской волной когерентного излучения и путем пространственной фильтрации получают интерференционную картину, по которой определяют перемещение объекта.
Ф о р м у л а и з о б р е т е н и я
Способ определения перемещения, заключающийся в том, что освещают объект плоской волной когерентного излучения, регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерферометра на фотопластинке спекл-фотографию объекта, после перемещения объекта снова регистрируют с помощъю двухапертурного спекл-интерферометра на той же Фотопластинке вторую спекл-фотограФию объекта, освещают полученную двухэкспозиционную спекл-Фотографию плоской волной когерентного излучения и путем пространственной фильтрации получают интерференционную картину, по которой определяют перемещение объекта, о т л и ч а ю m и й— с я тем, что, с целью повн пения точности за счет увеличения контраста интерференционной картины, перед освещением объекта на его поверхность наносят дифракционное зеркальное покрытие в виде двух зонных решеток
Френеля, соответствующих интерференционным картинам от наложения плоской волны и сферических волн, центры которых совпадают с центрами апертур двухапертурного спекл-интерферометра.
