Способ определения пригодности стекол для резистивных композиций

 

Изобретение относится к области производства изделий электронной техники. Цель изобретения - повышение степени точности. Для стекол с оптимальными электрическими параметрами резистивных композиций регистрируют инфракрасные спектры. О пригодности стекол для резистивных композиций судят по совпадению их инфракрасных спектров с эталонными. Инфракрасный спектр стекол регистрируют на мелкой фракции порошка, не оседающего на дно при отмучивании в жидкости в течение 5 - 15 мин. 2 з.п. ф-лы.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 С 01 N 33/38

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 4449386/23-33 (22) 06,05.88 (46) 07,03.90„ Бюл, ¹ 9 (71) Отдел теплофизики АН УэССР (72) Г,Абдурахманов и Г,С.Вахидова (53) 620.1(088.8) (56) Стекло марки 302-6. Технические условия ХГО 027 000 ТУ, (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРИГОДНОСТИ

СТЕКОЛ ДЛЯ РЕЗИСТИВНЬБ КОМПОЗИЦИЙ (57) Изобретение относится к области производства изделий электронной

Изобретение относится к области производства изделий электронной техники, а именно для определения пригодности силикатного стекла при изготовлении толстопленочных резисторов.

Цель изобретения — повышение степени точности.

Способ осуществляют следующим образом.

В корундовых тиглях варят стекло марки С-71-К, содержащее 33 мас,X

Si0 и 67 мас, X РЪО. Проводят 12 варок. Полученное стекло каждой варки измельчают в агатовых барабанах на планетарной мельнице в течение 28 ч, На основе измельченного стекла готовят резистивные композиции с добавлением 20 мас.X RnOg в качестве проводящей фазы, 18 мас,X органическoro связующего, содержащего 1 ч. ланолина и 10 ч, циклогексанола сверх 100Х порошка, Методом трафаретной печати на керамических подложках (96X А1 О ) с серебряно"палладиевыми контактами изго-, ..SU„„1548757 А 1

2 техники. Цель изобретения — повышение степени точности. Для стекол с оптимальными электрическими параметрами резистивных композиций регистрируют инфракрасные спектры, О пригодности стекол для резистивных композиций судят по. совпадению их инфракрасных спектров с эталонными. Инфракрасный спектр стекол регистрируют на мелкой фракции, порошка, не оседающего на дно при отмучивании в жидкости в течение 5-15 мин, 2 з,п. ф-лы. й2

Щ тавливают пробные резисторы размером

5z5 мм, Температура вжигания 860+2 С, время вжигания 10+0,5 мин, Измеряют электрические характеристики пробных резисторов: величину сопротивления на комбинированном цифровом приборе П1-300, температурный коэффициент сопротивления в интервале температур 20-155 С, коэффициент напряжения К» при напряжении 50500 B с использованием источника пита- 0 ния УИП-l.

Иэ стекол с оптимальными электрическими параметрами резистивных композиций готовят порошки для регистрации инфракрасного спектра, Порошки отмучивают в дистиллированной воде (соотношение воды и стекла по массе

10: 1) в течение 5-15 мин, Затем мелкую фракцию стекла, не осевшую на дно, отделяют фильтрацией, высушивают при

100 5 С до постоянного веса. Порошок стекла в количестве 3+0,1 мг смешивают с KBr, и прессуют таблетки для ре1548757

Составитель М,Слинько

Редактор В,Данко Техред M. Ходанич Корректор N,Пожо

Подписное

Тираж 506

Заказ 140

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 гистрации инфракрасного спектра на спектрометре, Сравнивают инфракрасный спектр проверяемого стекла с эталонным и о при5 годности его для резистивных композиций судят по совпадению спектров, Формула изобретения

1, Способ определения пригодности стекол для резистивных композиций, включающий отбор образцов стекол, из готовление резистивных композиций оп9 ределение их электрических параметров 15 и сравнение:с эталонными, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения степени точности, на образцах стекол с оптимальными электрическими параметрами резистивных композиций регистрируют инфракрасные спектры, а пригодность стекол для резистивных композиций определяют по совпадению их инфракрасных спектров с эталонными

2, Способ по п. 1, о т л и ч н юшийся тем, что регистрацию инфракрасных спектров осуществляют на мелкой фракции порошка стекла, не оседающего при отмучивании в жидкости в течение 5-15 мин, 3, Способ по п. 1, о т л и ч а юшийся тем, что эталонный инфракрасный спектр снимают для каждой марки стекла,