Способ контроля формы поверхности детали

 

Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является упрощение и повышение точности контроля за счет перемещения детали относительно плоского шаблона и одноразмерных шариков, размещенных между контролируемой поверхностью и шаблоном. При измерении ориентируют деталь 1 в рабочем пространстве измерительного средства 7, например автоколлимационного микроскопа. Профиль сечения контролируемой поверхности определяют по положению центров кривизны одноразмерных шариков 4, которые размещают на шаблоне 3, установленном на детали 1 параллельно контролируемому сечению. Деталь 1 с шаблоном 3 ориентируют так, что шарики 4 контактируют беззазорно между собой, шаблоном 3 и деталью 1. В зависимости от формы контролируемой поверхности детали 1 ее при контроле либо вращают, либо перемещают поступательно для получения топографии всей поверхности. О форме поверхности детали 1 судят по трем координатам центров кривизны шариков 4. 4 з.п. ф-лы, 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

Ц

РЕСПУБЛИН

„.ЯЦ„„1548665 А 1 (51)5 G 01 В 11/24

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

И ABTOPGHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4450727/25-28 (22) 27. 06. 88 (46) 07.03. 90. Бюл. N - 9 (72) Ю.А. Степин (53) 531.717(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

Р 381884, кл. С 01 В 11/24, 1971. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНО;СТИ ДЕТАЛИ (57) Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является упрощение и повышение точности контроля за счет перемещения детали относительно плоского шаблона и одноразмерных шариков, размещенных между контролируемой поверхностью и шаблоном. При измерении ориентируют деталь 1 в рабочем пространстве измерительного сред2 ства 7, например автоколлимационного микроскопа. Профиль сечения контролируемой поверхности определяют по положению центров кривизны одноразмерных шариков 4, которые размещают на шаблоне 3, установленном на детали 1. параллельно контролируемому сечению. Деталь 1 с шаблоном 3 ориентируют так, что шарики 4 контактируют баззазорно между собой, шаблоном 3 и деталью 1. В зависимости от формы контролируемой поверхности детали 1 ее при контроле либо вращают, либо перемещают поступательно для получения топографии всей поверхности. О форме поверхности детали 1 судят по трем координатам центров кривизны шариков 4. 4 з.п. ф-лы, 3 ил.

1548665

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы плоских, а также выпуклых и вогнутых сфериче5 ских, цилиндрических и асферических поверхностей деталей.

Целью изобретения является упрощение и повышение точности контроля.

На фиг.1 показана схема контроля формы сферических и асферических поверхностей деталей; на фиг.2 - схема расположения шаблона на цилиндрической поверхности; на фиг.3 — схема расположения шаблона на плоской поверхности.

Схема контроля соцержит контролируемую деталь 1 с осью 2 вращения, плоский шаблон 3 профиля сечения контролируемой поверхности, однораз мерные шарики 4, подвижный упор 5, шарик 6, центр кривизны которого совмещен с осью 2 вращения, и измерительное средство 7. 25

Способ осуществляют следующим образом.

Ориентируют деталь 1 в рабочем пространстве измерительного средства 7. Деталь 1 со сферической контролируемой поверхностью ориентируют так, что ее центр кривизны совпадает с осью 2 вращения подвижного элемента, например платформы, измерительного средства 7. Деталь 1 с асферической контролируемой поверхностью ориентируют так, что ее оптическая ось совпадает в осью 2. Деталь 8 с цилиндрической контролируемой поверхностью ориентируют так, 40 что ее ось параллельна направлению

9 рабочего перемещения детали 1. Деталь 10 с плоской поверхностью ориентируют параллельно направлению 11 ее рабочего перемещения. Затем устанавливают на поверхности детали 1 параллельно контролируемому сечению плоский шаблон 3 и поворачивают деталь

1 вместе с шаблоном 3 на углы o(и р относительно координатных осейХ и У в рабочем пространстве измерительного средства 7. Засыпают между деталью 1 и шаблоном 3 одноразмерные шарики 4„ которые благодаря подобранным углам 2 и р под действием силы тяжести контактируют беззазор55 но между собой, шаблоном 3 и деталью

1. Центры кривизны шариков 4 располагаются на линии, эквидистантной профилю контролируемого сечения. Кроме того, при контроле сферических и асферических поверхностей перемещают шарики 4 упором 5 до тех пор, пока центр кривизны шарика 5 не совместится с осью 2 вращения.

Профиль сечения контролируемой поверхности определяют с помощью измерительного средства 7, на- пример автоколлимационного микроскопа, путем фокусировки его на центры кривизны шариков 4, перемещения его параллельно плоскости шаблона 3 и отсчета при этом координат центров кривизны шариков.4. Для получения топографии всей контролируемой поверхности задают детали 1 рабочее перемещение относительно плоского шаблона 3. Причем в зависимости от формы контролируемой поверхности рабочее перемешение детали со сферической поверхностью осуществляется путем ее вращения относительно оси 2, проходящей через центры кривизны детали и шарика 6, рабочее перемещение детали с асферической поверхностью осуществляют путем вращения относительно ее оптической оси

2, проходящей через центр кривизны шарика 6, рабочее перемещение цилиндрической детали 8 осуществляют путем ее поступательного перемещения в направлении 9, рабочее перемещение плоской детали 10 осуществляют путем ее поступательного перемещения в направлении 11.

Формула и з о б р е т е н и я

1. Способ контроля формы поверхности детали, заключающийся в том, что ориентируют деталь в рабочем пространстве измерительного средства, фиксируют одноразмерные шарики вплотную друг к другу на поверхности детали вдоль профиля контролируемого сечения и измеряют один из параметров каждого из шариков, по которому судят о форме поверхности детали, отличающийся тем, что, с целью упрощения и повышения точности контроля, используют плоскии шаблон контролируемой поверхности, устанавливают era на поверхности детали. параллельно контролируемому сечению, поворачивают деталь вместе с шаблоном в положение, при котором свободно насыпанные между деталью и шаблоном шарики под действием силы тяжести

Составитель В.Харитонов

Техред Л.Сердюкова Корректор М. Самборская

Редактор Н.Бобкова

Заказ 136 Тираж 488 Подписное

BHHHIIH Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Иосква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент" г Ужгор д г ° жгород ул ° аГBpHHG

Г 101

1548б будут контактировать беззазорно между собой, шаблоном и деталью, задают детали рабочее перемещение и измеряют при этом координаты центров крив зны шариков, которые выбирают в каи

5 честве измеряемых параметров.

2. Способ по п.1, о т л и. ч а ю— шийся тем,что рабочее перемещение детали со сферической поверх- 1О ностью осуществляют путем ее вращения относительно оси, проходящей через центры кривизны детали и одно-. го из шариков.

3. Способ по п.1, о т л и ч а— ю шийся тем,что рабочее переме65 6 щение детали с асферической поверхностью осуществляют путем вращения относительно ее оптической оси, проходящей через центр кривизны одного из шариков.

4. Способ по п.1, о т л и ч а ю шийся тем, что рабочее перемещение цилиндрической детали осуществляют путем ее перемещения вдоль оси симметрии.

5. Способ по п.1, о т л и ч a— ю шийся тем, что рабочее перемещение плоской детали осуществляют путем ее перемещения в плоскости

t совпадающей с поверхностью детали.