Прибор для измерения микротвердости

Подписная группа Л9 llб

Заявитель

Физико-технический институт АН УССР

Ф

А., Лвторы изобретения

И. А. Гиндин, Б. П. Завязкин, Я. Д. Стародубов и И. P. Киричек

ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МИКРОТВЕРДОСТИ

Известны приборы для измерения микротвердости путем прямого нагружения алмазной пирамиды, содержащие оптическую систему для отсчета размеров отпечатков и металлографических исследований плоских шлифов.

Предлагаемый прибор для проведения испытаний при низких температурах снабжен вакуумной камерой с расположенными внутри нее предметным столиком для образца и инденторным устройством, размещенной в сосуде Дюара, в который поступает охлаждающая жидкость.

На фиг. 1 изображен общий вид предлагаемого прибора; на фиг. 2 — вакуумная камера прибора, продольный разрез.

На плите 1 прибора расположена верхняя крышка 2, которая винтами 8 может перемещаться в двух взаимно перпендикулярных направлениях, В крышку вмонтированы оптическая система для отсчета размеров отпечатка с объективом 4 и инденторное устройство 5.

В вакуумной камере б прибора расположены предметный столик 7 и индентор 8. Камера помещена в сосуде 9 Дюара, в который поступает охлажденная жидкость из переносного сосуда Дюара (на чертеже не показан) по трубке 10. Внутри камеры б располсжен другой сосуд Il Дюара.

Испытуемый образец 12 одним концом закреплен в зажиме предметного столика, а другим соединен с тягой 18 и пружинным динамометром 14.

При проведении измерений образец устанавливают на предметный столик, крышкой 2 закрывают измерительную камеру и включают откачку для создания вакуума. Затем сосуд 9 Дюара заливают жидким азотом (или другим жидким хладоносителем) и охлажда№ 159052 ют образец через холодопроводящий стержень

15. Одновременно охлаждают индентор 8 (алмазной пирамиды) до температуры испытуемого образца. После того как образец и индентор охлаждены до нужной температуры (контролируется термопарой или термометрами сопротивления), изучают микроструктуру и измеряют микротвердость охлажденного образца. Микротвердость измеряют прямым нагружением индентора 8 и последующим отсчетом размеров (диагоналей) отпечатка через оптическую систему.

Предмет изобретения

Ппибо л р р д. я измерения микротвердости путем прямого нагр жения алмазнои пирамиды, содержащий оптическую систе, у для отсчета размеров отпечатка и сос ос д юара, отличающийся тем чт

;,, что, с целью проведения испытаний ий при низких тсмпеоат gapa, х, он снаожен вак"умн у . ой камерон с расположенными вн т и нее п у р; редметным столиком для образв сосуде Дюара, в который поступает охлаждающая жидкость.

Составитель М. Б. Нанкин

Редактор T. В. Данилова Техред Л. П. Курилко Корректор T. Д. Хромцева

Поди. к печ, 22/I — 64 г. Формат бум. 60;.i 90 /s С1бъем 0,35 изд. л.

Зак. 3295/3 Тираж 425 Цена 5 коп.

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и откргятий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2