Устройство для измерения спектральных характеристик излучения

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (1!) 1) 4 С О! В 9/02

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

2 ных в виде моноблока, на основании

1 которого установлены с пбмощью оптического контакта четыре клиновидные пластины 2, 3, 4 и 5 и стойки 6, соединенные с помощью оптического контакта с пластиной 7. На пластину 7 нанесено зеркальное покрытие, общее для четырех интерферометров, ответные зеркала нанесены на клиновидные пластины 2, 3, 4 и 5, клинья которых ориентированы в одном направлении. Базы интерферометров выбраны таким образом, чтобы при последовательном переходе от интерферометра

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

f10 ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОЧНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 3818271/31-25 (22) 22. 1 1 .84 (46) 28.02.89. Бюл. Р 8 (71) Институт физики АН БССР и Институт общей физики АН СССР (72) Ф.В.Карпушко, А.К.Кульпанович;

С.Ю.Волков, В.В.Смирнов и В,П.Шидловский (53) 535.8 (088.8) (56) Applied Physics, 25, 311-3 16, . 1981 ° (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ИЗЛУЧЕНИЯ .(57) Изобретение относится к области оптики и квантовой электроники и мо жет применяться,в частности, в устройстве дпя измерения длины волны и ширины линии лазерного излучения.

Цель — повышение точности измерений путем исключения взаимной разъюстировки интерферометров. Устройство .содержит оптически сопряженные фор1

Изобретение относится к оптике и квантовой электронике и может применяться, в частности, для измерения длины волны и ширины линии лазерного излучения.

Цель изобретения — повышение точности измерений путем исключения взаимной разъюстировки интерферометров.

На фиг. 1,.представлена оптическая схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 — разрез А-А на фиг. 1.

Устройство для измерения спектральных характеристик излучения содержит четыре интерферометра. Физо, выполненмирующий телескоп, светоделительное устройство, многолучевые интерферометры Физо, линейные фотоприемники с блоками управления и ЭВМ. Для достижения цели многолучевые интерферометры выполнены в виде моноблока, в котором все элементы соединены. с помощью оптического контакта, одно из зеркал является общим и нанесено на пластину, установленную параллельно основанию моноблока, а ответные зеркала каждого из интерферометров нанесены на отдельные клиновые пластины различной толщины и установлены на основании моноблока. При этом кли». нья пластин ориентированы в одном направлении, а толщины пластин выб раны из условия равенства области дисперсии интерферометра с большей базой ширине аппаратной функции пропускания предыдущего интерферометра с меньшей базой. 1 з.п. ф-лы, 2 ил. лительным устройством на четыре потока, каждый из которых направляется через соответствующие интерферометр

Физо и цилиндрическую фокусирующую линзу 12 на один из линейных фотоприемников 11. Сигналы с фотоприемников воспроизводят пространственную картину анализируемого излучения в клиновых промежутках интерферометров

Физо. Математическая обработка сигналов производится вычислительным устройством (38M).

В процессе измерений регистрируемые значения спектральных характеристик анализируемого излучения отображаются на встроенном отображающем устройстве (дисплее), Формула изобретения

1. Устройство для измерения спектральных характеристик излучения, содержащее оптически сопряженные фор25 мирующий телескоп, светоделительное устройство, многолучевые интерферометры Физо, линейные фотоприемники с блоками управления и ЭВМ, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью

1п повьппения точности измерений путем . исключения взаимной разъюстировки интерферометров, многолучевые интерферометры выполнены в виде моноблока, в котором все элементы соединены с помощью оптического контакта, одно

Из зеркал является общим и нанесено на пластину, установленную параллельно основанию моноблока, а ответные зеркала каждого из интерферометров

4О нанесены на отдельные клиновые пластины различной толщины и установлены на основании моноблока, причем клинья пластин ориентированы в одном направленни, а толщины пластин выбраны из условия равенства области дисперсии интерферометра с большей базой ширине аппаратной функции пропускания предыдущего интерферометра с меньшей базой.

2 ° 7CTpOHCTBO IIO II ° 1, O T JI Hч а ю щ е е с я тем, что, с целью повьппения чувствительности, формирующий телескоп выполнен цилиндрическим,светоделительное устройство содержит поворотные зеркала о числу интерферометров, установленные параллельно так, что их рабочие кромки перпендикулярны образующим элементов цилиндрического телескопа и ребрам з 1462097 4 с меньшей базой к интерферометру с большей базой область,цисперсии ВТо

Рого была приблизительно равна аппаратной ширине функции пропускания первого.

Моноблок интерферометров помещен в герметический корпус, воздух внутри которого откачан до давления приблизительно или меньше 1 мм рт. ст.

Это позволяет исключить влияние изменений состава и давления окружаю-!

его воздуха на оптические толщины нтерферометров Физо.

Под моноблоком интерферометров расположено светоделительное устройство, содержащее четыре поворотных зеркала. 8,перед которым расположен формирующий телескоп, выполненный, в частности, из двух цилиндрических зеркал 9 и 10. Поворотные зеркала 8 установлены под соответствующими клиновидными пластинами 2, 3, 4 и 5 параллельно друг другу таким образом, что их верхние рабочие кромки перПендикулярны образующим цилиндрических зеркал 9 и 10 и разнесены друг относительно друга по высоте на расстояние, равное 1/4 апертуры пучка.

По ходу излучения после моноблока интерферометров установлены четыре линейных фотоприемника 11, перед которыми размещены четыре цилиндрические фокусирующие линзы 12.

Выходы линейных фотоприемников подключены к входам вычислительного устройства (ЭВМ). Последнее содержит четыре микропроцессора (по одному на канал), имеет встроенную клавиатуру ввода исходных данных и задания режимов работы, а также встроенные отображающее устройство и устройство сопряжения с внешмимн вычислительными системами. К одному из входов вычислительного устройства подключено также устройство регистрации изменений температуры моноблока интерферометров, датчики которого расположены непосредственно на нерабочих поверхностях элементов моноблока.

Предлагаемое устройство работает следующим образом.

Анализируемое излучение формирующим телескопом 9 и 10 расширяется в плоскости дисперсии интерферометров

Физо до апертуры, достаточной для их заполнения, и расщепляется светоде146209 7 6 ную числу интерферометров, а перед линейными фотоприемниками установлены цилиндрические фокусирующие линзы. клиньев интерферометров и смещены одна относительно другой на часть диаметра пучка, обратно пропорциональ10

Составитель Ж.Прокофьева

Редактор М,Андрушенко Техред Л.Сердюкова Корректор М.Демчик

Заказ 660/36 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Тираж 683

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101

Устройство для измерения спектральных характеристик излучения Устройство для измерения спектральных характеристик излучения Устройство для измерения спектральных характеристик излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерферометрам для измерения радиусов

Изобретение относится к измери тельной технике и может быть испаль

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения линейных перемещений объектов, для измерения смет щения некоторой контролируемой поверхности относительно опорной, для измерения изменения длины тела под влиянием различных воздействий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения глубины раковин , треш,ин и других микродефектов на поверхности катодов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения длин волн лазерного излучения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для прецизионнь:х измерений угловых и линейных перемещений объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения геометрических параметров отражающих объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения расстояния до неподвижных объектов

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для высокоточных измерений малых угловых перемещений в специальных геодезических работах, в точных геофизических измерениях и при производстве крупногабаритных изделий в качестве контрольно-измерительной аппаратуры

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области волоконной оптики и может быть использовано при конструировании электронного блока обработки информации волоконно-оптического гироскопа, а также других датчиков физических величин на основе кольцевого интерферометра

Изобретение относится к интерферометрам и может быть использовано для абсолютного измерения линейной длины отрезков

Изобретение относится к волоконно-оптическим автоколебательным системам на основе микромеханического резонатора, возбуждаемого светом, и может быть использовано в системах измерения различных физических величин, например, концентрации газов, температуры, давления и др

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться в скоростных дифрактометрах
Наверх