Устройство для контроля отверстий в деталях

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля соосности , нецилиндричности и некруглости отверстий в деталях. Целью изобретения является повышение точности и информативности: за счет материализации базовой по- ; верхнйсти с помощью сканатора и фотоимпульсного способа преобразования измерительной информации. При измерении вращают призму 4 с постоянной . скоростью для сканирования луча излучателя I по окружности. В процессе сканирования луч периодически прерьвается реперньм знаком 5 и маркой f 7, выполненными непрозрачными. Map « ка 7 установлена в центрирующем узле 6 с возможностью осевого перемеще- НИН и вращения для ощупывания контролируемой поверхности. Марка 7 -выполнена переменной ширины, благодая чему время прерьшания маркой 7 луча прямо пропорционально расстоянию контролируемой точки до луча. Угловое положение контролируемой точки определяется временем прохододения луча от реперного знака 5 до марки. Временные интервалы определяют с по мощью фотоэлектрргческого преобразователя 9 и отсчетно-регистрирующе го блока 10. Массив измерительной информации в различных сечениях отверг стий детали 11 позволяет определить их некруглость, нецилиндричность и несоосность. 1 з.и.ф-лы 2 ил. (П

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (д) y G 01 В 11/26

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТ9ЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4160770/25-28

Я2) 12.12.86 (46) 07.08.88. Бюл. Ф 29 (72) 10.Â.Àæè÷àêoâ, В.СеПронькин и Л.M.Ãoëÿíñêàÿ ,(53)- 531 .71 7 (088 .8) (56) Авторское свидетельство СССР .1!р 416558, кл. С 01 В 11/26, 1976. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ KOHTPOJIH ОТВЕРСТИЙ В ДЕТАЛЯХ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля соосности, нецилиндричности и некруглости отверстий в деталях. Целью изобретения является повышение точности и информативности

sa счет материализации базовой поверхнбсти с помощью сканатора и фотоимпульсного способа преобразования измерительной информации. При измерении вращают призму 4 с постоянной скоростью для сканирования луча излучателя 1 по окружности. В процес„„Я0„„141 058 А1 се сканирования луч периодически ripe-, рывается реперным знаком 5 и маркой f

7, выполненными непрозрачными. Мар ка 7 установлена в центрирующем уз" ле б с воэможностью осевого перемещения и вращения для ощупывания контролируемой поверхности. Марка 7 .выполнена переменной ширины, благодая чему время прерывания маркой 7 луча прямо пропорционально расстоянию конт" ролируемой точки до луча. Угловое положение контролируемой точки определяется временем прохождения луча от реперного знака 5 до марки. Временные интервалы определяют с по« мощью фотоэлектрического преобра-зователя 9 и отсчетно-регистрирующе" го блока 10. Массив измерительной информации в различных сечениях отвер".. отей детали 11 поэволеет оппеле- С» лить их некруглость, нецилиндричность и несоосность. 1 з.а.ф-лы ,2 ил.

1415058

Изобретение относится к измери"

1 тельной технике и может быть использовано для контроля соосности, нецилиндричности и некруглости отверс5 тий в деталях, Цель изобретения — повышение точности и информативности контроля.

На фиг.1 показана схема устройства для контроля отверстий в деталях; на фиг.2 — вид А на фиг.1.

Устройство содержит последовательно расположенные излучатель 1, сканатор, выполненный в виде корпуса 2, установленного в нем приводного вала

;3, и закрепленной на валу призмы 4. реперный знак 5 из непрозрачного мате риала, центрирующий узел 6, визирную непрозрачную марку 7 переменной шири. ны с контактным наконечником 8, установленным в центрирующем узле 6 с воэможностью осевого перемещения и вра" щения, фотоэлектрический преобразова: тель 9 и отсчетно-регистрирующий

25 блок 10.

Устройство работает следующим, образом.

В первое контролируемое отверстие детали 11 устанавливают центрирующий узел 6. При этом наконечник 8 контактирует с проверяемой поверхностью детали 11.

Устанавливают излучатель 1 так, чтобы его ось совпала с осью вала 3 и центрирующего узла 6. При измерении вращают призму 4 с постоянной скоростью для сканирования луча по .окружности и создают измерительную базу в виде эталонной цилиндрической 0 поверхности. В процессе сканирования луч.периодически прерывается реперным знаком 5 и маркой 7, что регистрируется отсчетно-регистрирующим блоком 10 в виде интервалов времени про- 15 хождения лучом между реперным зна— ком 5 и маркой 7 и от одного края марки 7 до другого, по которым определяется расстояние от контролируемой точки поверхности детали 11 до луча по формуле

t(А=К вЂ” К (7 а угловое положение контролируемой точки определяется по формуле

+05 tI р - гт †<-— -- - — —, Т где t, — время прохождения луча через марку; — время прохождения луча от

2 реперного знака до марки;

Т вЂ” время прохождения луча по окружности эа один цикл сканирования;

К, и К вЂ” постоянные коэффициенты.

Поворачивая наконечник 8 относи-; тельно оси центрирующего узла 6, фиксируют изменения профиля отверстия детали 11 в заданном сечении, Перемещая центрирующий узел 6 вдоль его оси, фиксируют профиль в других сечениях отверстия. После этого центрирующий узел 6 устанавливают во второе контролируемое отверстие детали ли 11 и повторяют измерения. Результаты измерений используют для определения некруглости, нецилиндричности и несоосности отверстий с помощью средств микропроцессорной техники.

Ф о р м у л а и з о б р е т е н и я

1. Устройство. для контроля отверстий в деталях, содержащее последо" вательно расположенные излучатель, центрирующий узел, визирную марку с контактным наконечником, установленным в центрирующем узле с воэможностью осевого перемещения и вращения относительно оси центрирующего узла, фотоэлектрический преобразователь и отсчетно-регистрирующий блок, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности и . информативности контроля, оно снабжено сканатором для сканирования луча по окружности, 2. Устройство по п.1, о т л и— ч а ю щ е е с я тем, что репериый знак расположен между излучателем и центрирующим узлом, при этом реперный знак и марка выполнены иэ непрозрачного материала, а марка имеет переменную ширину в направлении оси контактного наконечника.

14! 5058

Составитель В.Харитонов

Редактор Н.Рогулич Техред M.Õîäàíÿ÷ Корректор А.Обручар

Заказ 3862/37

Тираж ф80 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам йзобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4