Приставка к рентгендифрактометру

 

Изобретение относится к области рентгеновского приборостроения и может быть использовано для испытания различных материалов при постоянной и переменной нагрузках. Целью изобретения является повышение точности определения внутренних напряжений образца благодаря расширению углового диапазона измерений в области малых углов рассеяния рентгеновского излучения . Исследуемый образец закрепляют в захватах, один из которых подвижен , и подвергают деформации растяжения при одновременном рентгенографировании. В предложенной приставке механизм растяжения расположен в верхней части вертикальной направляющей, жестко закрепленной на основании, а растягивающее усилие прилагается вдоль оси гониометра, при этом это усилие может плавно и ударно (дистанционно ) изменяться. Удлинение образца контролируется индикатором часового типа и по объему рабочей жидкости , отводимой от силового гидроцилиндра . 1 ил. с (Л со 4 оо со ISD

СОЮЗ COBETCHHX

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1343321

А1 (5D 4 С 01 N 23 20

ВСЕ(; О п1М.< <

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

-. с<: п I

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (.21) 4044191/31-25 (22) 29.12.85 (46) 07.10.87. Бюл. У 37 (71) Физико-технический институт

АН БССР (72) Н.В.Румак, А.Ф.Сакун, Г.И.Тишкевич, Г.Б.Ярошевич, Н.А.Горбачева и Б.И.Тимашков (53) 621.386 (088.8) (56) Ильинский А.И. и др. Иикромашина для растяжения пленок и фольг на рентгеновских дифрактометрах. — Заводская лаборатория, 1967, Ф 8, с. 1033.

Соу1е R.À, А tensile stressing

attachment for the Philips vertical

Х-ray diffractometer. — Jornal of

Physics Е. Scientific Instruments, 1970, v. 3, р. 930-932. (54) ПРИСТАВКА К РЕНТГЕНЛИФРАКТОИЕТРУ (57) Изобретение относится к области рентгеновского приборостроения и может быть использовано для испытания различных материалов при постоянной и переменной нагрузках. Целью изобретения является повышение точности определения внутренних напряжений образца благодаря расширению углового диапазона измерений в области малых углов рассеяния рентгеновского излучения. Исследуемый образец закрепляют в захватах, один из которых подвижен, и подвергают деформации растяжения при одновременном рентгенографировании, В предложенной приставке механизм растяжения расположен в верхней части вертикальной направляющей, жестко закрепленной на основании, а растягивающее усилие прилагается вдоль оси гониометра, при этом это усилие может плавно и ударно (дистанционно) изменяться. Удлинение образца контролируется индикатором часового типа и по объему рабочей жидкости, отводимой от силового гидроцилиндра. 1 ил.

1343321

Изобретение относится к области рентгеновского приборостроения и может быть использовано в научно-исследовательских и заводских лабораториях

5 для испытания различных материалов при постоянной и переменной нагрузке.

Целью изобретения является повьг шение точности определения внутренних напряжений исследуемого образца благодаря расширению диапазона измерений в области малых углов.

На чертеже изображена приставка, общий вид.

Приставка состоит из основания 1 с юстировочным устройством 2, эакрепляемого на столике 3 гониометра 4.

На основании 1 жестко закреплена вертикальная направляющая 5, на которой расположены неподвижный захват 6 и подвижный захват 7, удерживающие исследуемый образец 8. Подвижный захват

7 с помощью тяги 9 и установочной призмы 10 связан с двуплечим рычагом

11, на котором размещены противовес 25

12 и платформа 13 с испытательным грузом (разновесом) 14, На подвижном захвате жестко закреплен индикатор 15 часового типа, а на неподвижном захвате 6 закреплена с возможностью регулировки установочная штанга 16. В верхней части направляющей 5 жестко закреплен гидроцилиндр 17, включающий поршень 18, шток 19, входной штуцер 20 и выходной штуцер 21. С помощью излучателя 22 на исследуемый образец 8 направляют пучок рентгеновских лучей, а детектором 23 регистрируют интерференционную картину.

Установка работает следующим об40 разом, Противовесом 12 выравнивают двуплечий рычаг 11, а в захватах 6 и 7 закрепляют исследуемый образец 8. 3атем с помощью юстировочного устройства 2 совмещают исследуемую плоскость образца 8 с осью гониометра 4.

Величину усилия, растягивающего образец 8, выбирают путем изменения испьгтательного груза 14 и за счет перемещения платформы 13 по рычагу 11, 50 либо путем изменения давления рабочей жидкости (минерального масла), поступающей по входному штуцеру 20 в гидроцилиндр 17 от насосной установки (не показана). Шток 19 гидроцилиндра

17 давит на рычаг 11, создавая растягивающее усилие, приложенное к подвижному захвату 7. Абсолютное удлинение образца 8 определяют индикатором

15 часового типа (микрометром) и путем измерения объема рабочей жидкости, поступающей из выходного штуцера

21 гидроцилиндра 17. При каждой выбранной нагрузке, действующей на образец, рентгенографируют выбранный порядок интерференционной линии.

Угол падения пучка рентгеновских лучей на исследуемый образец связан с глубиной проникновения излучения.

Чем меньше этот угол, тем более близкий к поверхности слой вещества исследуется, Так, например, при угле падения 1-3 Си -излучения может исследоваться поверхностный слой в

0,17 — 0,50 мкм. Это позволяет получить качественно новую информацию о поверхностных и приповерхностных слоях материала образца и повьппает точность определения внутренних напряжений дефармируемого образца. формула и з о б р е т е н и я

Приставка к рентгендифрактометру, включающая основание с юстировочным устройством, держатель образца с подвижным и неподвижным захватами, механизм растяжения с гидроцилиндром, соединенный с подвижным захватом держателя образца, а неподвижный захват связан с основанием, о т л и ч а ю— щ а я с я тем, что, с целью повьппения точности определения внутренних напряжений образца благодаря расширению диапазона измерений в области малых углов, механизм растяжения снабжен двуплечим рычагом, одно плечо которого связано с подвижным захватом, а выходной шток гидроцилиндра связан с другим плечом, снабженным пожвижной платформой для грузов, при этом на основании со стороны образца, противоположной той, которая обращена к пучку рентгеновских лучей, жестко закреплена вертикальная направляющая, в верхней части которой установлен механизм растяжения, а захваты расположены эквидистантно оси направляющей.

1343321

Составитель О.Алешко-Ожевскии

Техред Л.Сердюкова Корректор А.Тяско

Редактор Н.Егорова

Заказ 4817/45 Тираж 776

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул, Проектная, 4

Приставка к рентгендифрактометру Приставка к рентгендифрактометру Приставка к рентгендифрактометру 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к рентгеновской дифрактометрической аппаратуре для исследования монокристаллов

Изобретение относится к области рентгенографического контроля материалов ,а именно К; рентгенофазовому анализу высокодисперсных каталитических систем при высоких температурах

Изобретение относится к области изучения структуры металлических, оксидных и солевых расплавов с помощью сфокусированного пучка электронов и может быть использовано для исследования структуры их приповерхностных слоев

Изобретение относится к области физико-химического анализа материалов , а точнее к способам контроля свойств поверхностей

Изобретение относится к экспериментальной и технической физике и может быть использовано при исследованиях структуры тверда1Х тел в материаловедении и технологии обработки материалов

Изобретение относится к определению реальной структуры монокристаллов и физическо14у материаловедению и может быть использовано для определения количественных характеристик никродефектов в объеме монокристалла

Изобретение относится к области определения реальной структуры монокристаллов и фиэическо м/ материаловедению и может быть использовано для определения количественных характеристик микродефектов в объеме, исследуемого мо ноКристалла , а именно их if.

Изобретение относится к физическому материаловедению, а конкретно к способам рентгенографического контроля металлов и сплавов, и может быть использовано для определения размера зерен кристаллитов в твердом теле

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу тонких поверхностных слоев поликристаллов и позволяет получать количественную информацию о состоянии поверхностного слоя поликристаллического образца дифференциально по конкретным слоям

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов
Наверх