Устройство для измерения коэффициента отражения в ультрафиолетовой области спектра
Изобретение относится к прикладной оптике. С целью повьш1ения точности измерений и расширения спектрального диапазона измерения в ультрафиолетовой области модулятор устройства в одном гнезде содержит образец , а в двух других гнездах установлены природные, сколы монокристаллов CdBr,., и CdJ, обладающие, идеальной оптической поверхностью и плоскопараллельностью слоев. Монокристаллы в области 5-10 эВ имеют характерную структуру спектра отражения. Это позволяет осуществлять надежную привязку исследуемого вещества по спектру. Зондирующий луч падает на модулятор под углом 4-8°. Причем нижний предел определяется геометрией установки, а верхний - минимизацией френелевских потерь. 2 ил. (Л с 1C 00 00 СП СП СО
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ
РЕСПУБЛИН
9 А1
09) (И) ц 4 G 01 N 21/55
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
Н А BTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3922157/31-25 (22) 12.04.85 (46) 07.02.87. Бюл. к- 5 (71) Львовский государственный университет им. И.Франко (72) Я.О.Довгий и И.В.Китык (53) 535.242(088.8) (56) Соболев В.В. и др. Расчеты оптических функций полупроводников по соотношениям Крамерса-Кронига.—
Кишинев: Штиинца, 1976, с. 62-66.
Авторское свидетельство СССР
)Ф 661312, кл. G 01 N 21/55, 1977. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ В УЛЬТРАФИОЛЕТОВОЙ ОБЛАСТИ СПЕКТРА (57) Изобретение относится к приклад- ной оптике. С целью повьппения точности измерений и расширения спектрального диапазона измерения в ультрафиолетовой области модулятор устройства в одном гнезде содержит образец, а в двух других гнездах установлены природные сколы монокристаллов CdBr u CdJ, обладающие идеаль Э ной оптической поверхностью и плоскопараллельностью слоев ° Монокристаллы в области 5-10 эВ имеют характерную структуру спектра отражения. Это позволяет осуществлять надежную привязку исследуемого вещества по спектру.
Зондирующий луч падает на модулятор под углом 4-8 . Причем нижний предел определяется геометрией установки, а верхний — минимизацией френелевских потерь. 2 ил.
1 12
Изобретение относится к прикладной оптике и может быть использовано для измерения и контроля спектров отражения твердых тел в ультрафиолетовой области спектра.
Цель изобретения — повышение точности измерений и расширение спектрального диапазона измерения коэффициентов отражения.
На фиг. 1 представлена принципиальная схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 — спектры отражения эталонов CdJ CdBr и исследуемого образца.
Устройство состоит из источника
1 света, модулятора 2 с гнездами 3, фотоприемника 4 и регистратора 5.
Устройство работает следующим образом.
Луч от источника 1 света, монохроматизированный с помощью дифракционного монохроматора (не показан), попадает на вращающийся диск модулятора, расположенный по отношению оси таким образом, чтобы поочередно отраженный от двух эталонов и образца, размещенных в гнездах 3, он всегда попадал в одну и ту же точку фотоприемника 4. Последний преобразует эти сигналы, пропорциональные интеи88559 2 сивности отраженного света, в электрические импульсы, записываемые с помощью регистратора 5. Величину коэффициентов отражения и соответствующие спектральные положения определяют по графику фиг. 2 (кривые 6-8).
Формула изобретения
f0 Устройство для измерения коэффициента отражения в ультрафиолетовой области спектра, содержащее источник света и расположенные по ходу луча модулятор в виде диска с тремя гнездами, одно из которых предназначено для исследуемого образца, причем гнезда расположены под углом о
120 равноудаленно от центра диска, фотоприемйик и регистратор, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерений и расширения спектрального диапазона измерения коэффициентов отражения, два гнезда модулятора содержат эталонные слоистые монокристаллические соединения CdBr u CdJ, причем ис2 точник света установлей относительно модулятора так, что зондирующий луч . составляет с нормалью к плоскости
З0 модулятора угол 4-8
1288559
10 Еэ
Составитель И.Никулин
Техред И.Верес- Корректор С.Шекмар
Редактор А.Шишкина
Заказ 7799/40 Тираж 799 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4


