Мера коэффициента отражения сыпучих веществ

 

Изобретение относится к мерам и эталонам, применяемым в измерительной технике, а именно при контроле оптических характеристик мелкодисдерсных частиц, например катализаторов , цементов. Цель изобретения - повьппение точности и стабильности коэффициента отражения - достигается тем, что для закрепления образцовых микросферических частиц на основание меры наносится вещество, ; имеющее свойство электрета, например аморфный селен. Слой электрета покрывают пленкой материала, непрозрачного для излучения в диапазоне длин волн, способном вызвать фотопроводимость электрета. Пленку электрета заряжают электрическим заря-. дом. Затем образцовые микросферические частицы, заряженные электрическим зарядом, обратным по знаку заряду электрета, насыпают иа защитную пленку, покрывакнцую электрет. 1 ил. ел

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУВЛИН

А1

09) (И1 юц 4 G 01 N 21/55

»- ...

/71

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

М А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР пО делАм изОБРетений и ОтнРытий (21) 3822912/23-25 (22) 10. 10.84

,46) 30.01.87. Бюл. В 4 (7f) Азербайджанское производственное объединение по .транспортировке я поставке газа "Азтрансгаз" (72) И.Л.Шапиро (53) 535.24(088.8) (54) MEPA КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ

СЫПУЧИХ ВЕЩЕСТВ (57) Изобретение относится к мерам и эталонам, применяемым в измерительной технике, а именно при контроле оптических характеристик мелкодисдерсных частиц, например катализаторов, цементов. Цель изобретения— повыщение точности и стабильности коэффициента отражения — достигается тем, что для закрепления образцо- вых микросферическйх.частиц на основание меры наносится вещество, имеющее свойство электрета, например аморфный селен. Слой электрета покрывают пленкой материала, непрозрачного для излучения в диапазоне длин волн, способном вызвать фотопроводимость электрета. Пленку элек- трета заряжают электрическим заря-. дом. Затем ббразцовые микросферические частицы, заряженные электрическим зарядом, обратным по знаку заряду электрета, насыпают на за. щитную пленку, покрывающую электрет. ил.

1286964 ния. В качестве электрета может быть использован аморфный селен.

В качестве образцовых частиц могут быть использованы различные частицы или их смеси, что обеспечивает воспроизведение коэффициента отражения меры в широком диапазоне.

Составитель Г.Коломейцев

Редактор E.Êîï÷à Техред Л.Олейник Корректор М.Демчик

Заказ 7706/43 Тираж 776 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, NocKBa, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к изготовлению мер и эталонов, применяемых в измерительной технике, а именно при контроле оптических характеристик мелкодисперсных частиц, например катализаторов, цементов.

Цель изобретения — повышение точности и стабильности коэффициента отражения за счет обеспечения стабильности положения частиц.

На чертеже изображена предлагаемая мера. !

Мера содержит основание 1, покрытое слоем 2 вещества, имеющего свойства электрета. На поверхности слоя электрета нанесена пленка 3, непрозрачная для излучения, способного вызвать фотопроводимость электрета. Слой электрета заряжают в . равномерном электрическом поле. Обгв раэцовые микросферические частицы

4 заряжают в поле коронного разряда и йаносят на поверхность непрозрачной пленки. Электрет и частицы заряжают зарядом противоположного знака.

После нанесения частиц слабо свя- занные частицы удаляют механическим путем встряхивания или опрокидываФормула изобретения

Мера коэффициента отражения сыпучих веществ, содержащая основание и закрепленные на нем образцовые микросферические частицы, о т л ич а ю щ а я с я тем, что,с целью повышения точности и стабильности коэффициента отражения, основание выполнено в виде расположенных последовательно проводящего слоя, слоя вещества, имеющего свойства электрета, и слоя вещества, непрозрачного для излучения, способного вызвать фотопроводимость электрета,причем образцовые микросферические частицы закреплены на поверхности непрозрачного вещества, а электрет и микросферические частицы имеют чаряды противоположные по знаку.

Мера коэффициента отражения сыпучих веществ Мера коэффициента отражения сыпучих веществ 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к спектрофотометрии и может использоваться при измерениях коэффициентов отражения зеркал с высокими отражающими свойствами

Изобретение относится к спектральному приборостроении и может быть использовано при создании спектрофотометров

Изобретение относится к оптическим способам контроля изделий

Изобретение относится к области измерений в теплофизике и теплотехнике

Изобретение относится к методам исследования биологических, биохимических, химических характеристик сред, преимущественно биологического происхождения и/или контактирующих с биологическими объектами сред, параметры которых определяют жизнедеятельность биологических объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для экспресс-контроля разливов нефти и нефтепродуктов в морях и внутренних водоемах

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды

Изобретение относится к устройству и способу для проведения, в частности, количественного флуоресцентного иммунотеста с помощью возбуждения кратковременным полем
Наверх