Устройство для определения деформаций оболочки

 

Изобретение относится к определению деформаций конструкций оптическими методами. Его цель - повышение точности определения деформаций за счет применения двух позиционных фотоэлементов и луча с прямоугольным сечением. Устройство содержит расположенные вдоль оптической оси лазер I, коллиматор 4, диафрагму 5 с центральным прямоугольным отверстием , закрепленные на недеформируемой части оболочки 6, и оптическую головку 2, выполненную в виде двух сканисторов, продольные оси рабочих поверхностей которых взаимно перпендикулярны , закрепленную на недеформируемом участке оболочки 6, Луч лазера 1, проходя через коллиматор 4 и диафрагму 5 с пр ямоугольным отверстием , падает на сканисторы. При деформировании оболочки 6 границы свет-ноль перемещаются по рабочим поверхностям сканисторов. По этой величине смещения определяют деформации . I ил. (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИ4ЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (19) (И) (51) 4 G 01 В 11/16

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3864146/25-28 (22) 07.03.85 (46) 15.01.87. Бюл. М 2 (72 ) В . B .Чемерилов (53) 531.78! .2 (088.8) (56) Авторское свидетел ство СССР . Р 913060, кл. G 01 В 11/! б, 1981 (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ОБОЛОЧКИ (57) Изобретение относится к определению деформаций конструкций оптическими методами. Его цель — повышение точности определения деформаций за счет применения двух позиционных фотоэлементов и луча с прямоугольным сечением. Устройство содержит расположенные вдоль оптической оси лазер 1, коллиматор 4, диафрагму 5 с центральным прямоугольным отверстием, закрепленные на недеформируе мой части оболочки 6, и оптическую головку 2, выполненную в виде двух сканисторов, продольные оси рабочих поверхностей которых взаимно перпендикулярны, закрепленную на недеформируемом участке оболочки 6. Луч лазера 1, проходя через коллиматор

4 и диафрагму 5 с прямоугольнйм верстием, падает на сканисторы. При деформировании оболочки 6 границы свет-ноль перемещаются по рабочим поверхностям сканисторов. По этой величине смещения определяют деформации. l ил.

3522

45 двух сканисторов, продольные оси рабочих поверхностей которых взаим50 но перпендикулярны и параллельны

ВНИИПИ Заказ 7421/35 Тираж

677. Подписное

Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

1 128

Изобретение относится к опредепению деформаций конструкций оптичес кими методами.

Цель изобретения - повышение точности определения деформаций за счет применения двух позиционных фотоэлементов и луча с прямоугольным сечением.

На чертеже показана схема устройства.

Устройство содержит расположенные вдоль оптической оси лазер 1, закрепляемый на недеформируемом участке оболочки, оптическую головку 2, закрепляемую на деформируемом участке оболочки и соединенную с блоком 3 регистрации, коллиматор 4 и диафрагму 5 с центральным прямоугольным отверстием, установленные последовательно вдоль оптической оси между лазером 1 и оптической головкой 2 и закрепляемые на недеформируемом участке оболочки 6, оптическая головка 2 выполнена в виде двух сканисторов, продольные оси рабочих поверхностей которых взаимно перпендикулярны и параллельны сторонам прямоугольного отверстия диафрагмы

5, а перед рабочей поверхностью каждого сканистора установлен светофильтр.

Устройство работает следующим образом.

Лазер 1 вместе с коллиматором 4 и диафрагмой 5 закрепляется на недеформируемую часть оболочки 6, оптическая головка 2 устанавливается в исследуемом сечении оболочки 6 на . ее поверхности. При неподвижной оболочке 6 ось лазерного луча, имеющего квадратное сечение, направлена в точку пересечения продольных осей рабочих поверхностей сканисторов и перпендикулярна плоскости их ориентации. В местах формирования границы свет — тень на рабочих поверхностях сканисторов изменяется крутизна нарастания видеосигнала. Двухканальный электронный блок, входящий в блок.

3 регистрации, представляющий собой схему обработки видеосигнала, регистрирует излучение. Иеандр, длительность которого соответствует теневой зоне на рабочей. поверхности сканистора, заполняется высокочастотными импульсами. Цифровой частью двухканального электронного блока считываются и усредняются количества импульсов в меандрах обоих каналов, пропорциональных величинам измеряемых перемещений (деформаций), и выдаются на выход блока 3 регисгр ации.

При перемещении оболочки 6 вокруг оси под действием массовых сил происходит ее деформация. При этом граница свет — тень перемещается по рабочим поверхностям сканисторов оптической головки 2. Перемещение (деформация) границы свет — тень по рабочей поверхности сканистора, расположенного тангенциально () к исследуемой точке оболочки, соответствует перемещению этой точки в тангенциальном направлении.

Перемещение (деформация) границы свет — тень по рабочей поверхности сканистора, расположенного по нормали к исследуемой точке оболочки, соответствует перемещению этой точ— ки в нормальном направлении.

Формула изобретения

Устройство для определения деформаций оболочки, содержащее расположенные вдоль оптической оси лазер, закрепленный на недеформируемом участке оболочки, и оптическую головку, закрепленную на деформируемом участке оболочки и соединенную с блоком регистрации, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности, оно снабжено коллиматором и диафрагмой с центральным прямоугольным отверстием, установленными последовательно вдоль оптической оси между лазером и оптической головкой и закрепленными на недеформируемом участке оболочки, оптическая головка выполнена в виде сторонам прямоугольного отверстия диафрагмы, а перед рабочей поверхностью каждого сканистора установлен светофильтр .