Лазерный интерферометр для измерения динамических деформаций образцов

 

Изобретение относится к исследованию деформа1у1й оптическими методами . Его цель - повышение точности измерения за счет увеличения оптической разности хода эталонного и рабочего лучей интерферометра. Интерферометр содержит два уголковых отражателя 8 и 9, закрепленных на торцах измерительных штоков 5 и 6. Два зеркала 10 и 13 закреплены напротив соответствующих уголковых отражателей а и 9. Устройство работает следующим образом-. Часть светового излучения от источника 1 идет в рабочее , а другая - в эталонные плечи интерферометра. В рабочем плече интерферометра излучение.падает на уголковый отражатель 8 и после отражения от него с помощью зеркал 10, 11, 12 и 13 направляется на другой уголковый отражатель 9. При деформациях образца 7 изменяется расСЛ стояние между уголковыми отражателями 8 и 9, что вызывает изменение интерференционной картины, регистрируемой фотоприемником 17. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1

„,SU„„12 21

1яп 4 G 01 В 11/16

OllHCAHHE ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ CCCP

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (2!) 3672215!25-28 (22) 30,11,83 (46) 23,11,86. Бюл, N - 43 (71) Ковровский филиал Владимирского политехнического института (72) А,Н ° Кравец (53) 531.781,2(088.8) (56) Автометрия. АН СССР, Сиб.отд.

1970, Р 2, с. 67-69.

Авторское свидетельство СССР

У 958851, кл. G 01 В ll/161, 1982, (54) ЛАЗЕРНЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ДЕФОРМАЦИЙ ОБРАЗЦОВ (57). Изобретение относится к исследованию деформаций опТическими методами. Его цель — повышение точности измерения за счет увеличения оптической разности хода эталонного и рабочего лучей интерферометра.

Интерферометр содержит два уголковых отражателя 8 и 9, закрепленных на торцах измерительных штоков 5 и 6, Два зеркала 10 и 13 закреплены напротив соответствующих уголковых отражателей 8 и 9. Устройство работает следующим образом; Часть светового излучения от источника идет в рабочее, а другая — в эталонные плечи интерферометра. В рабочем плече интерферометра излучение. падает на уголковый отражатель 8 и после отражения от него с помощью зеркал 10, 11, 12 и 13 направляется на другой уголковый отражатель 9. При деформациях образца 7 изменяется расстояние между уголковыми отражателями 8 и 9, что вызывает изменение интерференционной картины, регистрируемой фотоприемником !7, 1 ил, 1272105

Изобретение относится к измерению деформаций оптическими методами, Цель изобретения — повышение точности измерения за счет увели- ения оптической разности хода эталонного и рабочего лучей интерферометра.

На чертеже показана схема лазерного интерферометра для измерения динамических деформаций образцов, Лазерный интерферометр для измере ° ния динамических деформаций содержит основание 1, установленный на нем источник 2 монохроматического излучения и расположенный по ходу светового пучка светоделитель З,зеркало 4, образующее эталонное г>леча интерферометра, два измерительных штока 5 и 6, подпружиненные в осевом направлении, одни торцы которых предназначены для установки на образец 7, два.уголковых отражателя

8 и 9, закрепленные на торпах измерительных t>IToKoB 5 и 6, пять зеркал 10-14,,закрепленные на основании по ходу светового пучка, два из которых 10 и 13 закреплены напротив соответствующих уголковых отра>кателей 8 и 9, образуюших рабочее плечо интерферометра, коллиматор 15, диафрагму 16, фотоприемник 17 и соединенную с ним электронную схему 18 обработки, Устройство работает следующим образом, Световой пучок монохроматичееского излучения от источника 2 направляется на светоделитель 3> где разделяется на две части. Ча< ть излуче-ния направляется на неподвижное зеркало 4, закрепленное на основании > которое образует эталонное плечо ин-терферометра, отражается от него и через коллиматор 15, диафрагму 16 падает на фотоприемник 17, где взаимодействует с другой час гью излучения, которая проходит через светоделитель 3, падает на уголковый отражатель 8., закрепленный на одном измерительном штоке 5, отражается от него, с помощью зеркал 10--!3 направляется на уголковый отража ель

9, закрепленный на торце другого измерительного штока 6 и, о .ра>каясь от зеркала 14, неподвижно закрепленного на основании 1. проходит по тому же оптическому пути обратно от светоделителя 3, отражается от него и через коллиматор 15 и диафрагму 16 попадает на фотоприеыник 17, где вза;

HMo>TeécòâóåT с пучком эталонного излучения и образует интерференционную картину, При динамических деформациях образца 7 изменяется расстояние между

»голковыми отражателями 8 и 9,закрепленными на торцах измерительных штоков 5 и 6, что вызывает движение интерференционной картины на фотоприемнике 17, который регистрирует эти изменения с помощью электронной измерительной схемы -8. Движение недеформированнс>го объекта не вызывает изменения интерференционной картины, так как уголковые отражатели

8 и 9 смещаются и компенсируют смещение друг друга, Предлагаемое устройство испь>ть>вали с применением Не-tie лазера (>>=

=0,63 мкм). Объектом измерения служила труба, в которой резко меняли напор жидкости, Сигналь> фотоприемника регистрировали запоминающим осциллографом„ Оптические пути эталонного и рабочего лучей до начала измерений устанавливали одинаковыми с точностью до 1 мм, Из условия максимума интерференции для предлагаемого устройства лх=4л1=>. 1, где i — порядок интерференции, следует, что

hi=i>!/4, а смена максимума на минимум происходит при Al"=>!/8. Учитывая изменеиие интенсивности в интерференционной полосе, можно измерять деформацию й1==>!/!6=40 нм. При временВ ном разрешении регистрирующей аппаратуры с =10 с можно измерять скорость деформации до V- --- =8 м/с, !! я! =

Частота вибраций объекта, при которой может работать интерферометр, должна быть меньше резонансной частоты колебаний измерительных штоков, определяемой их ма=сой и упругими свойствами пружины (до 1О кГц). Допустимые амплитуды вибрации объекта ограничены длиной =вободного хода измерительных штоков, а максимальная величина измеряемой деформации ограничена длиной когерентности излучения лазера. Для достижения наибольшей видности интерференционной картины эталонный и рабочий лучи должны иметь одинаковую поляризацию и интенсивность.

Формула и з о б р е т е н и я

Лазерный интерферометр для измерения динамических деформаций образСоставитель Б.Евстратов

Редактор Н.Тупица Техред Л.Сердюкова, Корректор М.Демчик

Заказ 6326/36 Тираж 670 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

I13035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

I, Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4

3 12721 цов, содержащий основание, установленные на нем источник монохроматического излучения и расположенный по ходу светового пучка светоделитель, зеркало, образующее эталонное плечо интерферометра, три зеркала, образующие рабочее плечо интерферометра и неподвижно закрепленные на основании по ходу светового пучка, два подпружиненных в осевом направ- 10 лении измерительных штока, одни торцы которых предназначены для установки на образец, два отражательных эле05 4 мента, закрепленных на других торцах каждого измерительного штока, коллиматор, диафрагму, фотоприемник и соединенную с ним электронную схему обработки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, каждый отражательный элемент выполнен в виде уголкового отражателя,а интерферометр снабжен двумя зеркалами, каждое из которых закреплено на основании по ходу светового пучка перед соответствующим уголковым отражателем.

Лазерный интерферометр для измерения динамических деформаций образцов Лазерный интерферометр для измерения динамических деформаций образцов Лазерный интерферометр для измерения динамических деформаций образцов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к исследованию температурных напряжений в изделиях поляризационно-оптическим методом на моделях из оптически чувствительного материала и является

Изобретение относится к определению деформаций твердых тел оптическими методами

Изобретение относится к определению деформаций твердых тел оптическими .методами

Изобретение относится к технике лабораторных испытаний напряженного состояния тонкостенных конструктивных элементов и может быть использовано для оценки прочностных свойств тонкостенных пластин

Изобретение относится к измерительной технике и является усовершенствованием изобретения по ант, св

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к определению деформаций деталей и образцов оптическими методами
Изобретение относится к устройствам, используемым в электронной технике, при действии сильных электрических полей
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области измерения деформации объектов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для обнаружения неплоскостности свободной поверхности жидкости

Изобретение относится к области определения координат точек и ориентации участков поверхности тела сложной формы

Изобретение относится к горному и строительному делу и может использоваться при измерениях параметров напряженно-деформированного состояния горных пород и массивных строительных конструкций с использованием скважинных упругих датчиков, а также при оценке контактных условий в технических системах, содержащих соосные цилиндрические элементы

Изобретение относится к способам исследования и контроля напряженно-деформируемых состояний, дефектоскопии и механических испытаний материалов

Изобретение относится к средствам измерения сил и деформаций тел
Наверх