Способ создания подзатворного диэлектрика

Способ создания подзатворного диэлектрика, включающий нагрев кремниевых пластин от контактной температуры до температуры окисления, формирование подслоя двуокиси кремния толщиной (7-12) нм термическим окислением пластин кремния при 900-1100°С и доокисления в атмосфере Ar-O₂-HCl, содержащей (10-50) об.% кислорода при соотношении расходуемых объемов HCl/O ₂ = 0,01-0,04, отличающийся тем, что, с целью повышения процента выхода годных приборов за счет повышения качества подзатворного диэлектрика, подслой двуокиси кремния формируют в атмосфере Ar-O ₂-HCl, содержащей (10-50) об.% кислорода и HCl не более 0,6 об.%.