Способ определения униполярности сегнетоэлектрических кристаллов

 

Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения расширение класса исследуемых сегнетоэлектрич. кристаллов. Для определения интенсивностей собственного электромагн, излучения при различной ориентации доменов вдоль сегнетоэлектрич. направления кристалла прикладывают квазистапионарное электрич. поле одного направления, а затем др., по амплитуде не меньше коэрцитивного . По величине отношения интенсивностей определяют степень униполярности и знак преимущественного направления поляризации, к-рый соответствует направлению 1-го из приложенных , квазистационарных электрич. полей при отношении интенсивностей больше 0,5 и 2-го при отношении интенсивностей меньше 0,5. ё (Л G to j О) со 05 ел

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК, SU„„1276965

А1 (5D 4 С О1 М 22/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АBTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPblTHA (21) 3835634/24-09 (22) 27.12.84 (46) 15.12.86. Бюл. Кр 46 (71) Львовский ордена Ленина государственный университет им,Ив.Франко (72) M.À.Вацеба, Б.П.Клим, Н.А.Pо-. маиюк и Р,Ф.Федорив (53) 621.317 (088,8) (56) Лайнс М., Гласс А. Сегнетозлектрики и родственные им материалы. Мир, 1981, с.126-128.

Романюк Н.A. Желудев И.С.Кристаллография, 1960, с.403-408. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УНИПОЛЯРНОСТИ СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ КРИСТАЛЛОВ (57) Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения расширение класса исследуемых сегнетоэлектрич. кристаллов, Для определения интенсивностей собственного электромагн. излучения при различной ориентации доменов вдоль сегнетоэлектрич. направления кристалла прикладывают квазистационарное электрич. поле одного направления, а затем др., по амплитуде не меньше коэрцитивного. По величине отношения интенсивностей определяют степень униполярности и знак преимущественного направления поляризации, к-рый соответствует направлению 1-ro из приложенных квазистационарных электрич. полей при отношении интенсивностей больше 0 5 и 2-го при отношении интенсивностей меньше 0,5.

1276965

Составитель Е.Адамова

Техред А.Кравчук Корректор О.Луговая

Редактор В.Ковтун

Заказ 6659/35 Тираж 778 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, И-35, Раушская наб,, д.4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная,4

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения степени и знака преимущественного направления поляризации (уииполярности) в сегнетоэлектрических кристаллах, и может быть использовано в пирометрии.

Цель изобретения — расширение класса исследуемых сегнетоэлектрических кристаллов.

Способ определения униполярности сегнетоэлектрических кристаллов заключается в следующем.

Прикладывают вдоль сегнетоэлектрического направления сегнетоэлектрических кристаллов квазистационарное электрическое поле одного направления, регистрируют интенсивность собственного электромагнитного излучения, возникающего при переполяриэации всех доменов, ориентированных противоположно приложенному квазистационарному электрическому полю, затем изменяют направление квазистационарного электрического поля, регистрируют интенсивность собственного электромагнитного излучения, возникающего при переполяризации всех доменов и по величине отношения первого сигнала к второму определяют степень униполярности и знак преимущественного направления поляризации, который соответствует направлению первого из приложенных кваэистациоиарных электрических полей при отношении интенсивностей собственного электромагнитного излучения при различной ориентации доменов больше 0,5X и второго — при отношении интенсивностей собственного электромагнитного излучения при различной ориентации доменов меньше 0,57.

Способ определения униполярности сегнетоэлектрических кристаллов позволяет определить степень и знак униполярности в сегнето5 электрических кристаллах независимо от оптической различимости их доменной структуры.

Формула изобретения

Способ определения униполярности сегнетоэлектрических кристаллов, заключающийся в определении отноше15 ния собственного электромагнитного излучения при различной ориентации доменов, отличающийся тем, что, с. целью расширения класса исследуемых сегнетоэлектрических

20 кристаллов, для определения интенсивностей собственного электромагнитного излучения при различной ориентации доменов, вдоль сегнетоэлектрического направления кристалла прикладывают квазистационарное электрическое поле одного направления, а затем другого, по амплитуде не меньше коэрцитивного, и по величине отношения интенсивностей собственного электромагнитного излучения при раз30 личной ориентации доменов определяют степень униполярности и знак преимущественного направления поляризации, который соответствует направлению первого из приложенных квази>5 стационарных электрических полей при отношении интенсивностей собственного электромагнитного излучения при различной ориентации доменов больше

0,5, и второго — при отношении интенсивностей собственного электромагнитного излучения при различной ориентации доменов меньше 0 5.

Способ определения униполярности сегнетоэлектрических кристаллов Способ определения униполярности сегнетоэлектрических кристаллов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике радиоизмерений и может использоваться для измерения погонного сопротивления микропровода

Изобретение относится к теплоэнергетике и обеспечивает повьппение надежности контроля

Изобретение относится к дистанционным способам контроля состояния растительных покровов

Изобретение относится к радиолокации, а именно к способам исследования подповерхностных слоев различных объектов

Изобретение относится к созданию материалов с заданными свойствами при помощи электрорадиотехнических средств, что может найти применение в химической, металлургической, теплоэнергетической, пищевой и других отраслях промышленности

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам измерения влажности, и может быть использовано в тех отраслях народного хозяйства, где влажность является контролируемым параметром материалов, веществ и изделий

Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для неразрушающего контроля состояния поверхности конструкционных материалов и изделий и может быть использовано в различных отраслях машиностроения и приборостроения

Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может использоваться для томографического исследования объектов и медицинской диагностики при различных заболеваниях человека, а также для лечения ряда заболеваний и контроля внутренних температурных градиентов в процессе гипертермии

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Изобретение относится к исследованию объектов, процессов в них, их состояний, структур с помощью КВЧ-воздействия электромагнитных излучений на физические объекты, объекты живой и неживой природы и может быть использован для исследования жидких сред, растворов, дисперсных систем, а также обнаружения особых состояний и процессов, происходящих в них, например аномалий структуры и патологии в живых объектах

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения сплошности потоков диэлектрических неполярных и слабополярных сред, преимущественно криогенных
Наверх