Датчик для измерения параметров материалов

Авторы патента:

G01N22 - Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот (G01N 3/00- G01N 17/00,G01N 24/00 имеют преимущество)

Изобретение относится к технике радиоизмерений и может использоваться для измерения погонного сопротивления микропровода. В одном конце отрезка прямоугольного волновода (СПБ) 1 установлена согласованная нагрузка 2. В продольную щель 4, выполненную посередине широких стенок ОПВ I и проходящую через согласованную нагрузку 2, вводят исследуемый материал. Через свободный конец ОПВ 1возбуждают основной тип колебаний Н и измеряют комплексный коэффициент отражения волны от исследуемого материала. Погонное сопротивление микропровода определяют по формуле. 2ил. с

СОЮЗ СО8ЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1

„„SU„„1264051 (д1) 4 С 01 И 22/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

Н А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3848905/24-09 (22) 23.01.85 (46) 15. .10. .86. .Бюл. N- 38 (72) В.А.Калесинскас, Й.П. Григас, В.А.Демин и Л.M.Ñóñëoâ (53) 621.317.39(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 338782, кл. G 01 В 17/02, 1970.

Maier Н.G. вЂ” Frequenz, 1970, 24, ¹ 10 р.303-307. (54) ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ

МАТЕРИАЛОВ (57) Изобретение относится к технике радиоизмерений и может использоваться для измерения погонного сопротивления микропровода. В одном конце отрезка прямоугольного волновода (ОПВ) 1 установлена согласованная нагрузка 2. В продольную щель 4, выполненную посередине широких стенок

ОПВ 1 и проходящую через согласованную нагрузку 2, вводят исследуемый материал. Через свободный конец ОПВ

1 возбуждают основной тип колебаний

Н и измеряют комплексный коэффици о ент отражения волны от исследуемого материала. Погонное сопротивление микропровода определяют по формуле.

2 ил.

l26405I

I h (--- + --)

ГЕ, Е Т

S = вЂ” 2 Е (-1) Н. (pka); р < 1

Р= 1

4-1; k = 2П /р длина волны в свободном пространстве; удельное сопротивление микропровода; функции Бесселя; функции Ганкеля второго рода; постоянная Больцмана; постоянная Планка; круговая частота; диэлектрическая постоянная; радиус микропровода; абсолютная температура микропровода; ширина волновода.

1„

k в

Е о

1 а

Составитель P.Êóçíåöîâà

Техред Л.олейник Корректор М.СамбоРскаЯ редактор Н.Киштулинец

Заказ 5553/43 Тираж 778 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Производственно-полиграфическое предприятие,г.ужгород, ул.Проектная,4

Изобретение относится к технике радиоизмерений и может быть использовано для измерения погонного сопротивления микропровода.

На фиг.l приведена конструкция датчика для измерения параметров магнитных материалов; на фиг.2 разрез

А-А на фиг.l.

Датчик для измерения параметров материалов содержит отрезок 1 прямо- 1О угольного волновода, согласованную нагрузку 2, разделенную сквозной прорезью 3, продольные щели 4,,исследуемый материал 5 (микропровод).

Датчик для измерения параметров материалов работает следующим образом.

В продольную щель 4 вводят исследуемый материал 5 и через свободный конец отрезка 1 возбуждают основной тип колебаний Н, . При этом происходит отражение волны от исследуемого материала 5. Измеряют комплексный коэффициент отражения С. Погонное со,противление микропровода R„ опреде- 25 ляют по формуле:

ik h i j (kr) и 4ЕЕ, kb T j (ИЕr )

Е и r, в которой в случае kr. (l и согласованной нагрузки 2 находятся из уравнения

4(Е вЂ” 1) 1,{1с Я г )

П (2а/P ) вЂ” 1 (М где h =Е- j„(k И r )(j,(kr )S-H,(k r)j 35

Cj,(kГЕ r ) (j (kr ) х и (k r,))1

Формула из о бр е т ения

Датчик для измерения параметров материалов, содержащий отрезок прямоугольного волновода, посередине широких стенок которого выполнены продольные щели для ввода исследуемого материала, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений параметров микропровода, продольные щели прорезаны до конца отрезка прямоугольного волновода, на котором установлена введенная согласованная нагрузка, в которой выполнена сквозная прорезь, соосная с продольными щелями. !

Изобретение относится к теплоэнергетике и обеспечивает повьппение надежности контроля

Способ контроля качества магнитного материала // 1264049

Устройство для диагностики плазмы // 1259800

Способ определения биомассы растительности // 1255905

Изобретение относится к дистанционным способам контроля состояния растительных покровов

Способ контроля анизотропии диэлектрических материалов и устройство для его осуществления // 1255904

Ячейка для измерения параметров границы раздела электрод- электролит // 1255903

Изобретение относится к технике физич.исследований

Устройство для абсолютного измерения влажности // 1252716

Интерферометр для диагностики плазмы // 1252715

Изобретение относится к области техн

Радиоспектрометр // 1252714

Изобретение относится к области газовой спектрометрии

Способ определения дрейфовой скорости носителей заряда в полупроводнике // 1250923

Изобретение относится к области СВЧ-техники и может использоваться при диагностике.плазмы твердого тела , а также в приборах,использующих ударную ионизацию в полупроводнике

Способ исследования подповерхностных слоев объектов // 2101694

Изобретение относится к радиолокации, а именно к способам исследования подповерхностных слоев различных объектов

Способ изменения свойств материалов и устройство для его осуществления - генератор "эмитоп" // 2102233

Изобретение относится к созданию материалов с заданными свойствами при помощи электрорадиотехнических средств, что может найти применение в химической, металлургической, теплоэнергетической, пищевой и других отраслях промышленности

Датчик поточного влагомера // 2102731

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам измерения влажности, и может быть использовано в тех отраслях народного хозяйства, где влажность является контролируемым параметром материалов, веществ и изделий

Способ определения диэлектрической проницаемости материала // 2103673

Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия

Устройство для контроля электромагнитной сплошности поверхности изделий // 2103674

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для неразрушающего контроля состояния поверхности конструкционных материалов и изделий и может быть использовано в различных отраслях машиностроения и приборостроения

Устройство для контроля дефектов в изделиях из диэлектрических материалов // 2103700

Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности

Компьютерный томограф // 2103920

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может использоваться для томографического исследования объектов и медицинской диагностики при различных заболеваниях человека, а также для лечения ряда заболеваний и контроля внутренних температурных градиентов в процессе гипертермии

Способ определения границ фазовых переходов в полимерах // 2104515

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Способ исследования объектов квч воздействием // 2108566

Изобретение относится к исследованию объектов, процессов в них, их состояний, структур с помощью КВЧ-воздействия электромагнитных излучений на физические объекты, объекты живой и неживой природы и может быть использован для исследования жидких сред, растворов, дисперсных систем, а также обнаружения особых состояний и процессов, происходящих в них, например аномалий структуры и патологии в живых объектах

Устройство для измерения сплошности потоков криопродуктов // 2108567

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения сплошности потоков диэлектрических неполярных и слабополярных сред, преимущественно криогенных