Сканирующая дифракционная система

 

(19)SU(11)1213836(13)A1(51)  МПК 6    G01J3/18(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯк авторскому свидетельствуСтатус: по данным на 17.01.2013 - прекратил действиеПошлина: учтена за 1 год с 30.06.1993 по 29.06.1994

(54) СКАНИРУЮЩАЯ ДИФРАКЦИОННАЯ СИСТЕМА

Изобретение касается оптического спектрального приборостроения. Целью изобретения является увеличение точности и производительности спектральных измерений за счет повышения светосилы. На чертеже приведена схема сканирующей дифракционной системы вертикальной компановки, две проекции. Сканирующая дифракционная система содержит дифракционную решетку 1, горизонтальные щели 2 и 3, связанное с решеткой плоское зеркало 4, входной объектив 5, входной подвижный объектив 6, узел 7 поворотов на одинарный и двойной углы. Дифракционная решетка наклонена к оси вращения на угол блеска и штрихи ее установлены горизонтально. Излучение через щель 2 падает на плоское зеркало 4, отражаясь от которого попадает на входной подвижный объектив 6. С входного объектива излучение попадает на дифракционную решетку 1. Зеркально отраженные ее ступенями лучи выходным объективом 5 фокусируются на выходную щель 3. При повороте решетки 1 с зеркалом 4 и одновременном повороте на двойной угол объектива 6 изменяется угол падения лучей на решетку и осуществляется сканирование спектра в соответствии с формулой = 2hcosо= k , где h - высота ступеней решетки, равная ее постоянной, умноженной на синус угла блеска; о - угол падения лучей на поверхности ступеней; k - порядок спектра; - длина волны. Составляющая угла верт в вертикальной плоскости (в плоскости дисперсии) не превышает 19о, составляющая в горизонтальной плоскости гор изменяется от 0 до значения порядка 70о (угол блеска решетки величину угла не ограничивает). Сканирующая дифракционная система может быть выполнена и по горизонтальной схеме.


Формула изобретения

СКАНИРУЮЩАЯ ДИФРАКЦИОННАЯ СИСТЕМА, содержащая оптически связанные неподвижные входную и выходную щели, входной и выходной объективы, дифракционную решетку с узлом поворота и механически связанное с ней плоское зеркало, отличающаяся тем, что, с целью увеличения точности и производительности спектральных измерений за счет повышения светосилы, дифракционная решетка установлена так, что ее серединный штрих пересекает под прямым углом ось ее вращения, а плоскость решетки наклонена к оси вращения на угол блеска.

РИСУНКИ

Рисунок 1

MM4A Досрочное прекращение действия патента Российской Федерации на изобретение из-за неуплаты в установленный срок пошлины за поддержание патента в силе

Дата прекращения действия патента: 30.06.1994

Номер и год публикации бюллетеня: 36-2002

Извещение опубликовано: 27.12.2002        




 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области спектрального приборостроения

Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано в физике, химии, биологии и медицине, а также в экологии и промышленности

Изобретение относится к спектральному приборостроению и предназначено для получения спектров излучения с модуляцией экспозиций по определенному закону

Изобретение относится к области оптического приборостроения

Изобретение относится к области оптического приборостроения

Изобретение относится к области технической физики

Изобретение относится к спектральному анализу химического состава веществ, а именно к средствам формирования оптического спектра, и может быть использовано в устройствах атомно-эмиссионного, атомно-абсорбционного анализа, а также в других спектрофотометрических устройствах

Изобретение относится к автоматике и может быть использовано для автоматизированной регистрации спектров поглощения и люминесценции

Изобретение относится к оптической спектрометрии (спектроскопии) и может быть использовано для создания линейных по оптической частоте спектрометров

Изобретение относится к технике ИК-спектроскопии, а именно к устройствам для измерения характеристик собственного излучателя в инфракрасной области
Наверх