Способ рентгенофлуоресцентного анализа состава вещества

 

Изобретение относится к способам анализа состава вещества с помощью поляризованного рентгеновского излучения. Для повышения точности и чувствительности анализа в качестве материала поляризатора используют анализируемое вещество и регистрируют поток характеристического излучения определяемых элементов от исследуемого образца и рассеянное образцом характеристическое излучение определяемых элементов, испущенное поляризатором,в направлении , перпендикулярном направлениям распространения первичного и линейно поляризованного излучений. Содержание определяемых элементов находят по сумме измеренных излучений. §

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦ)ИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

A@4 G 01 N 23/223 afar $g опиодник изоБреткний, Ц

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3769771/24-25 (22) 20,07.84 (46) 23.01.86. Бюл. У 3 (71) Казахский ордена Трудового

Красного Знамени государственный университет им. С.М.Кирова (72) М.Б.Энкер, А.Н.Лезин, Г.E.Êîëåсов, С.Ю.Коломицин и Н.П.Пуха (53) 539. 1.06(088 ° 8) (56) Колесов Г.Е.,Пикановский В.А. и др.

О применении эффектов поляризации гамма-излучения в рентгенорадиометрическом анализе тяжелых элементов.

Сб. Прикладная и теоретическая физика..Алма-Ата: Каз.ГУ, 1973, вып. 5, с. 107.

Dzubay Т.Y. at al. Backgro and

Reduction in .Х-Ray Fluorestence

Spectro Usin8 Polarization Nuclear.Instruments and Methods, 1974, ч. 117, У 1, р. 297.

„,SU„„1206660 A (54) СПОСОБ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО

АНАЛИЗА СОСТАВА ВЕЩЕСТВА (57) Изобретение относится к способам анализа состава вещества с помощью поляризованного рентгеновского излучения. Для повышения точности и чувствительности анализа в качестве материала поляризатора используют анализируемое вещество и регистрируют поток характеристического излучения определяемых элементов от исследуемого образца и рассеянное образцом характеристическое излучение определяемых элементов, испущенное поляризатором,в направлении, перпендикулярном направлениям распространения первичного и линейно поляризованного излучений. Содержание определяемых элементов находят по сумме измеренных излучений.

Изобретение относится к способам рентгенофлуоресцентного анализа с использованием поляризованного излучения.

Цель изобретения — повышение точности и чувствительности анализа за счет повышения доли характеристического рентгеновского излучения определяемых элементов в сумг арном потоке регистрируемого излучения.

Сущность способа поясняется следующим.

В предположении однократного взаимодействия для параллельных пучков первичного и вторичного излучений можно записать для потока рассеянного излучения после поляризатора, в качестве которого обычно выбирают, например, графит или алю миний, 4 о — () ) 511 а после пробы анализируемого вещества (образца) ! =1оК Kü — + (Х)(о — 1 2)

1.С,6 ба(ь, Р -5(i В о sfl где 1,1 — потоки соответственно

1206660 и угол рассеяния Х поляризованного излучения.

Учитывая сильную зависимость . от геометрии опыта, из выражений (1) и (2) следует, для обеспечения повышенной чувствительности анализа необходима строгая коллимация потоков первичного и рассеянного излучений, i0 следовательно, значительные потери интенсивности регистрируемого излучения.

Для предлагаемого способа, согласно которому веществом поляриза-!

5 тора служит анализируемое вещество, в тех же обозначениях можно записать для интенсивности вторичного излучения Ig после поляризатора

4" 1 к;" -1К, Ве) (3) и и соответственно после пробы анализируемого вещества (образца) д5 Со Б(Ж,Со &(В) < - loKi K i — — + Io K i < i, Pip +SO Р п 9 io

6 a(g) 1. к,к, (х) — () 5П 5О "11 so

К; иК

%(x) первичного и рассеянного поляризатором излучения, сечение рассеяния, зависящее от угла рассеяния 8 приведенные массовые коэффициенты ослабления первичного и рассеянного излучения соответственно в поляризаторе и образце приведенный массовый коэффициент ослабления первичного и характеристического излучения в материале пробы, массовый коэффициент фотоэффекта определяемого элемента для поляризованного излучения; концентрация определяемого элемента коэффициенты преобразования первичного из лучения в8 вторичное, не зависящие от состава образца; коэффициент, учитывающий степень поляризации.30

Из сравнения выражений (2) и (4) ! следует, что > 1, причем выигрыш в степени "использования" первичного излучения. может достигать 100% при увеличении чувствительности анаЗ5 лиза.

Пример . Прямую экспериментальную проверку способа выполняют на установке, состоящей из рентгеновской трубки 0,005БХ-1 с серебря40 ным анодом.и кремний-литиевого полупроводникового детектора ВДРК 1/425 с анализатором АИ-1024, на стандартных образцах вольфрамо-молибденовых руд.Напряжениена трубке50 кВ.

45 В-первой серии опытов в качестве поляризатора испытывают отражатели иэ графита, оргстекла и алюминия.

При этом интенсивность аналитической линии не сильно зависит от мате50 риала поляризатора: увеличение его атомного номера, а вместе с ним снижение вероятности рассеяния ком-. пенсируется возрастанием плотности поляризатора, а степень поляризации ,55 лимитируется вкладом многократного рассеяния и тормозного излучения фотоэлектронов в веществе пробы.

Наибольшая контрастность метода к

Составитель М.Викторов

Техред О.Неце

Корректор Л.Пилипенко

Редактор А.Шишкина

Заказ 8702/44 Тираж

BHHHllH Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

3 молибдену, превышающая почти в 40 раз контрастность метода без поляризации, достигается при использовании мишени из алюминия.

Во второй серии опытов в качестве поляризатора используют тот же анализируемый образец. При этом величина контрастности возрастает в

1,3-1,4 раза по сравнению с первой серией опытов, а интенсивность флуоресцентного излучения возрастает на 40Х.

Иэ приведенного примера видно, что по сравнению с известным предлагаемь|й способ повышает контрастность метода в 1,3-1,4 раза, а интенсивность флуоресцентного излучения определяемого элемента возрастает на 40Х, в результате чего повышается точность анализа.

Формула иэ обре те ния

Способ рентгенофлуоресцентного анализа состава вещества, заключаю1206660 4 щийся в получении линейно поляризованного излучения путем рассеяния первичного рентгеновского излучения на поляризаторе, облучении пробы анализируемого вещества линейно поляризованным излучением и регистрации потока характеристического рентгеновского излучения определяемых элементов, испущенного анализируемым

1б веществом в направлении, перпендикуляр; ном направлениям распространения первичного и линейно поляризованного излучений, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и чувствительности анализа, в качестве материала поляризатора используют анализируемое вещество, дополнительно регистрируют рассеян-. ное пробой в указанном направлении характеристическое излучение определяемых элементов, испущенное поляризатором, и судят о содержаниях определяемых элементов по сумме измеренных излучений.

Способ рентгенофлуоресцентного анализа состава вещества Способ рентгенофлуоресцентного анализа состава вещества Способ рентгенофлуоресцентного анализа состава вещества 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности, при проведении рентгеноспектрального анализа руд после их кислотного разложения и экстракции определяемых элементов

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины лент, полотен и т.п

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а именно к устройствам рентгеновской и изотопной дефектоскопии объектов, находящихся в труднодоступных полостях
Наверх