Устройство для испытания полупроводниковых выпрямителей

 

№ 121194

Класс 21е, 31

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ЗАВИСИМОМУ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Э. Н. Улановский

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ

ВЫПРЯМИТЕЛЕЙ

Заявлено 10 ноября 1958 r. за ¹ 611262, 24 в Комитет по делам изобретений открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «бюллетене изобретений» ¹ 14 за 1959 г

Основное авт. св. № 114215 на имя того н е заявителя

В авт. св. № 114215 описан способ испытания полупроводниковых выпрямителей путем определения средних значений обратного тока и прямого падения напряжения выпрямителbíoão элемента. Особенность этого способа заключается в том, что измерение обоих параметров производят в одной электрической цепи со сдвигом по времени на один полупериод переменного тока, питающего схему.

Предлагаемое устройство для испытания полупроводниковых выпрямителей по этому способу имеет целью обеспечить возможность воспроизведения динамических характеристик проверяемых выпрямителей на экране катодного осциллографа в различных масштабах для прямого и обратного направлений тока питания выпрямителя.

Решение этой задачи достигается применением в предлагаемом устройстве четырех электронных усилителей, имеющих различные коэффициенты усиления и поочередно запираемых П-образными импульсами, синфазными с напряжением питания цепи испытуемого выпрямителя.

Зля наблюдения прямой и обратной ветвей характеристики на всем экране осциллографа в устройстве предлагается применить отдельные ре:уляторы смещения нуля в каждом усилителе.

На чертеже представлена принципиальная электрическая схема предлагаемого устройства. В схему входят цепь исследуемого вснтиля

ОВ с регулируемым источником напряжения (трансформаторы Т, и Т., приборы контроля режима — вольтметр В и миллиамперметр пл и сопротивления нагрузки R, R ), цепь калибровки масштабов ссопротивлениями R3, R4, а также четыре управляемых электронных усилителей напряжения на лампах Л, Лз, Л4, Л5 с источником питания и источником управляющих импульсов.

Ье 121194

Пред мст изооретен ия

1. Устройство для испытания полупроводниковых выпрямителей по способу, охарактеризованному в авт. св. ¹ 114215, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что, с целью воспроизведения динамических характеристик проверяемых выпрямителей на экране KBTOJHOI0 осциллографа в различны.: масштабах для прямого и обратного направлений тока питания выпрямителя, применены четыре электронных усилителя, имеющих различные коэффициенты усиления и поочередно запираемых П-образными D1гульсами, синфазными с напряжением питания цепи испытуемого выг рямнтеля.

2. В устройстве по и. 1 применение отдельных регуляторов смешения нуля в каждом из усилителей для набл!одения прямой и обратной вегвсй характеристики «а всем экране осциллографа.

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Ре !актор Р, Га.вьцева Гр. 95

Поди. к печ. 28.Х-59 г.

Тираж 950 Цена 50 коп. иформапионно-издательский отдел.

Обьем 0,84 п. л. Зак. 9115

Типографии Копит Ta по делаги изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Петровка, 14.

Источник управляющих импульсов, име!оших П-образную форму, СОСтОИт ИЗ СОПРОтИВЛЕНИй ЛЗ И Яьч СтабИЛОВОЛЬта Л! И ГЕРМаНИЕВЫХ ДИОдов Д! и Д, образуюших чувствительный к полярности делитель напряжения с заземленной средней точкой, В тот полупериод, когда на катоды усилительных ламп Л и Л» подается большое запираюшее положительное смещение, равное обратному напряжению диода Дь на катоды ламп Лз и Л5 подается малое отрицательное смещение, равное прямому падению напряжения па диоде Д, и наоборот.

Таким образом, лампы Л и Л,,Л» и Лз работают поочередно, синфазно с напряжением питающей сети и с током исследуемого вентиля

HB при активной его нагрузке.

С выхода усилителей, работающих на лампах Л и Лз, подается напряжение на вертикальные пластины Верт осциллографа. На горизонтальныс пластины гор осциллографа подается напряжение с выхода усилителей, работающих на лампах Л» и Л„. Обе эти лампы усиливают папря кенис на исследуемом вентиле, !ю имеют различное усиление вследствие различных величин сопротивления анодных нагрузок, чем обеспечивается получение различных ..асштабов д.1я прямого и обратного напряжений исследуемого вентиля. Еше лучше получать различные коэффициенты усиления этих ламп путем увеличен!!я сопротивлений Рт — R., в цепях катодов лампы Л,„ так как при этом увеличивается диапазон регулирования усиления сопротивлением Rg.

Аналогично могут работать и усилители на лампах Л и Лз, однак на схеме показана другая воза!ож!!ость. Разные масштабы прямог ) и обратного токов получа!отея не в результате усиления ламп Л и,7з, а вследствие различной величины сопротивлений нагрузки R! и Ro вентиля НВ, с которых снимается напряжение на сетки этих ламп. Можно регулировать усиление, заменив сопротивления Л! и Рз потенциомстрами. Переключатели П, и П, и также эталонные сопротивления Рз и Л„ служат для калибровки масштабов токов и напряжет!и!1.

Устройство для испытания полупроводниковых выпрямителей Устройство для испытания полупроводниковых выпрямителей Устройство для испытания полупроводниковых выпрямителей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх