Устройство для измерения величины обратного тока полупроводниковых выпрямительных элементов

 

Мо 114902

Класс 21е, 31

21g 11ю

СССР ь,-г

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Э. Н. Улановский и Е. В, Анурин

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ ОБРАТНОГО ТОКА

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ВЫПРЯМИТЕЛЬНЫХ

ЭЛЕМЕНТОВ заявлено 15 января 1958 г, за Яе 589933 в Комитет по дслам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

При массовой сортировке полупроводниковых выпрямительных элементов (в частности селеновых) необходима защита от перегрузки приборов, измеряющих обратный ток, вследствие того, что неизбежно наличие отдельных элементов с пониженным обратным сопротивлением или даже закороченных. Обычно такая защита производится с помощью реле, отключающего защищаемый прибор в случае протекания слишком большого тока. Однако при срабатывании реле защиты прибор. перестает действовать, и нет возможности определить характер дефекта элемента (пониженное обратное сопротивление вследствие недоформовки элемента или его короткое замыкание) и, следовательно, установить способ устранения этого дефекта (дополнительную формовку или раскорачивание элемента).

Предлагаемое устройство для измерения обратного тока полупроводниковых выпрямительных элементов, содержащее, как и известные устройства, максимальное реле защиты амперметра от перегрузки и вольтметр для контроля входного напряжения и определения характера дефекта испытуемого элемента раоотает, с мощными источниками измерительнсгo напряжения, имеюгцпми малое выходное сопротивление, и тем самым обеспечивает высокую точность измерения

Особенность этого устройства заключается в том, что нормально разомкнутый контакт указанного максимального реле подключен к точке соединения вольтметра с его добавочным сопротивлением и при срабатывании реле присоединяет вольтметр к испытуемому элементу, На чертеже, изображающим принципиальную электрическую схему предлагаемого устройства, обозначено: Р— максимальное реле, ик Л— амперметр,  — вольтметр, P — добавочное сопротивление, 0 — испытуемый элемент.

¹ 114902

Предмет изобретения

Устройство для измерения величины обратного тока полупроводниковых выпрямительных элементов, содержащее максимальное реле для защиты амперметра и вольтметр для контроля входного напряжения и определения характера дефекта испытуемого элемента, о т л и ч а ющ е е с я тем, что,:с целью повышения точности измерения путем использования источников измерительного напряжения с малым выходным сопротивлением, нормально разомкнутый контакт максимального реле подключен к точке соединения вольтметра с его добавочным сопротивлением и при срабатывании реле присоединяет вольтметр к испытуемому элементу.

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Редактор В А. Иванов

Поди. к печ. 23.Х-58 г.

Тираж !800 Цена 25 коп.

СССР

Информационно-издательский отдел.

Объем 0,17 и. л Зак. 4408

Типографии Комитета по делам изобретений и открытий при Соьете Мипистров

* Москва, Петровка, 14

Если обратный ток испытуемого элемента U,меньше, чем допустимый ток амперметра, то он течет через последний. В тех случаях, когда этот ток превышает допустимую для амперметра величину, реле Р срабатывает, и ток измеряемого элемента проходит не через защищаемый амперметр мкА; а через сопротивление R вольтметра. Вольтметр В измеряет непосредственно напряжение на элементе U так, что по показаниям вольтметра определяют характер дефекта элемента и способы его устранения. Установка реле P должна быть такой, чтобы оно срабатывало при токе, в 1,5 раза превышающем максимальное значение тока на шкале защищаемого амперметра и отпускало при токе, превышающем это значение на 10-20 4.

Устройство для измерения величины обратного тока полупроводниковых выпрямительных элементов Устройство для измерения величины обратного тока полупроводниковых выпрямительных элементов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх