flO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТЙРЬП ИЙ (21) 3394086/25-28 (22) 12.02.82 (46) 23.05,83. Бюл. И 19 . (72) П,И,Денисов, В,А;Некит, A.Ã.Èåä" ведев, И.Г.Поляков, Н.K.×åðíîâ., В,С,Хозиков, К.H.TèNîàåíêî и В,А.Петров ,(53) 531.717.27(088.8) (56) 1, Шнейдерович Р,И,, Левин О,А, Измерение полей пластических деформаций методом муара. И., "Машиностроение",,1972, с. 4-5.

2. Авторское свидетельство СССР

Г 544862, xn. G 01 В 9/08, 17Л2.75 (прототип).. (54) (57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ

НЕПЛОСКОСТНОСТИ ХОЛОДНОКАТАНОЙ ПОЛО"

СЫ, .содержащее линейный растр, располагаемый .над исследуемой поверхностью холоднокатаной полосы, и источник света, отличающееся тем, что, с целью повышения .точности и производительности определения, 1

„„Я0„„1019238 оно снабжено дополнительным линейным растром, расположенным в плоскости основного, растра смежно с ним и имеющим шаг, меньший шага основного растра, а источник света имеет прямоугольную форму, расположен большей стороной параллельно линиям растров и имеет размеры, определяемые зависимостями где а - шаг дополнительного растра;

h - расстояние от источника света до исследуемоя поверхности;

1 - расстояние от растров до.исследуемой поверхности;

В - длина волны неплоскостности; к - кривизна исследуемой поверхности. ширина

eb ширина Ъ < -ф "

101

Изобретение. относится к контрольно-измерительной технике, используемой в металлургической промышленности, и может быть использовано, в частности, для определения неплос" костности поверхности, например, холоднокатаной полосы.

Известно устройство для опреде". ления неплоскостности поверхности, основанное на методе муара и содержащее осветитель, растр, конденсатор и систему зеркал для раздвоения растра на исследуемую поверхность под разными углами 1 1 1.

Недостатками устройства являются недостаточно высокие точность и производительность определения, Наиболее близким к изобретению по технической сущности является уст-. ройство для определения неплоско" стности холоднокатаной.полосы, содержащее линейный растр, располагаемый над исследуемой поверхностью холоднокатаной полосы, и источник света, Иуаровые полосы, по которым судят о форме поверхности, .возникают в результате механической интерференции растра и его теневого изображения на исследуемой поверхности 2 ).

Недостатками известного устройства являются большая трудоемкость определения неплоскостности и ограниченная точность, обусловленные тем, что при большом количестве муаровых полос, по которому судят о величине неплоскостности, затруд" нителен подсчет .их числа.

Целью изобретения является повы-. шение точности и производительности определения неплоскостности, Поставленная цель достигается тем, что устройство для определения неплоскостности холоднокатаной полосы, содержащее линейный растр, располагаемый над исследуемой поверхностью холоднокатаной полосы, и источник света, .снабжено дополнитель ным линейным растром, расположенным в плоскости основного растра смежно с ним и имеющим шаг,. меньший шага основного растра, а источник света имеет прямоугольную форму, расположен большей стороной параллельно линиям растров и имеет размеры, оп.ределяемые зависимостями

9238 длина 1, >

8 (ъ+ R) Р где а - шаг дополнительного растра;

h - расстояние от источника:света до исследуемой поверхности

1 - расстояни е от растров до исследуемой поверхности;

В - длина волны неплоскостности;

Й - кривизна исследуемой поверхнооти.

На фиг. 1 изображена оптическая схема устройства для определения неплоскостности холоднокатаной полосы; на фиг. 2 - схема, поясня" ющая условие, ограничивающее ширину источника света; на фиг. 3схема, поясняющая связь между длиной источника света и размером участка полосы с высокой поверхностной яркостью; на фиг. 4 - схема к выводу условия, ограничивающего минимальную длину источника света.

Устройство для определения неплоскостности холоднокатаной полосы состоит из линейного. растра 1 фиг.1)

1 расположенного над исследуемой поверхностью 2. В плоскости основного линейного растра смежно с ним распо30 лагается дбполнительный линейный растр 3 с шагом, меньшим шага основного линейного растра 1. Источник

4 света имеет прямоугольную форму и расположен большей стороной параллельно линиям растра 3, кроме того, размеры источника 4 света определя-. ,ются следующими зависимостями

Ь<вЂ”

clb

49 длина „ 8 + р где а - шаг дополнительного растра, h " расстояние от источника света до исследуемой поверхно45 сти.

1 - расстояние от растров до исследуемой поверхности;

В - кривизна исследуемой поверхности;

В - длина волны неплоскостности, Определение неплоскостности с помощью предлагаемого устройства производят следующим образом.

Основной линейный растр 1 (фиг.1)

55 устанавливают над;исследуемой поверхностью 2. В плоскости растра 1 смежно с ним располагается дополнительный линейный растр 3 с шагом, 3 10 1 92 38 4 ,меньшим. шага основного линейного ра- .:муаровых картин. Если исследуемая стра 1. Растры 1 и 3 освещают ис- - поверхность освещена беэ бликов, то точником 4 света, l10 форме и коли-. вся поверхность имеет одинаковый урочеству муаровых полос визуально су- вень освещенности. На таком фоне мудят а неплоскостности. и характере 5 аровые полосы легко преобразуются в ее распространения по исследуемой : электрический сигнал без дополниповерхности 2, тельных .погрешностей, снижается на"., Контрастность муаровой картины . грузка на зрение при визуальном конполучается высокой, если получено троле, достаточно резкое теневое изображе- 10 .Источник . света укаэанных выше разние растра 3:на исследуемой поверх- . меров может быть получен. путем освещенасти 2. Теневое иэображение. получа- ния щели заданных размеров и закрыется резким, если смещение одной - той матовым стеклом. системы теневых изображений (от точ- .. Повышение точности измерения доки А, фиг. 2) относительно другой 5 стигается в результате применения .системы полос (от точки В, фиг. 2) дополнительного линейного растра с не превышает как максимум 1/4 шага меньшим шагом, что позволяет полу.растра 3, Иэ этого условия и полу- . чить муаровую картину с меньшей цечается ограничение на ширину 0 (от- . ной деления муаровой полосы. Цена резок A9} источника 4 света, а имен- деления уменьшается ео- столько раз., но во сколько раз уменьшается шаг дополнительного растра 3 по-сравнению шиРина . Ь М - с основным Растром 1. Снижение тру

49 где а - шаг дополнительного растра.; доемкости измерения неплоскостности

h - расстояние от источника све-. достигается в результате расположеS та до исследуемой поверхно- ния дополнительного линейного растсти . ра 3 смежно с основным линейным ра"

1 - расстояние от растров до ис- стром 1.- При этом подсчитывается не следуемой поверхности; . общее число полос, получаемое с помоЕсли источник 4 света расположен щью дополнительного растра 3, а чис. 30 параллельно линиям растров 1 и 3, - ло полос, получаемое с.помощью осто:его длина не влияет на контраст- . новного растра 1 плюс число полос ность муаровой картины-, " дополнительного растра 3, получаОднако, если длина. источника 4 емого между крайними (неполные десвета мала по сравнению с длиной : ления) муаровыми полосами. волны неппоскостностй, то на полосе

I °

{фиг.. 3) имеются. участки с разными . Преимущество предлагаемого устуовиям отражения света: более яр- р и а жред известным, „ит кий .участок СД, размеры которого -, в том; что дополнение известного

- определяются рвэмерамм источника 4, вЂ” устройства растрам, расположенным

46. света, и-менее яркая остальная часть. смежно с основным растром, позволяИз r. 4 следует, что длина L (от- ет повысить производительность измерезок АС):, источнйка 4 света, при ко- - рения неплоскостнасти при одновреторой исследуемая поверхность равно- менном снижении трудоемкости измемерно освещается, определяется из рения. форма, размеры и расположесоотношения ., ние. источника -света, определяемые

45 пегом и Оаспопоиейием допопиитепьЯ,. . -ного растра, позволяют повысить конгде В -. длина волны неплоскостности; трастность муаровой картины и полуR - .кривизна исследуемой поверх- чить равномерную освещенность исслености,, - : - 50 дуемой поверхности, При произвольной

Участки исследуемой поверхности форме и размерах светящегося элеменс разными условиями освещенности, та источника света не удается полу-. при освещении коротким источником чить контрастную муаровую картину света имеют уровни освещенности, . при удалении. растра от исследуемой

- отличающиеся один от другого в не- 55 поверхности на 10-15 мм и вага растсколько или. даже несколько десятков ра 0,2 мм. С помощью предлагаемого раэ, что является серьезной пробле- устройства, источник света которого мой при автоматической дешифровке . имеет определенные размеры, удается

% 1019238 6 легко получить достаточно качествен- ние растра на расстоянии свыше 10 мм нуе муаровую картину при удалении приобретает большое значение, порастра от исследуемой поверхности на скольку это предохраняет растр от порасстояние 15 и даже 49 мм, При оп- вреждения при биениях полосы и повыределении неплоакостности движущей- з шает условия техники безопасности ся прокатываемой полосы расположе- при работе на стане.

3019238

Составитель Б.Лобзова

Редактор Т.Кугрышева Техред С.йигунова Корректор Е,Рошко

Ю ВЮО ° ЮВ

Заказ 368б/33 Тираж 602 . Подлисное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий л

i)3035, Иосква, И-35, Рауаская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Уагород, ул. Проектная, 4

Устройство для определения неплоскостности холоднокатаной полосы

Оптический способ измерения высоты шероховатости поверхности объекта // 1004755

Рефлектометр для измерения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей // 987381

Прибор для контроля качества поверхности детали // 983455

Интенферометр для контроля прямолинейности и плоскостности поверхности объекта // 980507

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборостроительной и машиностроительной отраслях промышленности для бесконтактного контроля прямолинейности и плоскостности поверхности объекта пластин для плоских зеркал и дифракционных решеток, установочных плит, направляющих и линеек большой длины

Устройство для контроля отклонений точек объектов от прямолинейности // 977949

Способ оптической регистрации рельефа // 970102

Устройство для контроля качества поверхности деталей // 951070

Устройство для измерения прямолинейности поверхностей // 949336

Способ измерения шероховатости поверхности // 945652

Устройство для определения качества поверхности // 2104480

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Способ исследования оптического диска оригинала и устройство для его осуществления // 2107893

Устройство для измерения шероховатости и волнистости поверхности при фиксированных значениях базовой длины // 2116616

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Устройство для измерения поверхностных характеристик // 2124701

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Способ и устройство для высокоточного бесконтактного измерения расстояний поверхностей // 2148790

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Способ контроля параметров наружной резьбы и устройство для его осуществления // 2151999

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Способ контроля параметров внутренней резьбы и устройство для его осуществления // 2152000

Способ детектирования положения линии сгиба на упаковочном полотне и устройство для его осуществления // 2153160

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Устройство для определения шероховатости поверхности // 2156437

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Устройство для контроля шероховатости поверхности изделия // 2156955

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия