Устройство для получения эпитаксиальных слоев нитрида алюминия на карбидокремниевой подложке

 

Полезная модель относится к устройствам для получения пленок полупроводниковых материалов и предназначено, в частности, для производства оптоэлектронных полупроводниковых приборов, работающих в коротковолновой области спектра излучения при высокой температуре и в агрессивных средах. Отличительные особенности устройства заключены в том, что ростовые тигли изготовлены из AlN, что позволяет вообще не использовать засыпку для эпитаксии, так как материал тигля сам является источником паров AlN для эпитаксии. При этом ростовые тигли, в которых производится эпитаксия AlN на подложку из карбида кремния SiC, изготавливают путем спекания при высокой температуре в среде азота спрессованного порошкообразного AlN высокой чистоты. Расстояние порядка 2÷3 мм между крышкой и дном тигля с установленными на нем подложками SiC позволяет создать равномерное распределение температуры от края тигля к его центру, а также малый градиент концентрации паров AlN в объеме тигля, что улучшает структуру получаемых слоев. Технологический режим проводится в обратном градиенте температур, т.е температура дна тигля преобладает над температурой крышки, что позволяет не крепить подложки на крышке, а просто уложить их на дно тигля. Данный способ позволяет использовать для проведения процесса эпитаксии одновременно до 10 тиглей с большим (до 20÷30) количеством карбидокремниевых подложек, что увеличивает выход готовой продукции за один технологический цикл. При этом ростовые тигли устанавливают соосно, образуя набор из ростовых и компенсационных тиглей, причем выточка на дне одного тигля входит в горловину размещенного под ним тигля, т.е дно одного тигля является одновременно крышкой другого тигля. Тем самым обеспечивается уплотнение, препятствующее утечке паров AlN из тигля. Набор тиглей, в свою очередь, устанавливают в графитовый контейнер, причем компенсационные тигли, выполненные также из графита, засыпаны гранулами из AlN. Назначение компенсационных тиглей - восполнение утечки паров, образуемой между корпусом и крышкой ростовых тиглей. При этом создаваемые в компенсационных тиглях пары AlN сосредотачиваются в зазоре между тиглями и контейнером и проникают в полость ростовых тиглей, компенсируя возможное снижение концентрации паров внутри тигля. Компенсационные тигли по размерам выше ростовых.

Полезная модель относится к устройствам для получения пленок полупроводниковых материалов и предназначено, в частности, для производства оптоэлектронных полупроводниковых приборов, работающих в коротковолновой области спектра излучения при высокой температуре и в агрессивных средах.

Известен ростовый тигель для эпитаксии слоев карбида кремния по патенту RU 2324019, который по своим конструктивным признакам можно выбрать в качестве прототипа. Тигель состоит из графитового корпуса, закрываемый крышкой. Крышка снабжена пьедесталом, на котором закреплена затравка монокристалла (подложка). В корпусе тигля находится засыпка - источник паров карбида кремния (SiC).

Недостатками тигля являются:

- подложку, на которой получают эпитаксиальные слои, необходимо крепить на крышке тигля;

- невозможность одновременного проведения эпитаксии на большом количестве подложек;

- низкий выход эпитаксиальных слоев с совершенной структурой;

- большой разброс электрофизических параметров получаемых слоев;

- трудность обеспечения герметизации тигля в реальных ростовых процессах и связанное с этим утечка паров источника через щели между крышкой тигля и его стенками.

Техническая задача, решаемая с помощью предлагаемой полезной модели, заключается в увеличении количества подложек с эпитаксиальным слоем нитрида алюминия (AlN), получаемых за один технологический цикл и улучшение структуры формируемых слоев.

Для реализации поставленной решаются задачи:

- ростовые тигли изготавливаются из AlN путем спекания спрессованного порошкообразного AlN высокой чистоты в среде азота при заданной температуре, что позволяет вообще не использовать засыпку для эпитаксии, так как материал тигля сам является источником паров AlN для эпитаксии;

- расстояние порядка 2÷3 мм между крышкой и дном тигля с установленными на нем подложками SiC позволяет создать равномерное распределение температуры от края тигля к его центру, а также малый градиент концентрации паров AlN в объеме тигля, что улучшает структуру получаемых слоев;

- технологический режим проводится в обратном градиенте температур, т.е. температура дна тигля преобладает над температурой крышки, что позволяет не крепить подложки на крышке, а просто уложить их на дно тигля;

- данный способ позволяет использовать для проведения процесса эпитаксии одновременно до 10 тиглей с большим (до 20÷30) количеством карбидокремниевых подложек, полученных методом Лели, что увеличивает выход готовой продукции за один технологический цикл;

- тигли устанавливают соосно, образуя набор из ростовых и компенсационных тиглей, причем выточка на дне одного тигля входит в горловину размещенного под ним тигля, т.е дно одного тигля является одновременно крышкой другого тигля, обеспечивая тем самым уплотнение, препятствующее утечке паров AlN;

- набор тиглей устанавливают в графитовый контейнер, причем компенсационные тигли, выполненные из графита, по размерам выше ростовых;

- для восполнения утечки паров источника, происходящего между корпусом и крышкой ростовых тиглей, компенсационные тигли засыпаны гранулами из AlN и возникающие пары AlN сосредотачиваются в зазоре между тиглями и контейнером и проникают в полость ростовых тиглей, компенсируя возможное снижение концентрации паров внутри них.

Конструкция устройства приведено на фигуре.

В корпусе 1 контейнера соосно установлен набор из ростовых 2 и компенсационных 3 тиглей. Между набором тиглей и контейнером предусмотрен зазор 4. Контейнер снабжен крышкой 5. Дно каждого тигля снабжено выточкой 6, которое плотно входит в горловину 7 стыкуемого с ним тигля, т.е сопрягаемы. На дне ростовых тиглей установлены SiC подложки 8, а в компенсационные тигли засыпаны гранулы 9 нитрида алюминия.

Устройство работает следующим образом:

На дне каждого ростового тигля 2 устанавливают несколько SiC подложек 8 а в компенсационные тигли 3 засыпают гранулы 9 нитрида алюминия. После этого ростовые и компенсационные тигли собирают в набор так, чтобы выточка 6 на дне одного тигля входила в горловину 7 стыкуемого с ним тигля. После этого набор устанавливают в графитовый контейнер 1, закрывают крышкой 5, помещают в вакуумную камеру и производят выращивание кристалла в газовой среде, создав в ней необходимые условия для роста AlN. После выращивания монокристалла контейнер извлекают из вакуумной камеры, открывают крышку 5, разбирают тигли и снимают подложки с выращенным монокристаллическим слоем. Далее полученные кристаллы калибруются, нарезаются на пластины и механически полируются.

1. Устройство для получения эпитаксиальных слоев нитрида алюминия на карбидокремниевой подложке, включающее тигель, карбидокремниевую подложку, гранулы нитрида алюминия, отличающееся тем, что тигли установлены друг на друге и составляют набор, который помещен с зазором внутри графитового контейнера с крышкой.

2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что в состав набора входят ростовые тигли, изготовленные из нитрида алюминия и компенсационные тигли из графита, причем компенсационные тигли заполнены гранулами нитрида алюминия, а на дне ростовых тиглей установлены карбидокремниевые подложки.

3. Устройство по пп.1 и 2, отличающееся тем, что донья тиглей выполнены с выточками, сопрягаемыми с их горловинами.



 

Похожие патенты:

Многослойная GaAs - эпитаксиальная структура для быстродействующих, высоковольтных, высокотемпературных кристаллов диодов, которые предназначены для изготовления быстродействующих, высоковольтных, высокотемпературных диодов широкого применения. Технической задачей предложенной полезной модели является создание многослойных эпитаксиальных структур на основе CaAs, обеспечивающих изготовление кристаллов быстродействующих, высоковольтных, высокотемпературных диодов с низким уровнем обратного тока и «резкой» характеристикой лавинного пробоя в рабочем диапазоне температур для использования в преобразовательной технике, импульсных источниках питания и других устройствах быстродействующей электроники.
Наверх