Устройство для измерения крутизны характеристики полевых транзисторов в импульсном режиме

 

Союз Советеник

Социапистическик

Республик

К АВТОРСКРМУ СВИДЕПЛЬСтву (61) Дополнительное к asr. свид-ву (22) Заявлено 08. 08. 80 (21) 23744 у18-21 с присоединением заявки М (23) Приоритет

G 01 R 31/26

Гоеударстваииый квиитвт

CCCP ио авлаи иаабрвтвиий и открытий

{53 Э YAK 621.382. .3 (088.8) Опубликовано 39.04.82 бюллетень М 16

Дата опубликования описания 30.04. 82 ь ь (72) Авторы изобретения

А-.Ю.Бингелис, С.А.Клебанский и И.Л.Шпака (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗИЕРЕНИЯ КРУТИЗНЫ

ХАРАКТЕРИСТИКИ ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВ

В ИМПУЛЬСНОМ РЕЖИИЕ

Изобретение относится к техничес кой физике и может быть использованов в автоматизированных измерителях параметров полевых транзисторов, в испытателях параметров полевых транзисторов.

Известно устройство для измерения крутизны характеристики полевых транзисторов в импульсном режиме, которое содержит источник постоянного напряжения, источник импульсного напряжения, импульсный трансформатор тока, операционный усилитель

Импульсный трансформатор тока в этом устройстве включен в истоковую цепь, что не позволяет измерять большие значения крутизны характеристик из-за влияния отрицательной обратной связи в измерительной схеме. При больших значениях импульсного тока стока импульсный трансформатор тока входит в режим насыцения, что уве" личивает погрешность измерения крутизны вследствие изменения коэффициента трансформации и влияния пе" реходных процессов.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является устройство для измерения крутизны характеристики полевых транзисторов в импульсном режиме, которое содержит генератор и источник напряже- ния затвора, раздельно соединенные с затвором исследуемого транзистора, в цепи стока которого включен им г. пульсный трансформатор тока, и источник напряжения стока. Выход им" пульсного трансформатора тока соединен с измерителем переменного на" пряжения 12).

Недостатком известного устройства является ограниченный двипаэон измеряемой крутизны из-за насыще-: ния импульсного трансформатора тома при больших токах стока. Переходный процесс, происходящий в импульсном трансформаторе тока при больших токах стока, значительно увеличивает

92463 погрешность измерения крутизны ха-рактеристики.

Цель изобретения - увеличение точности и расширение пределов измерения.

Указанная цель достигается за счет того, что в устройство для измерения крутизны характеристики по- левых транзисторов а импульсном режиме, содержащее генератор переменного напряжения, выход которого соединен с источником напряжения затвора и с клеммой для подключения затвора исследуемого полевого транзис-, тора, импульсный источник напряжения стока, один выход которого соединен с клеммой для подключения стока исследуемого полевого транзистора, а клемма для подключения истока ис" следуемого полевого транзистора сое20 динена с общей шиной, измерительныи блок, введены элемент задержки, формирователь импульсов, резистор нагрузки, блок памяти и сумматор, причем второй выход импульсного источ25 ника напряжения стока соединен с входом элемента задержки и с первым входом формирователя импульсов, второй вход которого соединен с выходом элемента задержки, выход формирователя импульсов соединен с управляющим входом генератора переменного напряжения и управляющим входом блока памяти, выход которого соединен с первым входом сумматора, выход которого соединен с входом измерительного блока, а второй вход сумматора через резистор нагрузки соединен с клеммой для подключения истока исследуемого полевого транзистора и .с третьим выходом импульсного источника напряжения стока.

На фиг.1 приведена структурная схема предлагаемого устройства;. на фиг.2 - эпюры, пояснякщие работу предлагаемого устройства.

Устройство содержит генератор 1 переменного напряжения, источник 2 напряжения затвора, исследуемый транзистор 3, импульсный источник 4 напряжения стока, измеритель переменного напряжения, формирователь 6 задержанных импульсов, элемент 7 задержки, резистор 8 нагрузки, сумматор 9, блок 10..памяти и клеммы 11

13 для подключения исследуемого тран-55 зистора.

Устройство работает следующим образом.

6 ф

Импульс напряжения, равный по дли. тельности импульсу напряжения стока с маломощного выхода импульсного источника 4 напряжения стока U поступает на вход формирователя 6 задержанных импульсов прямо и через элемент 7 задержки. Передний фронт импульса на входе генератора 1 задержан на время t <- t „ относительно переднего фронта импульса на входе элемента 7. Импульс напряжения, формируемый формирователем 6 задержанных импульсов, управляет напряжением генератора 1 и временем запоминания блока 10 памяти. В момент времени на резисторе 8 нагрузки появляется отрицательное напряжение с амплитудой 0, а на выходе блока 10 памяти появляется положительное напряжение также с амплитудой Uy,. В момент времени и генератор 1 начинает генерировать периодическое напряжение, которое поступает на затвор исследуемого транзистора 3. а блок 10 памяти

1 запоминает напряжение U и держит его до момента времени t . В этот же момент времени й,? на резйсторе 8. появляется периодическое напряжение.

Напряжения с резистора 8 нагрузки и с выхода блока 10 памяти поступает на сумматор 11, на выходе которого получается периодическое напряжение U ?

U = Uр- S- R, (1) где ОГ - периодическое напряжение на выходе генератора 1;

S — - крутизна характеристики;

R H - величина сопротивления ре" зистора 8 нагрузки.

Периодическое напряжение Uq на выходе сумматора 1 I, прямо пропорциональное крутизне характеристики, поступает на измеритель 5 переменного напряжения.

Положительный эффект достигается за счет того, что выделение переменной составляющей тока стока происходит с большой точностью и в широких пределах измеряемой крутйзны характеристики в импульсном режиме.

Формула изобретения

Устройство для измерения крутизны характеристики полевых транзисторов в импульсНом режиме, содержащее генератор переменного напряжения, выход которого соединен с источником

924636 напряжения затвора и с клеммой для подключения затвора исследуемого полевого транзистора, импульсный источник напряжения стока, один выход которого соединен с клеммой для подключения стока исследуемого полевого транзистора, а клемма для подключения истока исследуемого полевого транзистора соединена с общей шиной, измерительный блок, о т л и " ч а ю щ е е с я тем, что, с целью увеличения точности и расширения пределов измерения, в него введены элемент задержки, формирователь импульсов, резистор нагрузки,. блок памяти и сумматор, причем второй выход импульсного источника напряжения о стока соединен с входом элемента за держки, и с первым входом формирователя импульсов, второй вход которого соединен с выходом элемента задержки, выход формирователя импульсов соединен с управляющим входом генератора переменного напряжения и управляющим входом блока ьамяти, вы ход которого соединен с первым вхо5 дом сумматора, выход которого соединен с входом измерительного блока, а второй вход .сумматора через резис". тор нагрузки соединен с клеммой для подключения истока исследуемого поле30 coro транзистора и с третьим выходом импульсного источника напряжения стока.

Источники информации, 15 принятые во внимание при экспертизе

1. Измеритель статических параметров полевых транзисторов Л2-46.

Техническое описание и инструкция по эксплуатации 1.400.119. TO 1975 °

2о 2. Транзисторы полевые. Метод измерения крутизны характеристики в импульсном режиме. 0СТ 11 336.025-76, 924636

Составитель Н.Ц1иянов

Редактор В.Петраш Техред С. Мигунова Корректор H.швыдкая

Заказ 2810/63 Тираж 719 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113935, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5 филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для измерения крутизны характеристики полевых транзисторов в импульсном режиме Устройство для измерения крутизны характеристики полевых транзисторов в импульсном режиме Устройство для измерения крутизны характеристики полевых транзисторов в импульсном режиме Устройство для измерения крутизны характеристики полевых транзисторов в импульсном режиме 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области электронной техники, в частности, к неразрушающим методам контроля полупроводниковых приборов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх